本发明专利技术的目的在于，在将磁场检测装置呈阵列状排列的情况下使磁场检测装置的个数和布局的变更变得容易。磁场检测装置(1)包括：卷绕于绕线架(10)的消除线圈(C2)；固定于绕线架(10)、从与轴向垂直的方向覆盖消除线圈(C2)的罩盖部件(100)；和固定于绕线架(10)或罩盖部件(100)的磁传感器(S21～S24)。罩盖部件(100)具有沿z轴方向延伸且彼此位于相反侧的侧面(110、120)。在侧面(110、120)分别设置有第一和第二卡合部，第一卡合部的形状是能够与第二卡合部的形状卡合的形状。由此，能够排列任意个数的磁场检测装置。数的磁场检测装置。数的磁场检测装置。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】磁场检测装置和磁场检测装置阵列
[0001]本专利技术涉及磁场检测装置，特别涉及能够呈阵列状排列的磁场检测装置。
技术介绍
[0002]在专利文献1的图12中，公开有能够通过将多个磁场检测装置排列成阵列状来测定面内的磁场分布的磁场检测装置阵列。现有技术文献专利文献
[0003]专利文献1：日本特开2017
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133993号公报
技术实现思路
专利技术所要解决的问题
[0004]但是，在专利文献1的图12中记载的磁场检测装置阵列中，磁场检测装置的个数和布局的变更很不容易。
[0005]因此，本专利技术的目的在于在将磁场检测装置排列成阵列状的情况下使磁场检测装置的个数和布局的变更变得容易。用于解决问题的方式
[0006]本专利技术的磁场检测装置的特征在于，包括：绕线架；卷绕于绕线架的消除线圈；固定于绕线架，从与轴向垂直的方向覆盖消除线圈的罩盖部件；和固定于绕线架或罩盖部件的第一磁传感器，罩盖部件具有沿消除线圈的轴向延伸且彼此位于相反侧的第一和第二侧面，在第一和第二侧面，分别设置有第一和第二卡合部，第一卡合部的形状为能够与第二卡合部的形状卡合的形状。
[0007]根据本专利技术，在从与轴向垂直的方向覆盖消除线圈的罩盖部件设置有第一和第二卡合部，因此能够在与第一和第二侧面正交的第一方向上排列任意个数的磁场检测装置。
[0008]在本专利技术中，也可以为如下结构：罩盖部件具有沿消除线圈的轴向延伸且彼此位于相反侧的第三和第四侧面，在第三和第四侧面分别设置有第三和第四卡合部，第三卡合部的形状为能够与第四卡合部的形状卡合的形状。由此，能够在与第三和第四侧面正交的第二方向上排列任意个数的磁场检测装置。在这种情况下，第一和第二侧面与第三和第四侧面也可以相互正交。由此，能够通过使在第一方向上相邻的2个磁场检测装置的第一和第二卡合部相互卡合，使在第二方向上相邻的2个磁场检测装置的第三和第四卡合部相互卡合，构成呈矩阵状排列有多个磁场检测装置的磁场检测装置阵列。
[0009]在本专利技术中，也可以为如下结构：罩盖部件具有沿消除线圈的轴向延伸且彼此位于相反侧的第五和第六侧面，在第五和第六侧面，分别设置有第五和第六卡合部，第五卡合部的形状是能够与第六卡合部的形状卡合的形状，第一和第二侧面、第三和第四侧面、第五和第六侧面，相互形成60
°
的角。由此，能够通过使在第一方向上相邻的2个磁场检测装置的第一和第二卡合部相互卡合，使在第二方向上相邻的2个磁场检测装置的第三和第四卡合
部相互卡合，使在第三方向上相邻的2个磁场检测装置的第五和第六卡合部相互卡合，构成呈蜂窝状排列有多个磁场检测装置的磁场检测装置阵列。
[0010]本专利技术的磁场检测装置也可以为如下结构，即，包括：固定于绕线架或罩盖部件的第二磁传感器；和通过对应于第二磁传感器的输出信号而在消除线圈流动消除电流，来抵消消除空间的环境磁场的反馈电路，第一磁传感器配置在消除空间内。由此，能够消除地磁等均匀的环境磁场成分。而且，因为对第一和第二磁传感器使用共同的消除线圈，能够削减零件个数，并且能够简化电路结构。
[0011]在本专利技术中，第一和第二磁传感器的感测头中，消除线圈的轴向上的位置也可以相互不同。由此，能够防止信号磁场成分被消除线圈抵消。在这种情况下，绕线架的卷芯部具有在轴向上的一侧开口的第一空腔和在轴向上的另一侧开口的第二空腔，第一磁传感器收纳于第一空腔，第二磁传感器收纳于第二空腔。由此，能够使第一磁传感器与第二磁传感器距离充分地隔开间隔。进一步，在这种情况下，第一磁传感器的感测头也可以从绕线架或罩盖部件向轴向上的一侧突出，第二磁传感器的感测头也可以从绕线架或罩盖部件向轴向上的另一侧突出。由此，能够使测定对象物与第一磁传感器的距离靠近。专利技术的效果
[0012]根据本专利技术，能够在将磁场检测装置排列成阵列状的情况下，容易地进行磁场检测装置的个数和布局的变更。
附图说明
