一种复合薄膜缺陷识别方法技术

本发明专利技术涉及缺陷识别技术领域，具体涉及一种复合薄膜缺陷识别方法，该方法包括：获取复合薄膜的表面灰度图像，根据灰度值确定疑似存在缺陷的复合薄膜图像；对图像进行分割得到疑似缺陷区域；根据设定尺寸大小的窗口内中心像素点的灰度值与窗口内其他像素点的灰度值差异得到像素点的灰度偏差指标；根据灰度偏差指标将像素点分为三个等级，确定可能缺陷像素点，利用可能缺陷像素点进行区域生长得到可能缺陷区域；获取可能缺陷区域的主成分方向所在线段的端点，根据可能缺陷区域对应的端点之间的距离得到非连通性指标，根据非连通性指标和指标阈值确定连通区域，根据连通区域识别复合薄膜的缺陷，本发明专利技术能够获得准确的缺陷识别结果。果。果。

【技术实现步骤摘要】
一种复合薄膜缺陷识别方法


[0001]本专利技术涉及缺陷识别
，具体涉及一种复合薄膜缺陷识别方法。

技术介绍

[0002]复合薄膜是由两层或多层不同材料的薄膜复合而成的高分子材料，主要用于包装。复合薄膜的表面皱褶是复合软包装材料加工及应用过程中常见的问题，所谓表面皱褶问题的表现是表层的薄膜向上凸起，表面皱褶问题会影响复合薄膜包装的美观性和质量，故需要对每一生产阶段处理后的复合薄膜进行表面缺陷识别，识别出皱褶缺陷。
[0003]常规的识别方法为利用阈值分割的方法对复合薄膜的表面图像进行处理，但是由于复合薄膜表面的褶皱缺陷主要呈现为近似隧道形状，灰度差异较不明显，且大多数的复合薄膜为白色，由于光照的存在会出现反光的情况影响阈值的选取，使得图像分割的结果并不准确，进而导致复合薄膜缺陷识别的结果也不准确。

技术实现思路

[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术的目的在于提供一种复合薄膜缺陷识别方法，所采用的技术方案具体如下：获取复合薄膜的表面灰度图像，根据所述表面灰度图像中像素点的灰度值确定疑似存在缺陷的复合薄膜图像；本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种复合薄膜缺陷识别方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：获取复合薄膜的表面灰度图像，根据所述表面灰度图像中像素点的灰度值确定疑似存在缺陷的复合薄膜图像；对所述复合薄膜图像进行阈值分割得到疑似缺陷区域；利用设定尺寸大小的窗口对疑似缺陷区域内像素点进行滑窗处理，根据窗口内中心像素点的灰度值与窗口内其他像素点的灰度值差异得到像素点的灰度偏差指标；根据灰度偏差指标将像素点分为三个等级，根据像素点对应的窗口内不同等级的数量确定可能缺陷像素点，利用可能缺陷像素点进行区域生长得到可能缺陷区域；获取可能缺陷区域的主成分方向所在线段的端点，根据可能缺陷区域对应的端点之间的距离得到非连通性指标，根据非连通性指标和指标阈值确定连通区域，根据连通区域识别复合薄膜的缺陷。2.根据权利要求1所述的一种复合薄膜缺陷识别方法，其特征在于，所述根据所述表面灰度图像中像素点的灰度值确定疑似存在缺陷的复合薄膜图像具体为：根据所述表面灰度图像中像素点的灰度值计算所述图像的颜色二阶矩，根据颜色二阶矩得到表面灰度图像对应的颜色特征值，将颜色特征值大于颜色阈值的表面灰度图像记为疑似存在缺陷的复合薄膜图像。3.根据权利要求1所述的一种复合薄膜缺陷识别方法，其特征在于，所述对所述复合薄膜图像进行阈值分割得到疑似缺陷区域具体为：根据所述复合薄膜图像中像素点的灰度值构建灰度直方图，获取灰度直方图中两个波谷对应的灰度值，将两个波谷对应的灰度值较小的记为第一分割阈值，将两个波谷对应的灰度值较大的记为第二分割阈值；灰度值小于第一分割阈值的像素点构成的区域以及灰度值大于第二分割阈值的像素点构成的区域为疑似缺陷区域。4.根据权利要求1所述的一种复合薄膜缺陷识别方法，其特征在于，所述灰度偏差指标的获取方法具体为：其中，表示第个像素点对应的灰度偏差指标，表示第z个像素点的...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑小平，苏文晓，陈奎，张继林，齐鹏堂，简粤，胡玫，
申请(专利权)人：兰州理工大学，
类型：发明
国别省市：