测试用例生成方法、装置、存储介质及电子装置制造方法及图纸

本申请公开了一种测试用例生成方法、装置、存储介质及电子装置，涉及计算机技术领域，该测试用例生成方法包括：在包括两个或两个以上参数信息的第一测试用例能够正常进行测试的情况下，获取每一所述参数信息对应的入参数据集；基于数据反射流程，确定所述第一测试用例中的目标参数信息，并将所述目标参数信息的入参数据替换为目标入参数据集中的入参数据，生成第二测试用例，所述目标参数信息为所述第一测试用例中待替换的参数信息，所述目标入参数据集为所述目标参数信息对应的入参数据集。本申请提供的测试用例生成方法，可以通过替换测试用例中的参数信息对应的入参数据进行测试，减少重新编辑测试用例的成本以及人力资源的浪费。的浪费。的浪费。

【技术实现步骤摘要】
测试用例生成方法、装置、存储介质及电子装置


[0001]本申请涉及计算机
，尤其涉及一种测试用例生成方法、装置、存储介质及电子装置。

技术介绍

[0002]进行接口测试用例设计的时候，设计正常的测试用例和异常的测试用例，需要对每一个入参参数进行设计，正常情况下，会对每一个参数设计出很多个用例，如接口有一个字段为age(int类型)，那么设计用例的时候，单独这一个字段能设计出很多的用例，如正常用例age对应的入参参数包括1至120，异常用例age的入参参数包括
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1、a、0、null、空、121等，在编写用例的时候，在用例中不止需要书写age字段，同时需要书写其他的所有必填参数，这样设计出来的多个用例中，不能凸显出这次设计的参数，同时可能会因为人为的操作的错误，如：在书写的时候书写错误或者复制的时候出现错误等，在执行用例的时候，可能会出现一些未知的错误，排查问题也需要对所有的参数进行排查，造成人力成本的浪费。

