物件侦测方法及其摄影设备技术

技术编号:36582205 阅读:28 留言:0更新日期:2023-02-04 17:42
本发明专利技术公开了一种可有效提高摄影设备的辨识准确度的物件侦测方法及摄影设备,所述方法包括利用第一曝光参数和第二曝光参数分别取得涵盖特定监控区域的第一参考图像与第二参考图像,利用第一曝光参数和第二曝光参数在物件侦测期间分别取得涵盖特定监控区域的第一侦测图像与第二侦测图像,计算第一参考图像与该第一侦测图像之间的第一像素变动量、和第二参考图像与第二侦测图像之间的第二像素变动量,以及分析第一像素变动量和第二像素变动量以判断目标物件是否位于特定监控区域内。本发明专利技术采用短曝光图像与长曝光图像并行的物件侦测模式,在符合特定条件的情况下可选择性采用短曝光图像或长曝光图像的物件侦测模式,以兼顾辨识准确度和省电效能。兼顾辨识准确度和省电效能。兼顾辨识准确度和省电效能。

【技术实现步骤摘要】
物件侦测方法及其摄影设备


[0001]本专利技术涉及一种物件侦测方法及其摄影设备,特别是有关一种可有效提高辨识准确度的物件侦测方法及其摄影设备。

技术介绍

[0002]传统的监控摄影机是以单一曝光参数取得参考图像与侦测图像。参考图像为监控摄影机的监控范围不存在目标物件时拍摄;侦测图像则是在监控摄影机的启用期间拍摄,用来判断目标物件是否进入监控范围。传统监控摄影机会计算参考图像与侦测图像之间对应位置像素的像素差值,若某区域的像素差值低于或等于特定门槛,表示此区域没有明显的像素变化,表示不存在目标物件;若某区域的像素差值高于特定门槛,此区域发生明显像素变化,则视为此区域具有目标物件。然而,如果监控范围的环境亮度偏低、并且目标物件本身不自带光源,监控摄影机将难以在侦测图像辨识出融入昏暗背景的目标物件。因此,如何设计一种能够在低照明光源环境下正确识别目标物件的监控摄影机,便为相关监控产业的重点发展目标。

