一种特征荧光的探测装置及探测方法制造方法及图纸

本申请实施例提供的一种特征荧光的探测装置，探测装置包括壳体、放射源以及探测器，壳体具有能够用于容纳气体介质的密闭腔室，放射源放置于密闭腔室，放射源所发射的放射性粒子与气体介质作用后产生特征荧光，沿放射性粒子的传输方向，探测器设置在放射源的下游，探测器用于接收特征荧光。本申请实施例的特征荧光的探测装置可以通过探测器探测不同能量的放射性粒子在不同种类气体介质中的特征荧光的产额，建立特征荧光的产额和放射源活度的数学关系式，即根据放射源发射的放射性粒子在特定的气体介质中的特征荧光的产额，就可以计算得到放射性粒子的发射率，从而实现对放射源活度的探测，由于特征荧光的射程一般比较长，从而提高了探测距离。提高了探测距离。提高了探测距离。

【技术实现步骤摘要】
一种特征荧光的探测装置及探测方法


[0001]本申请涉及探测
，尤其涉及一种特征荧光的探测装置及探测方法。

技术介绍

[0002]在放射源活度的探测过程中，以α放射源为例，α粒子是由两个质子、两个中子组成的粒子，通过衰变发射出α粒子的放射源称之为α放射源。相关技术中有多种探测装置及探测方法探测α粒子的能量以及发射α粒子数。例如表面污染仪、α谱仪、低本底α/β测量仪等等。其原理是利用α粒子与探测器直接作用或者利用α粒子与介质作用产生的次级电子与探测器作用，使探测器产生响应，通过测量α粒子个数从而反映α放射源的活度。
[0003]由于α粒子的射程较短，因此，相关技术中的探测装置需要将探测器贴在放射源表面或者距离10cm以内，否则很难探测到α粒子，由此，存在探测距离短的问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本申请实施例期望提供一种特征荧光的探测装置及探测方法，以解决相关技术中对放射源活度的探测距离短的问题。
[0005]为达到上述目的，本申请的实施例提供了一种特征荧光的探测装置，包括：<br/>[0006]本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种特征荧光的探测装置，其特征在于，包括：壳体，所述壳体具有密闭腔室，所述密闭腔室能够用于容纳气体介质；放置于所述密闭腔室的放射源，所述放射源用于发射放射性粒子，所述放射性粒子与所述气体介质作用后产生特征荧光；探测器，沿所述放射性粒子的传输方向，所述探测器设置在所述放射源的下游，所述探测器用于接收所述特征荧光。2.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述放射源可移动地设置于所述密闭腔室；和/或，所述探测器设置于所述壳体沿长度方向的一端，且位于所述密闭腔室的外侧。3.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述探测装置包括可移动地设置于所述密闭腔室的安装架，所述放射源放置于所述安装架。4.根据权利要求3所述的探测装置，其特征在于，所述探测装置包括沿所述探测装置长度方向延伸的导轨，所述安装架设置于所述导轨，并能够沿所述导轨的延伸方向移动。5.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述探测装置包括滤光镜组，沿所述放射性粒子的传输方向，所述滤光镜组设置在所述放射源与所述探测器之间，用于过滤非特征荧光。6.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述壳体具有与所述密闭腔室连通的进气口和出气口；和/或，所述壳体的材质为不锈钢或铝合金。7.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，所述壳体具有与所述密闭腔室连通的换样口，所述探测装置包括密封盖，所述密封盖密封盖设于所述换样口。8.一种特征荧光探测方法，其特征在于，所述探测方法包括：将放射源放置于密闭腔室；沿所述放射源所发射的放射性粒子的传输方向，将探测器设置在所述放射源的下游；将所述密闭腔室抽真空，并向所述密闭腔室内充入气体介质；通过...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗瑞，徐利军，刘蕴韬，毛娜请，陈克胜，李敬宇，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：