本发明专利技术涉及一种用于使用至少一个微波谐振器确定运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的方法，对于所述颗粒流，所述微波谐振器分别提供至少两个测量值，其中，由所述测量值确定粒度分布的至少一个细度特征和/或分位数，本发明专利技术还涉及一种用于产生运动的颗粒流的设备，所述设备具有用于确定所述运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的测量装置，所述测量装置具有至少一个微波谐振器，对于所述颗粒流，所述微波谐振器分别提供至少两个测量值，其中，所述测量装置设置成用于，由所述微波谐振器的所述至少两个测量值评估粒度分布的至少一个细度特征和/或分位数。的至少一个细度特征和/或分位数。的至少一个细度特征和/或分位数。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】确定粒度分布的至少一个特征量的方法和具有测量装置的设备
[0001]本专利技术涉及一种用于使用至少一个微波谐振器确定运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的方法。本专利技术还涉及一种用于产生运动的颗粒流的设备，所述设备具有确定所述运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的测量装置。
技术介绍
[0002]由WO 2009/030314已知一种用于使用至少一个谐振器测量介电物质的湿度的方法。这里对于至少两个具有彼此不同的谐振频率的谐振模式分布评估谐振频率移动并且由测得的谐振频率移动计算出与密度无关的湿度值。这种方法的一个特殊的优点应在于，在确定湿度值时不必再使用衰减值作为衡量湿度的尺度。相反，由至少两个在不同谐振频率下出现的谐振频率移动以较大的可靠性计算出与密度无关的湿度值。在不同的谐振频率下出现的谐振频率移动以大的可靠性计算与密度无关的湿度值。由于使用了在两个谐振频率下的频移，可以不使用衰减特征值的情况下计算出颗粒尺寸D。在实践中已经证实的是，确定运动中的颗粒流中的颗粒尺寸只能非常不可靠地实现。
[0003]由DE 101 11 833 C1已知一种用于在线确定透明介质运动颗粒的尺寸的测量探针。所述测量探针具有管状的测量探针体，运动的颗粒中的一些单个颗粒进入所述测量探针体并且在这里光学地对其进行测量。为此，使用分散介质使颗粒分离。
[0004]由DE 3 241 544 A1已知一种用于在干燥过程、成粒过程、实体化过程、挂涂和涂膜过程中进行监视和/或控制的方法。在这种已知的方法中，测量排气的湿度以及供气的湿度并且将由此得到的湿度差用于控制工作过程。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于一种用于可靠地测量运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的方法。本专利技术的目的还在于，对于用于产生运动的颗粒流的设备，提供一种这样的测量装置。
[0006]根据本专利技术，所述目的通过具有根据权利要求1的特征的方法和具有根据权利要求9的特征的设备来实现。有利的改进方案构成从属权利要求的主题。
[0007]根据本专利技术的方法设定为用于，确定运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量。为了实现所述确定，使用至少一个微波谐振器，对于所述颗粒流，所述微波谐振器分别提供至少两个测量值。这里，一个重要的特征是，利用所述特征量确定粒度分布的细度特征和/或分位数。与确定平均颗粒尺寸或者也确定其他平均量的现有技术中不同，根据本专利技术通过细度特征确定一种分布的比例，就是说，对数目、质量或其他量进行如下评估：小于或等于所述细度特征的颗粒比例有多大。就是说，不是考虑一个量值本身，而且考虑直到达到这个量值的比例。同样，分位数定义了一个阈值，在这个阈值下，确定比例的所述值小于所述分位数，而剩余的值大于所述分位数。25％分位数表示例如这样的值，对于所述值满足的
是，所有值中25％的值小于这个值，并且75％的值大于这个值。根据本专利技术使用微波谐振器评估粒度分布的一个特殊的步骤在于，不是考察确定的值或平均值，而是这样评估被测的量，使得始终也考虑小于所述细度特征或要考察的分位数的所有运动的颗粒的贡献。除了使用多个微波谐振器以外，也可以使用具有两个或更多谐振模式的微波谐振器。对于每个谐振模式可以分别针对所述颗粒流提供两个测量值。
[0008]在一个优选的设计方案中，已经证实特别有利的是，作为微波谐振器的两个测量值考虑采用谐振频移和谐振曲线展宽进行设置。作为测量值的谐振频移和谐振曲线展宽(B)原则上是与密度无关的量，而这两个测量值的商提供与质量或密度无关的量。特别是通过考虑细度特征或考虑分位数，使用微波谐振器的包括谐振频移和谐振曲线展宽的两个测量值是特别有利的。替代谐振曲线展宽也可以使用微波谐振器的给出关于谐振的衰减信息的其他测量值。