技术实现思路

[0003]本专利技术涉及一种可有效提高辨识准确度的物件侦测方法及其摄影设备。
[0004]本专利技术进一步公开一种可有效提高辨识准确度的物件侦测方法,包括利用第一曝光参数和大于该第一曝光参数的第二曝光参数在非侦测期间分别取得涵盖特定监控区域的第一参考图像与第二参考图像,利用该第一曝光参数和该第二曝光参数在物件侦测期间分别取得涵盖该特定监控区域的第一侦测图像与第二侦测图像,计算该第一参考图像与该第一侦测图像之间的第一像素变动量、和该第二参考图像与该第二侦测图像之间的第二像素变动量,以及分析该第一像素变动量和该第二像素变动量以判断目标物件是否位于该特定监控区域内。
[0005]本专利技术还公开该物件侦测方法还包括在该第一参考图像与该第一侦测图像内设置感兴趣区域,以在该感兴趣区域内计算该第一像素变动量。
[0006]本专利技术还公开该物件侦测方法还包括若使用该第一像素变动量所判断的该目标物件符合该第二像素变动量所判断的该目标物件,停止利用该第二曝光参数拍摄相关的参考图像和侦测图像。
[0007]本专利技术还公开该物件侦测方法还包括在该第一像素变动量中划分出该目标物件所在的第一范围、及该目标物件之外的第二范围,将该第一范围与该第二范围的差值相比于梯度门槛,以及若该差值超出该梯度门槛,停止利用该第二曝光参数拍摄相关的参考图像和侦测图像。
[0008]本专利技术还公开该物件侦测方法还包括致动光侦测器以取得环境光信息,以及分析该环境光信息以决定是否提取该第二曝光参数拍摄该第二参考图像和该第二侦测图像。
[0009]本专利技术还公开该物件侦测方法还包括分析该环境光信息的亮度信息以相应计算
出该第二曝光参数。
[0010]本专利技术还公开该物件侦测方法还包括将该第一参考图像的亮度运算值相比于亮度门槛,以及若该亮度运算值低于该亮度门槛,提取该第二曝光参数以拍摄该第二参考图像和该第二侦测图像。
[0011]本专利技术还公开该物件侦测方法还包括取得该第一参考图像的亮度平均值与亮度最大值的其中一运算值,以及利用预设权重转换该运算值以相应计算出该第二曝光参数。
[0012]本专利技术还公开该物件侦测方法还包括取得该第一参考图像的亮度直方分布信息,将该亮度直方分布信息划分为高亮度分布区与低亮度分布区,以及利用该高亮度分布区和该低亮度分布区的分布比例相应计算出该第二曝光参数。
[0013]本专利技术还公开该物件侦测方法还包括分析该第二像素变动量以决定是否调整该第二曝光参数。
[0014]本专利技术还公开一种具有高辨识准确度的摄影设备,包括图像取得器以及运算处理器。该图像取得器利用第一曝光参数和大于该第一曝光参数的第二曝光参数在非侦测期间分别取得涵盖特定监控区域的第一参考图像与第二参考图像、以及利用该第一曝光参数和该第二曝光参数在物件侦测期间分别取得涵盖该特定监控区域的第一侦测图像与第二侦测图像。该运算处理器电连接该图像取得器。该运算处理器计算该第一参考图像与该第一侦测图像之间的第一像素变动量、和该第二参考图像与该第二侦测图像之间的第二像素变动量,并且分析该第一像素变动量和该第二像素变动量以判断目标物件是否位于该特定监控区域内。
[0015]本专利技术的摄影设备与物件侦测方法优选地会同时利用短曝光图像(意即以第一曝光参数生成的第一参考图像与第一侦测图像)和长曝光图像(意即以第二曝光参数生成的第二参考图像与第二侦测图像)来判断目标物件是否存在。只依靠短曝光影像,可能在环境亮度偏低时无法正确侦测到低对比度的目标物件;只依靠长曝光图像,可能因为目标物件具有明亮特征造成图像的特定部分过饱和而难以侦测及判断。因此,本专利技术采用短曝光图像与长曝光图像并行的物件侦测模式,并且同时提供多重曝光功能的自动关闭及启动功能,在符合特定条件的情况下可选择性采用短曝光图像或长曝光图像的物件侦测模式,以兼顾辨识准确度和省电效能。
附图说明
[0016]图1为本专利技术实施例的摄影设备的功能方块图。
[0017]图2为本专利技术实施例的摄影设备所提供监控区域的示意图。
[0018]图3为本专利技术实施例的物件侦测方法的流程图。
[0019]图4至图7为本专利技术实施例的摄影设备在不同条件下所取得图像的示意图。
[0020]图8与图9为本专利技术实施例的摄影设备所取得图像解析后的示意图。
[0021]图10为本专利技术实施例的第一参考图像的亮度直方分布信息的示意图。
[0022]其中,附图标记说明如下:
[0023]10摄影设备
[0024]12图像取得器
[0025]14运算处理器
[0026]16光侦测器
[0027]Ot目标物件
[0028]R感兴趣区域
[0029]I1r第一参考图像
[0030]I2r第二参考图像
[0031]I1d第一侦测图像
[0032]I2d第二侦测图像
[0033]NS_REF第一参考像素阵列
[0034]NS_CMP第一侦测像素阵列
[0035]D_NS第一像素阵列差
[0036]LS_REF第二参考像素阵列
[0037]LS_CMP第二侦测像素阵列
[0038]D_LS第二像素阵列差
[0039]M1第一标记框
[0040]M2第二标记框
[0041]A1高亮度分布区
[0042]A2低亮度分布区
[0043]S100、S102、S104、S106、S108、S110步骤
具体实施方式
[0044]请参阅图1与图2,图1为本专利技术实施例的摄影设备10的功能方块图,图2为本专利技术实施例的摄影设备10所提供监控区域的示意图。摄影设备10可包括相互电连接的图像取得器12以及运算处理器14。图像取得器12可用来取得关连于摄影设备10的监控区域的参考图像与侦测图像;图像取得器12可能为本身具有图像拍摄功能、或是可连结到另一图像拍摄器以取得其生成的图像。运算处理器14可能利用有线或无线方式连结图像取得器本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种可有效提高辨识准确度的物件侦测方法,其特征在于,该物件侦测方法包括:利用第一曝光参数和大于该第一曝光参数的第二曝光参数在非侦测期间分别取得涵盖特定监控区域的第一参考图像与第二参考图像;利用该第一曝光参数和该第二曝光参数在物件侦测期间分别取得涵盖该特定监控区域的第一侦测图像与第二侦测图像;计算该第一参考图像与该第一侦测图像之间的第一像素变动量、和该第二参考图像与该第二侦测图像之间的第二像素变动量;以及分析该第一像素变动量和该第二像素变动量以判断目标物件是否位于该特定监控区域内。2.如权利要求1所述的物件侦测方法,其特征在于,该物件侦测方法还包括:在该第一参考图像与该第一侦测图像内设置感兴趣区域,以在该感兴趣区域内计算该第一像素变动量。3.如权利要求1所述的物件侦测方法,其特征在于,该物件侦测方法还包括:若使用该第一像素变动量所判断的该目标物件符合该第二像素变动量所判断的该目标物件,停止利用该第二曝光参数拍摄相关的参考图像和侦测图像。4.如权利要求1所述的物件侦测方法,其特征在于,该物件侦测方法还包括:在该第一像素变动量中划分出该目标物件所在的第一范围、及该目标物件之外的第二范围;将该第一范围与该第二范围的差值相比于梯度门槛;以及若该差值超出该梯度门槛,停止利用该第二曝光参数拍摄相关的参考图像和侦测图像。5.如权利要求1所述的物件侦测方法,其特征在于,该物件侦测方法还包括:致动光侦测器以取得环境光信息;以及分析该环境光信息以决定是否提取该第二曝光参数拍摄该第二参考图像和该第二侦测图像。6.如权利要求5所述的物件侦测方法,其特征在于,该物件侦测方法还包括:分析该环境光信息的亮度信息以相应计算出该第二曝光参数。7.如权利要求1所述的物件侦测方法,其特征在于,该物件侦测方法还包括:将该第一参考图像的亮度运算值相比于亮度门槛;以及若该亮度运算值低于该亮度门槛,提取该第二曝光参数以拍摄该第二参考图像和该第二侦测图像。8.如权利要求7所述的物件侦测方法,其特征在于,该物件侦测方法还包括:取得该第一参考图像的亮度平均值与亮度最大值的其中一运算值;以及利用预设权重转换该运算值以相应计算出该第二曝光参数。9.如权利要求7所述的物件侦测方法,其特征在于,该物件侦测方法还包括:取得该第一参考图像的亮度直方分布信息;将该亮度直方分布信息划分为高亮度分布区与低亮度分布区;以及利用该高亮度分布区和该低亮度分布区的分布比例相应计算出该第二曝光参数。10.如权利要求1所述的物件侦测方法,其特征在于,该物件侦测方法还包括:分析该第二像素变动量以决定是否调整该第二曝光参数。

【专利技术属性】
技术研发人员:林凯文练力李永作
申请(专利权)人:原相科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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