【技术实现步骤摘要】
校准管理的系统与管理校准的方法
[0001]本公开的实施例总体上涉及用于校准管理的系统。此外,本公开的实施例还涉及管理测量仪器(measurement instrument)的校准的方法。
技术介绍
[0002]电子器件典型地借助于测量仪器进行测试,为了确保被测器件的正确测试,这些测量仪器必须被校准。
[0003]众所周知,在现有技术中,需要定期检查相应的测量仪器,因为测量仪器必须经过所谓的维护检查(service check),这种检查是由熟练技术人员在工厂进行的。维护检查与维护间隔相关联。
[0004]除了维护检查之外,还需要校准用于现场(即在测量仪器的用户的处所)测试被测器件的测量仪器。因此,相应的测量仪器在其测试位置进行校准,因而会将该位置处的相应环境条件考虑在内。典型地,这些校准(区别于在维护间隔期间进行的维护检查)也是预定且固定的,例如每三天的某个时间点,或者更确切地说,在定义的时间段内,诸如每周。
[0005]然而,预定且固定的时间间隔没有考虑到测量仪器的有效使用率,这会对校准状态产生影 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种用于校准管理的系统,所述系统包括:至少一个测量仪器,用于测试被测器件;和监视设备,其中所述监视设备与所述测量仪器连接,其中所述监视设备在测试期间收集来自所述测量仪器的参数,其中所述监视设备基于收集到的参数而创建校准廓线,其指示所述测量仪器的校准状态,并且其中,所述系统包括界面,经由所述界面,输出基于校准廓线的信息,其指示所述测量仪器的新校准是否有必要。2.根据权利要求1所述的系统,其中,所述系统是校准管理系统,所述校准管理系统被配置为管理所述测量仪器的校准。3.根据权利要求1或2所述的系统,其中,至少一个环境参数在创建所述校准廓线时也被考虑在内,并且其中所述至少一个环境参数包括环境温度和环境湿度中的至少一个。4.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其中,收集到的参数包括以下中的至少一个:来自测量的不确定度、对金标准的检查、IEEE 370中定义的参数、与连接到所述测量仪器的组件的运动相关联的参数、与所述测量仪器的运动相关联的参数、通电和断电周期、空闲时间、使用时间、预期寿命、自对准的失败次数以及所述测量仪器的温度廓线。5.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其中,所述参数的趋势和统计数据中的至少一个在创建所述校准廓线时被考虑在内。6.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其中,所述校准廓线是基于用于获得所述参数的各种不同方法来创建的。7.根据前述权利要求中任一项所述的系统,其中,所述监视设备将创建的校准廓线对照与所述校准廓线相关联的裕度检查。8.根据权利要求7所述的系统,其中,所述监视设备被配置为:在将所述创建的校准廓线对照所述裕度检查时,确定所述校准的紧迫性。9.根据权利要求7或8所述的系统,其中,所述监视设备被配置为:在将所述创建的校准廓线对照...
【专利技术属性】
技术研发人员:凯乌维,
申请(专利权)人:罗德施瓦兹两合股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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