计测装置制造方法及图纸

计测装置具备：第1光源，出射第1出射光；第2光源，出射第2出射光；漫射板；反射镜，使从由所述第1出射光及所述第2出射光构成的组中选择的至少一方的传播方向变化，从而使所述第1出射光及所述第2出射光向所述漫射板的一个区域汇集入射；光检测器，检测由于被所述漫射板漫射后的所述第1出射光而从对象物产生的第1反射光、以及由于被所述漫射板漫射后的所述第2出射光而从所述对象物产生的第2反射光；以及处理电路，基于所述光检测器对所述第1反射光及所述第2反射光的检测结果，生成与所述对象物相关的信息并输出。所述漫射板的所述一个区域中形成的所述第1出射光的光点与所述漫射板的所述一个区域中形成的所述第2出射光的光点之间的距离，比所述第1光源与所述第2光源之间的距离短。的距离短。的距离短。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】计测装置


[0001]本公开涉及计测装置。

技术介绍

[0002]存在如下技术：用光照射生物体等对象物，并对透射了对象物的内部的光进行检测，从而取得对象物的内部信息。例如，专利文献1公开了一种装置，去除由于来自对象物的光的表面反射成分引起的噪声，并取得对象物的内部信息。专利文献2公开了一种装置，根据使用相机取得的图像来检测脉搏。这些技术通过使用相机等计测装置，实现了非接触方式的生物体计测。
[0003]在先技术文献
[0004]专利文献
[0005]专利文献1：日本特开2017
‑
202328号公报
[0006]专利文献2：国际公布第2016/006027号说明书
[0007]专利文献3：日本特开平4
‑
189349号公报
[0008]专利文献4：日本特开平11
‑
164826号公报