[0013]图1是表示本专利技术的第一实施方式的磁场检测装置1的外观概略立体图。图2是表示罩盖部件100的外观概略立体图。图3是从测定面侧看主体部200时的概略立体图。图4是从背面侧看主体部200时的概略立体图。图5是表示绕线架10的外观概略立体图。图6是表示磁传感器S1、S21～S24的内部结构的一个例子示意图。图7是表示主体部200的电路结构框图。图8是传感器芯片22的概略俯视图。图9是沿着图8所示的A
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A线的概略截面图。图10是包含磁传感器S1、反馈电路31和消除线圈C2的反馈环的电路图。图11是磁传感器S21～S24和检测电路32的电路图。图12是用于说明设置有磁传感器S1、S21～S24的径向位置的示意图。图13是用于说明消除空间40的位置的示意图。图14是表示将2个磁场检测装置1组合得到的磁场检测装置阵列概略立体图。图15是表示将9个磁场检测装置1组合得到的磁场检测装置阵列概略立体图。图16是表示第一变形例的磁场检测装置阵列概略立体图。图17是表示第二变形例的磁场检测装置阵列概略立体图。图18是表示第三变形例的磁场检测装置阵列概略立体图。图19是表示第四变形例的磁场检测装置阵列概略立体图。图20是表示将本专利技术的第二实施方式的磁场检测装置2组合4个而得到的磁场检
测装置阵列概略立体图。图21是表示本专利技术的第三实施方式的磁场检测装置3的外观概略立体图。图22是表示将14个磁场检测装置3组合得到的磁场检测装置阵列概略立体图。
具体实施方式
[0014]以下，参照附图，详细说明本专利技术的优选实施方式。
[0015]图1是表示本专利技术的第一实施方式的磁场检测装置1的外观概略立体图。
[0016]如图1所示，第一实施方式的磁场检测装置1由罩盖部件100和收纳于罩盖部件100的主体部200构成。罩盖部件100的结构如图2所示，具有4个侧面110、120、130、140和上表面150以及下表面160，设置有从上表面150至下表面160在z方向上贯通的收纳部170。主体部200收纳于罩盖部件100的收纳部170。罩盖部件100的侧面110、120构成yz面，彼此位于相反侧。罩盖部件100的侧面130、140构成xz面，彼此位于相反侧。罩盖部件100的上表面150和下表面160构成xy面，彼此位于相反侧。侧面110、120与侧面130、140相互正交，侧面110、120的y方向上的宽度与侧面130、140的x方向上的宽度彼此相同。即，从z方向看罩盖部件100的外形大致为正方形。
[0017]侧面110具有第一部分111、第二部分112和第三部分113。第一部分111被第二部分112和第三部分113在y方向上夹持，与第二和第三部分112、113相比在x方向上更突出。由第一部分111和第二部分112形成的台阶差以及由第一部分111和第三部分113形成的台阶差均沿z方向延伸，构成侧面110的卡合部。
[0018]侧面120具有第一部分121、第二部分122和第三部分123。第一部分121被第二部本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种磁场检测装置，其特征在于，包括：绕线架；卷绕于所述绕线架的消除线圈；固定于所述绕线架，并从与轴向垂直的方向覆盖所述消除线圈的罩盖部件；和固定于所述绕线架或所述罩盖部件的第一磁传感器，所述罩盖部件具有沿所述消除线圈的所述轴向延伸且彼此位于相反侧的第一和第二侧面，在所述第一和第二侧面，分别设置有第一和第二卡合部，所述第一卡合部的形状为能够与所述第二卡合部的形状卡合的形状。2.如权利要求1所述的磁场检测装置，其特征在于：所述罩盖部件具有沿所述消除线圈的轴向延伸且彼此位于相反侧的第三和第四侧面，在所述第三和第四侧面，分别设置有第三和第四卡合部，所述第三卡合部的形状是能够与所述第四卡合部的形状卡合的形状。3.如权利要求2所述的磁场检测装置，其特征在于：所述第一和第二侧面与所述第三和第四侧面相互正交。4.如权利要求2所述的磁场检测装置，其特征在于：所述罩盖部件具有沿所述消除线圈的轴向延伸且彼此位于相反侧的第五和第六侧面，在所述第五和第六侧面，分别设置有第五和第六卡合部，所述第五卡合部的形状是能够与所述第六卡合部的形状卡合的形状，所述第一和第二侧面、所述第三和第四侧面、所述第五和第六侧面，相互形成60
°
的角。5.如权利要求1～4中的任一项所述的磁场检测装置，其特征在于，还包括：固定于所述绕线架或所述罩盖部件的第二磁传感器；和通过对应于所述第二磁传感器的输出信号而在所述消除线圈流动消除电流，来...
【专利技术属性】
技术研发人员：龟野诚，恶七泰树，福井崇人，山地勇一郎，原川修，笠岛多闻，
申请(专利权)人：TDK株式会社，
类型：发明
国别省市：
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