玻璃基板缺陷识别示警方法、系统、电子设备和存储介质技术方案

本发明专利技术公开了本发明专利技术实施例提供了一种玻璃基板缺陷识别示警方法、系统、电子设备和存储介质，涉及TFT

【技术实现步骤摘要】
玻璃基板缺陷识别示警方法、系统、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及TFT
‑
LCD液晶玻璃基板制造
，具体涉及一种玻璃基板缺陷识别示警方法、系统、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]在TFT
‑
LCD液晶玻璃基板生产过程中，玻璃基板表面及内部的缺陷需通过自动检查机进行检测与判定，从而实现产品质量的甄别，实时监控生产状态，确保生产的正常进行。
[0003]目前自动检查机仅对玻璃基板进行检测后，根据检出的缺陷数据对玻璃基板质量进行判定，而无法对某些特定缺陷，如油污、划伤或者区域内聚集的玻璃粉等进行有效识别报警。在后续生产过程中，这些缺陷可能导致玻璃基板表面出现更大范围划伤，影响产品的质量。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的就在于解决上述
技术介绍
的问题，而提出一种玻璃基板缺陷识别示警方法、系统、电子设备和存储介质。
[0005]本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：
[0006]本专利技术实施例第一方面，首先提供了一种玻璃基板缺陷识别示警方法，所述方法包括：
[0007]采集目标液晶玻璃基板在多个不同颜色的显示背景时的图像，作为初始图像；所述初始图像中每一种颜色对应的图像有多张；
[0008]针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到该种颜色对应的待检测图像；
[0009]根据各种颜色对应的待检测图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型；
[0010]根据所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型确定示警模式，并进行示警。
[0011]可选地，针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到该种颜色对应的待检测图像：
[0012]针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行图像平均，得到第一图像；
[0013]将所述第一图像进行尺度归一化处理，得到第二图像；
[0014]通过预设高斯滤波器将所述第二图像的像素灰度进行平均，得到该种颜色对应的待检测图像。
[0015]可选地，所述预设高斯滤波器采用卷积核为3
×
3的二维高斯函数。
[0016]可选地，根据各种颜色对应的待检测图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型包括：
[0017]采用方差阈值法识别各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域；
[0018]采用OTSU方法将缺陷区域在待检测图像中进行分割和位置标记；
[0019]将各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域进行组合得到缺陷图像；
[0020]根据所述缺陷图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型。
[0021]可选地，采用方差阈值法识别各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域包括：
[0022]针对每一种颜色对应的待检测图像，将所述待检测图像平均划分为多个子区域；
[0023]计算各子区域的像素方差，确定像素方差大于该颜色对应的预设阈值的子区域为缺陷子区域；
[0024]将相邻的各缺陷子区域相连作为缺陷区域。
[0025]可选地，采用OTSU方法将缺陷区域在待检测图像中进行分割和位置标记包括：
[0026]将待检测图像的每个灰度级作为阈值分别计算缺陷区域与待检测图像的背景的类间方差，确定类间方差最大时的灰度级作为分割阈值；
[0027]使用所述分割阈值将缺陷区域在待检测图像中进行分割和位置标记。
[0028]可选地，表面缺陷的类型包括油污、划痕和玻璃粉附着；
[0029]根据所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型确定示警模式，并进行示警包括：
[0030]当所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型为油污和/或玻璃粉附着，确定示警模式为清洗示警，显示所述缺陷图像的位置标记和表面缺陷的类型；
[0031]当所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型为划痕，确定示警模式为修复示警，显示所述缺陷图像的位置标记和表面缺陷的类型。
[0032]本专利技术实施例第二方面，还提供了一种玻璃基板缺陷识别示警系统，包括采集模块、预处理模块、识别模块和示警模块；其中：
[0033]所述采集模块，用于采集目标液晶玻璃基板在多个不同颜色的显示背景时的图像，作为初始图像；所述初始图像中每一种颜色对应的图像有多张；
[0034]所述预处理模块，用于针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到该种颜色对应的待检测图像；
[0035]所述识别模块，用于根据各种颜色对应的待检测图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型；
[0036]所述示警模块，用于根据所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型确定示警模式，并进行示警。
[0037]本专利技术实施例第三方面，还提供了一种电子设备，其特征在于，包括处理器、通信接口、存储器和通信总线，其中，处理器，通信接口，存储器通过通信总线完成相互间的通信；
[0038]存储器，用于存放计算机程序；
[0039]处理器，用于执行存储器上所存放的程序时，实现上述任一所述的方法步骤。
[0040]本专利技术实施例第四方面，还提供了一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质内存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一所述的方法步骤。
[0041]本专利技术的有益效果：
[0042]本专利技术实施例提供了一种玻璃基板缺陷识别示警方法，采集目标液晶玻璃基板在多个不同颜色的显示背景时的图像，作为初始图像；初始图像中每一种颜色对应的图像有多张；针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到
该种颜色对应的待检测图像；根据各种颜色对应的待检测图像识别目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型；根据目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型确定示警模式，并进行示警。通过采集多种颜色背景下的初始图像进行缺陷识别，可以加强各种缺陷与背景之间的差异，有效进行缺陷识别降低误检率和漏检率，根据表面缺陷的类型确定示警模式进行示警，可以及时消除对应的表面缺陷，避免在后续生产中对玻璃基板表面造成损害，保证产品的质量。
附图说明
[0043]下面结合附图对本专利技术作进一步的说明。
[0044]图1为本专利技术实施例提供的一种玻璃基板缺陷识别示警方法的流程图；
[0045]图2为本专利技术实施例提供的一种玻璃基板缺陷识别示警系统的系统框图；
[0046]图3为本专利技术实施例提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0047]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0048]本专利技术实施例提供了一种玻璃基板缺陷识别示警方法本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，所述方法包括：采集目标液晶玻璃基板在多个不同颜色的显示背景时的图像，作为初始图像；所述初始图像中每一种颜色对应的图像有多张；针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到该种颜色对应的待检测图像；根据各种颜色对应的待检测图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型；根据所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型确定示警模式，并进行示警。2.根据权利要求1所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行预处理消除随机噪声和高频噪声，得到该种颜色对应的待检测图像：针对每一种颜色对应的图像，将多张图像进行图像平均，得到第一图像；将所述第一图像进行尺度归一化处理，得到第二图像；通过预设高斯滤波器将所述第二图像的像素灰度进行平均，得到该种颜色对应的待检测图像。3.根据权利要求2所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，所述预设高斯滤波器采用卷积核为3
×
3的二维高斯函数。4.根据权利要求1所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，根据各种颜色对应的待检测图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型包括：采用方差阈值法识别各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域；采用OTSU方法将缺陷区域在待检测图像中进行分割和位置标记；将各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域进行组合得到缺陷图像；根据所述缺陷图像识别所述目标液晶玻璃基板的表面缺陷的类型。5.根据权利要求4所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特征在于，采用方差阈值法识别各种颜色对应的待检测图像中的缺陷区域包括：针对每一种颜色对应的待检测图像，将所述待检测图像平均划分为多个子区域；计算各子区域的像素方差，确定像素方差大于该颜色对应的预设阈值的子区域为缺陷子区域；将相邻的各缺陷子区域相连作为缺陷区域。6.根据权利要求4所述的一种玻璃基板缺陷识别示警方法，其特...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈伟，陈亮，汪路遥，
申请(专利权)人：彩虹合肥液晶玻璃有限公司，
类型：发明
国别省市：