技术实现思路

[0009]本专利技术所要解决的课题
[0010]在以非接触方式取得对象物的内部信息的计测装置中，如果在计测中对象物或者计测装置移动，则在取得的信号中产生误差。
[0011]本公开提供能够减小在计测中对象物或者计测装置发生了移动的情况下产生的信号的误差的计测技术。
[0012]用于解决课题的手段
[0013]本公开的一个方式所涉及的计测装置具备：第1光源，出射第1出射光；第2光源，出射第2出射光；漫射板；反射镜，使从由所述第1出射光及所述第2出射光构成的组中选择的至少一方的传播方向变化，从而使所述第1出射光及所述第2出射光向所述漫射板的一个区域汇集入射；光检测器，检测由于被所述漫射板漫射后的所述第1出射光而从对象物产生的第1反射光、以及由于被所述漫射板漫射后的所述第2出射光而从所述对象物产生的第2反射光；以及处理电路，基于所述光检测器对所述第1反射光及所述第2反射光的检测结果，生成与所述对象物相关的信息并输出。所述漫射板的所述一个区域中形成的所述第1出射光的光点与所述漫射板的所述一个区域中形成的所述第2出射光的光点之间的距离，比所述第1光源与所述第2光源之间的距离短。
[0014]本公开的其他方式所涉及的计测装置具备：第1发光装置，包括出射第1出射光的第1光源、与所述第1光源相邻且出射第2出射光的第2光源、以及对所述第1光源和所述第2光源进行支承的第1副安装件；漫射板，被配置在所述第1出射光及所述第2出射光的光路上；光检测器，检测由于被所述漫射板漫射后的所述第1出射光而从对象物产生的第1反射
光、以及由于被所述漫射板漫射后的所述第2出射光而从所述对象物产生的第2反射光；以及处理电路，基于所述光检测器对所述第1反射光及所述第2反射光的检测结果，生成与所述对象物相关的信息并输出。
[0015]本公开的再其他方式所涉及的计测装置具备：光源；漫射板，被配置在从所述光源出射的出射光的光路上；光检测器，检测由于被所述漫射板漫射后的所述出射光而从对象物产生的反射光；以及处理电路，基于所述光检测器对所述反射光的检测结果，生成与所述对象物相关的信息并输出。所述处理电路基于所述光检测器的所述检测结果，估计从所述光检测器到所述对象物的至少1个计测点为止的距离，基于由所述处理电路估计的所述距离，估计所述至少1个计测点的位置，基于由所述处理电路估计的所述位置，估计所述出射光向所述至少1个计测点的入射角，基于由所述处理电路估计的所述入射角、以及预先生成的规定所述出射光向所述对象物的入射角与所述出射光在所述对象物的反射率之间的关系的校准数据，对表示所述检测结果的信号进行校正，基于由所述处理电路校正后的所述信号，生成与所述对象物相关的信息。
[0016]本公开的再其他方式所涉及的方法包括：使对象物或者具有与生物体相似的光学特性的校准用的平板与光源之间的距离变化，而多次执行从所述光源朝向所述对象物或者所述平板出射光并对所述对象物或者所述平板中的至少1个计测点的反射率进行计测的动作、以及估计所述光向所述至少1个计测点的入射角的动作；以及生成规定所述光向所述至少1个计测点的入射角与所述反射率之间的关系的校准数据。
[0017]本公开的概括性或者具体性的方式也可以通过系统、装置、方法、集成电路、计算机程序或者计算机可读取的记录盘等记录介质实现，也可以通过系统、装置、方法、集成电路、计算机程序及记录介质的任意组合实现。计算机可读取的记录介质例如可以包括CD
‑
ROM(紧凑盘只读存储器(Compact Disc
‑
Read Only Memory))等非易失性的记录介质。装置也可以由1个以上的装置构成。在装置由2个以上的装置构成的情况下，该2个以上的装置既可以配置在1个设备内，也可以分开配置在分离的2个以上的设备内。在本说明书及权利要求书中，“装置”不仅可以指1个装置，也可以指由多个装置构成的系统。
[0018]专利技术效果
[0019]根据本公开的技术，能够减小在计测中对象物或者计测装置发生了移动的情况下产生的信号的误差。
附图说明
[0020]图1是示意性地表示本公开的例示性的实施方式中的计测装置的图。
[0021]图2是表示光检测器的构成的一例的图。
[0022]图3A是示意性地表示光脉冲Ip具有脉冲波形的情况下的反射光脉冲所包含的表面反射成分I1及内部散射成分I2的时间变化的例子的图。
[0023]图3B是示意性地表示光脉冲Ip具有矩形形状的波形的情况下的反射光脉冲所包含的表面反射成分I1及内部散射成分I2的时间变化的例子的图。
[0024]图4是表示控制电路对第1光源、第2光源及光检测器进行控制的动作的概略的流程图。
[0025]图5A是表示漫射板、多个光源、以及光学系统的构成例的图。
[0026]图5B是表示在图5A中以虚线表示的区域中的照度分布的例子的图。
[0027]图5C是示意性地表示漫射板的一个区域中形成的相邻的2个光点的例子的图。
[0028]图5D是表示以人的前额作为被计测部的情况下的前额的倾斜角度与漫射板上的波长不同的2个光点间的距离的允许量之间的关系的曲线图。
[0029]图6是表示光源、光学系统及漫射板的其他构成例的图。
[0030]图7是表示在1个封装内将多个发光元件汇集配置而成的发光装置的例子的图。
[0031]图8是表示发光装置的再其他的构成例的图。
[0032]图9是示意性地表示被漫射板漫射后的光向被计测部入射的情形的图。
[0033]图10是表示图9的构成中的被计测部的漫反射率的入射角依赖性的曲线图。
[0034]图11是表示生成校准数据的方法的例子的流程图。
[0035]图12是表示在计测时执行的使用校准数据的信号校正方法的例子的流程图。
[0036]图13是表示漫射板、多个光源、以及光学系统的其他构成例的图。
具体实施方式
[0037]以下说明的实施方式均表示概括性或本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种计测装置，具备：第1光源，出射第1出射光；第2光源，出射第2出射光；漫射板；反射镜，使从由所述第1出射光及所述第2出射光构成的组中选择的至少一方的传播方向变化，从而使所述第1出射光及所述第2出射光向所述漫射板的一个区域汇集入射；光检测器，检测由于被所述漫射板漫射后的所述第1出射光而从对象物产生的第1反射光、以及由于被所述漫射板漫射后的所述第2出射光而从所述对象物产生的第2反射光；以及处理电路，基于所述光检测器对所述第1反射光及所述第2反射光的检测结果，生成与所述对象物相关的信息并输出，所述漫射板的所述一个区域中形成的所述第1出射光的光点与所述漫射板的所述一个区域中形成的所述第2出射光的光点之间的距离，比所述第1光源与所述第2光源之间的距离短。2.一种计测装置，具备：第1发光装置，包括出射第1出射光的第1光源、与所述第1光源相邻且出射第2出射光的第2光源、以及对所述第1光源和所述第2光源进行支承的第1副安装件；漫射板，被配置在所述第1出射光及所述第2出射光的光路上；光检测器，检测由于被所述漫射板漫射后的所述第1出射光而从对象物产生的第1反射光、以及由于被所述漫射板漫射后的所述第2出射光而从所述对象物产生的第2反射光；以及处理电路，基于所述光检测器对所述第1反射光及所述第2反射光的检测结果，生成与所述对象物相关的信息并输出。3.如权利要求1或者2所述的计测装置，所述漫射板中的所述第1出射光的光点的中心与所述第2出射光的光点的中心之间的距离为5mm以下。4.如权利要求1至3中任一项所述的计测装置，所述第1出射光及所述第2出射光至少部分重叠地向所述漫射板入射。5.如权利要求1至4中任一项所述的计测装置，还具备：第1准直透镜，被配置在所述第1光源与所述漫射板之间的光路上；以及第2准直透镜，被配置在所述第2光源与所述漫射板之间的光路上。6.如权利要求1至5中任一项所述的计测装置，所述第1出射光向所述漫射板入射的入射角，与所述第2出射光向所述漫射板入射的入射角相同。7.如权利要求1至6中任一项所述的计测装置，所述漫射板在表面具有多个凹部或者多个凸部。8.如权利要求1至7中任一项所述的计测装置，所述第1出射光的波长为650nm以上且小于805nm，所述第2出射光的波长为805nm以上且950nm以下。
9.如权利要求1至7中任一项所述的计测装置，所述第1出射光的波长与所述第2出射光的波长相同。10.如权利要求1至9中任一项所述的计测装置，还具备：控制电路，对所述第1光源、所述第2光源及所述光检测器进行控制，所述第1反射光及所述第2反射光是脉冲光，所述控制电路，使所述第1光源出射所述第1出射光，使所述第2光源出射所述第2出射光，使所述光检测器检测从所述第1反射光的强度开始减少起直到结束减少为止的期间即第1下降期间中的所述第1反射光的第1成分，使所述光检测器检测从所述第2反射光的强度开始减少起直到结束减少为止的期间即第2下降期间中的所述第2反射光的第2成分，所述处理电路基于由所述光检测器检测出的所述第1反射光的所述第1成分的强度及所述第2反射光的所述第2成分的强度，生成所述信息。11.如权利要求1至10中任一项所述的计测装置，还具备：第3光源，出射第3出射光，所述光检测器还检测由于被所述漫射板漫射后的所述第3出射光而从所述对象物产生的第3反射光，所述处理电路基于所述光检测器对所述第1反射光、所述第2反射光及所述第3反射光的检测结果，生成所述信息并输出。1...

【专利技术属性】
技术研发人员：安藤贵真，今井俊辅，富永仁志，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：