技术实现思路

[0003]本申请提供一种测试用例生成方法、装置、存储介质及电子装置，用以解决现有技术中的存在的上述缺陷，可以通过替换测试用例中的参数信息对应的入参数据进行测试，减少重新编辑测试用例的成本以及人力资源的浪费。
[0004]本申请提供一种测试用例生成方法，包括：
[0005]在包括两个或两个以上参数信息的第一测试用例能够正常进行测试的情况下，获取每一所述参数信息对应的入参数据集；
[0006]基于数据反射流程，确定所述第一测试用例中的目标参数信息，并将所述目标参数信息的入参数据替换为目标入参数据集中的入参数据，生成第二测试用例，所述目标参数信息为所述第一测试用例中待替换的参数信息，所述目标入参数据集为所述目标参数信息对应的入参数据集。
[0007]根据本申请提供的一种测试用例生成方法，所述基于数据反射流程，确定所述第一测试用例中的目标参数信息，并将目标参数信息的入参数据替换为目标入参数据集中的入参数据，生成第二测试用例，包括：
[0008]基于所述数据反射流程，获取所述第一测试用例对应的接口路径；
[0009]将接口路径中的参数信息作为所述目标参数信息；
[0010]将所述接口路径中的参数信息的入参数据替换为所述目标入参数据集中的入参数据，对所述第一测试用例进行更新；
[0011]根据更新后的第一测试用例，生成所述第二测试用例。
[0012]根据本申请提供的一种测试用例生成方法，所述基于数据反射流程，确定所述第一测试用例中的目标参数信息，并将所述目标参数信息的入参数据替换为目标入参数据集中的入参数据，生成第二测试用例，还包括：
[0013]基于所述数据反射流程，获取所述第一测试用例对应的参数键值对；
[0014]将参数键值对中的key值作为所述目标参数信息；
[0015]将所述参数键值对中的key值的value值替换为所述目标入参数据集中的入参数据，对所述第一测试用例进行更新；
[0016]根据更新后的第一测试用例，生成所述第二测试用例。
[0017]根据本申请提供的一种测试用例生成方法，所述基于数据反射流程，确定所述第一测试用例中的目标参数信息，并将所述目标参数信息的入参数据替换为目标入参数据集中的入参数据，生成第二测试用例，包括：
[0018]基于所述数据反射流程，获取所述第一测试用例对应的body参数；
[0019]基于所述body参数的格式，确定所述body参数中的目标参数信息；
[0020]将所述body参数中的目标参数信息的入参数据替换为所述目标入参数据集中的入参数据，对所述第一测试用例进行更新；
[0021]根据更新后的第一测试用例，生成所述第二测试用例。
[0022]根据本申请提供的一种测试用例生成方法，所述方法，还包括：
[0023]获取本次对所述第二测试用例的测试结果；
[0024]若所述测试结果为测试异常，则查询最近N次针对所述第二测试用例的历史测试结果，所述测试异常包括未得到所述第二测试用例的返回结果，N为正整数；
[0025]根据所述历史测试结果，确定本次对所述第二测试用例是否测试成功。
[0026]根据本申请提供的一种测试用例生成方法，所述根据所述历史测试结果，确定所述第二测试用例是否测试成功，包括：
[0027]若所述历史测试结果中存在至少M次测试成功的测试结果，则确定所述第二测试用例测试成功，M为正整数，且M小于或等于N；
[0028]否则，确定所述第二测试用例测试失败。
[0029]根据本申请提供的一种测试用例生成方法，所述获取本次对所述第二测试用例的测试结果之后，所述方法，还包括：
[0030]记录获取到的本次对所述第二测试用例的测试结果，以便下一次在对所述第二测试用例的测试结果为测试异常的情况下，查询本次对所述第二测试用例的测试结果。
[0031]本申请还提供一种测试用例生成装置，包括：数据获取模块以及用例生成模块；
[0032]所述数据获取模块，用于在包括两个或两个以上参数信息的第一测试用例能够正常进行测试的情况下，获取每一所述参数信息对应的入参数据集；
[0033]所述用例生成模块，用于基于数据反射流程，确定所述第一测试用例中的目标参数信息，并将所述目标参数信息的入参数据替换为目标入参数据集中的入参数据，生成第二测试用例，所述目标参数信息为所述第一测试用例中待替换的参数信息，所述目标入参数据集为所述目标参数信息对应的入参数据集。
[0034]本申请还提供一种电子装置，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器被设置为通过所述计算机程序执行实现如上述任一种所述测试用例生成方法。
[0035]本申请还提供一种计算机可读的存储介质，所述计算机可读的存储介质包括存储的程序，其中，所述程序运行时执行实现如上述任一种所述测试用例生成方法。
[0036]本申请还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述测试用例生成方法。
[0037]本申请提供的测试用例生成方法、装置、存储介质及电子装置，可以通过替换测试用例中的参数信息对应的入参数据进行测试，减少重新编辑测试用例的成本以及人力资源的浪费。
附图说明
[0038]此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分，示出了符合本申请的实施例，并与说明书一起用于解释本申请的原理。
[0039]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0040]图1是根据本申请实施例的一种测试用例生成方法的硬件环境示意图；
[0041]图2是根据本申请提供的测试用例生成方法的流程示意图之一；
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测试用例生成方法，其特征在于，包括：在包括两个或两个以上参数信息的第一测试用例能够正常进行测试的情况下，获取每一所述参数信息对应的入参数据集；基于数据反射流程，确定所述第一测试用例中的目标参数信息，并将所述目标参数信息的入参数据替换为目标入参数据集中的入参数据，生成第二测试用例，所述目标参数信息为所述第一测试用例中待替换的参数信息，所述目标入参数据集为所述目标参数信息对应的入参数据集。2.根据权利要求1所述的测试用例生成方法，其特征在于，所述基于数据反射流程，确定所述第一测试用例中的目标参数信息，并将目标参数信息的入参数据替换为目标入参数据集中的入参数据，生成第二测试用例，包括：基于所述数据反射流程，获取所述第一测试用例对应的接口路径；将接口路径中的参数信息作为所述目标参数信息；将所述接口路径中的参数信息的入参数据替换为所述目标入参数据集中的入参数据，对所述第一测试用例进行更新；根据更新后的第一测试用例，生成所述第二测试用例。3.根据权利要求1所述的测试用例生成方法，其特征在于，所述基于数据反射流程，确定所述第一测试用例中的目标参数信息，并将所述目标参数信息的入参数据替换为目标入参数据集中的入参数据，生成第二测试用例，还包括：基于所述数据反射流程，获取所述第一测试用例对应的参数键值对；将参数键值对中的key值作为所述目标参数信息；将所述参数键值对中的key值的value值替换为所述目标入参数据集中的入参数据，对所述第一测试用例进行更新；根据更新后的第一测试用例，生成所述第二测试用例。4.根据权利要求1所述的测试用例生成方法，其特征在于，所述基于数据反射流程，确定所述第一测试用例中的目标参数信息，并将所述目标参数信息的入参数据替换为目标入参数据集中的入参数据，生成第二测试用例，包括：基于所述数据反射流程，获取所述第一测试用例对应的body参数；基于所述body参数的格式，确定所述body参数中的目标参数信息；将所述body参数中的目标参数信息的入参数据替换为所述目标入参数据集中的入参数据，对所述第一测...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴朝芬，
申请(专利权)人：青岛海尔科技有限公司海尔智家股份有限公司，
类型：发明
国别省市：