一种电流测量电路及电流测量装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种电流测量电路及电流测量装置，该电路中，第一运算放大器的同相输入端连接被测元器件，反相输入端和输出端之间连接第一电阻，输出端经第二电阻连接第二运算放大器的反相输入端；第二运算放大器的同相输入端接地，反相输入端与输出端之间连接第三电阻，输出端经第四电阻连接第三运算放大器的反相输入端；第三运算放大器的同相输入端接地，反相输入端与输出端之间连接第五电阻，输出端连接电压测量单元VM；至少一组负反馈电阻电路的一个公共端连接被测元器件，另一个公共端经第六电阻连接第四电阻和第五电阻的公共端；电流驱动电路一端连接被测元器件，另一端连接至少一组负反馈电阻电路与第六电阻的公共端。电路测量精确度高。路测量精确度高。路测量精确度高。

【技术实现步骤摘要】
一种电流测量电路及电流测量装置


[0001]本技术涉及电子
，特别涉及一种电流测量电路及电流测量装置。

技术介绍

[0002]随着晶体管的发展，各式半导体器件包括光电耦合器正在被大量使用，使得集成电路在各个领域的应用越来越广泛。在光电耦合器生产时，需要保证各类元器件的可靠性，需要对其晶体管元件包括二极管和三极管进行测试，以保证其性能正常。在测试时，通常需要测量二极管的击穿电流，而在测试光电耦合器输出为集电极开路时，经常需要测试三极管的集电极和发射级之间的击穿电流，在测量二极管的击穿电流和/或三极管的击穿电流时通常采用晶体管图示仪。本技术实施例中，为了便于描述可以将二极管的阳极和三极管的发射极称为被测元器件，并将二极管的阴极和三极管的集电极称为为晶体管的第二极。

技术实现思路

[0003]专利技术人发现，常规的晶体管图示仪，为了保证测量的精准度，电路设计非常复杂，设备体积大，成本高昂，而普通的电流测量装置的电流测试能力差，其测试精度无法达到晶体管型的电子元器件的测量精度要求，不能实现电流准确、有效测量。鉴于上述问题，提出了本技术本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电流测量电路，其特征在于，包括：第一运算放大器、第二运算放大器、第三运算放大器、电流驱动电路和至少一组负反馈电阻电路；所述第一运算放大器的同相输入端连接被测元器件，所述第一运算放大器的反相输入端和输出端之间连接第一电阻，所述第一运算放大器的输出端经第二电阻连接所述第二运算放大器的反相输入端；所述第二运算放大器的同相输入端接地，所述第二运算放大器的反相输入端与输出端之间连接第三电阻，所述第二运算放大器的输出端经第四电阻连接所述第三运算放大器的反相输入端；所述第三运算放大器的同相输入端接地；所述第三运算放大器的反相输入端与输出端之间连接第五电阻，所述第三运算放大器的输出端连接电压测量单元VM；所述至少一组负反馈电阻电路的一个公共端连接所述被测元器件，另一个公共端经第六电阻连接所述第四电阻和第五电阻的公共端；所述电流驱动电路一端连接所述被测元器件，另一端连接所述至少一组负反馈电阻电路与所述第六电阻的公共端。2.如权利要求1所述的电流测量电路，其特征在于，所述电流驱动电路包括第四运算放大器、第一三极管、第二三极管、第三三极管和第四三极管；所述第四运算放大器的同相输入端经第七电阻接地，所述第四运算放大器的反相输入端经第八电阻连接所述被测元器件，所述第四运算放大器的同相输入端和反相输入端虚短连接，所述第四运算放大器的输出端分别连接所述第一三极管、第二三极管、第三三极管和第四三极管的基极，所述第一三极管和第二三极管的集电极连接正向电压输入端，所述第三三极管和第四三极管的集电极连接负向电压输入端，所述第一三极管、第二三极管、第...

【专利技术属性】
技术研发人员：南浩，乔晖，梁鹏程，孟德明，
申请(专利权)人：北京励芯泰思特测试技术有限公司，
类型：新型
国别省市：