[0009]在一个优选的改进方案中，评估颗粒流的至少一个温度。颗粒流的温度由所供应的空气的温度和蒸发热得出。就是说，在供气温度恒定时，由于较强的蒸发，潮湿的颗粒流的温度低于干燥的颗粒流(在填充量和供气量恒定时)。
[0010]对于流化床中的运动的颗粒流，优选作为另外的测量变量评估以下量中的至少一个：流化床的供气量和填充量。供气量在流化床干燥器处根据相应的工艺调整并且通常还在所述工艺期间改变。所述供气量可以例如作为空气量用立方米/小时[m3/h]给出。填充量在流化床设备中例如给出，多少千克[kg]的材料处于流化床设备中。
[0011]优选已经证实，通过对所评估的测量变量进行线性逼近能够非常精确地确定所述至少一个细度特征和/或分位数。这意味着，所使用的测量变量作为附加地与常数项的简单的线性组合引入对细度特征和/或分位数的确定中。所述线性逼近还表明，对于微波谐振器，确定所述细度特征和/或分位数是指粒度分布的适当的特征量。当然，也可以由这些量确定其他量，如平均颗粒重量或平均颗粒直径。但重要的是，主要确定所述细度特征和/或分位数。
[0012]优选可以考察不同的粒度分布。一方面可以考虑数目分布总和、长度分布总和、面积分布总和或体积/质量分布总和。对于粒度分布的良好状态特别有益的是，同时确定多个量。例如在线性组合中可以利用相同的测量值、但不同的系数考察数目分布总和以及体积分布总和。也可以确定一个分布总和的多个分位数和/或细度特征。
[0013]根据本专利技术的目的还通过一种具有权利要求10的特征的用于产生运动的颗粒流的设备来实现。所述设备具有确定所述运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的测量装置。所述测量装置具有至少一个微波谐振器，对于所述颗粒流，所述微波谐振器分别提供至少两个测量值。所述至少两个测量值优选是谐振频移和谐振曲线展宽。此外，所述测量装置设置成用于，由所述微波谐振器的所述至少两个测量值评估粒度分布的至少一个细度特征和/或分位数。使用所述微波谐振器的所述测量值的测量装置在空间上可以与微波谐振器设置在一起或者也可以与微波谐振器是分开的。微波谐振器可以设定为用于，产生两个或更多谐振模式，在每个谐振模式中都可以检测所述至少两个测量值。
[0014]此外优选的是，所述测量装置设置成用于，附加地评估颗粒流的温度。
[0015]优选所述测量装置布置成，测量流化床中的测量变量。特别是当在流化床中使用时，所述测量装置设置成用于，同时评估以下量中的至少一个：流化床的供气量和填充量。
供气量和填充量对微波测量有很大影响并且因此优选为了确定颗粒流的细度特征和/或要确定的分位数而对其加以考虑。
[0016]所述测量装置优选设置成，即，使得对于涉及数目分布总和、长度分布总和、面积分布总和或体积分布总和/或质量分布总和确定所述细度特征和/或分位数。这里重要的是，所述测量装置也可以同时确定多个细度特征和/或分位数。
[0017]在关于时间检测多个细度特征和/或分位数时，由此可以实现可靠地确定在流化床中进行的过程。
附图说明
[0018]下面借助于几个测量值来详细说明本专利技术。其中：
[0019]图1示出三个涉及数目分布总和的细度特征的时间发展，
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.用于使用至少一个微波谐振器确定运动的颗粒流中的粒度分布的至少一个特征量的方法，对于所述颗粒流，所述微波谐振器分别提供至少两个测量值，其特征在于，由所述测量值确定粒度分布的至少一个细度特征和/或分位数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述微波谐振器的所述至少两个测量值涉及谐振频移(A)和谐振曲线展宽(B)。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述至少一个微波谐振器具有两个或更多谐振模式，这些谐振模式对于所述颗粒流分别提供两个测量值。4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，附加地评估所述颗粒流的至少一个温度。5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其特征在于，所述运动的颗粒流存在于流化床中。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，作为另外的测量变量评估以下量中的至少一个：流化床的供气量和填充量。7.根据权利要求1至6中任一项所述的方法，其特征在于，通过所评估的测量变量线性逼近所述细度特征和/或分位数。8.根据权利要求1至7中任一项所述的方法，其特征在于，所述细度特征和/或分位数涉及数目分布总和、长度分布总和、面积分布总和或体积分布总和或质量分布总和。9.根据权利要求1至8中任一项所述的方法，其特征在于，关于时间检测多个细度特征和/或分位数。10.用于产生运动的颗粒流的设备，所述设备具有用于确定所述运...
【专利技术属性】
技术研发人员：U，
申请(专利权)人：特夫斯电子有限责任两合公司，
类型：发明
国别省市：
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