微波倍频测试系统的非线性误差的开环测量方法技术方案

本发明专利技术实施例涉及电磁测试技术领域，特别涉及一种微波倍频测试系统的非线性误差的开环测量方法。方法包括：利用所述微波倍频测试系统对待测样本进行电磁散射特性测试，以获得所述待测样本在预设频率、预设角域范围内的RCS测量值；对所述待测样本进行电磁散射特性仿真计算，以获得所述待测样本在所述预设频率、所述预设角域范围内的RCS理论值；确定所述微波倍频测试系统的开环测量误差，所述开环测量误差包括背景噪声误差；根据所述RCS测量值、所述RCS理论值以及所述开环测量误差，确定所述微波倍频测试系统的非线性误差。本发明专利技术提供的方法不需要引入具有波导端口的可调衰减器，测试成本低。测试成本低。测试成本低。

【技术实现步骤摘要】
微波倍频测试系统的非线性误差的开环测量方法


[0001]本专利技术实施例涉及电磁测试
，特别涉及一种微波倍频测试系统的非线性误差的开环测量方法。

技术介绍

[0002]微波倍频测试系统是测试目标电磁散射特性的重要测试系统，在该系统中，由于微波电子元器件本身的电气特性，会使倍频测试系统产生非线性误差，非线性误差会影响目标电磁散射特性的测试精度。因此，需要对倍频测试系统的非线性误差进行测量，以确定其非线性误差是否在允许范围内。
[0003]相关技术中，通常采用闭环的方法测量微波倍频测试系统的非线性误差，但该方法需要在测试系统的收发链路中串接具有波导端口的可调衰减器。但由于具有波导端口的可调衰减器价格昂贵，因此，闭环测量方法的测量成本较高。
[0004]因此，目前亟待需要一种测量成本低的方法来确定微波倍频测试系统的非线性误差。

技术实现思路

[0005]本专利技术实施例提供了一种微波倍频测试系统的非线性误差的开环测量方法，测量成本低。
[0006]本专利技术实施例提供了一种微波倍频测试系统的非线性误差的开本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种微波倍频测试系统的非线性误差的开环测量方法，其特征在于，包括：利用所述微波倍频测试系统对待测样本进行电磁散射特性测试，以获得所述待测样本在预设频率、预设角域范围内的RCS测量值；对所述待测样本进行电磁散射特性仿真计算，以获得所述待测样本在所述预设频率、所述预设角域范围内的RCS理论值；确定所述微波倍频测试系统的开环测量误差，所述开环测量误差包括背景噪声误差；根据所述RCS测量值、所述RCS理论值以及所述开环测量误差，确定所述微波倍频测试系统的非线性误差。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述微波倍频测试系统包括发射天线、接收天线、设置于所述发射天线和所述接收天线之间的转台以及设置于所述转台上的用于支撑所述待测样本的支架；所述利用所述微波倍频测试系统对待测样本进行电磁散射特性测试，以获得所述待测样本在预设频率、预设角域范围内的RCS测量值，包括：将所述待测样本放置于所述支架上；控制所述转台按照预设的角度间隔旋转，以使所述支架和所述待测样本跟随所述转台旋转；响应于所述微波倍频测试系统中的各设备均预热完成，利用所述发射天线向所述待测样本发射所述预设频率的测试信号；利用所述接收天线接收所述待测样本产生的回波信号，以获得所述待测样本在所述预设频率、预设角域范围内的RCS测量值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述开环测量误差还包括所述转台的定位精度误差导致的测量误差。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述背景噪声误差是通过如下方式计算得到的：确定多个测试频率，所述测试频率中的最大频率大于所述预设频率，且所述测试频率中的最小频率小于所述预设频...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘拓，孔德旺，吴洋，安兆彬，刘紫薇，姜涌泉，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：