一种三轴线圈模拟磁场系统正交性校准装置及校准方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种三轴线圈模拟磁场系统正交性校准装置及校准方法，包括基座、立方体棱镜和磁强计，所述基座为玻璃制成的长方体形状，所述基座中心位置设有垂直于基座表面的无磁立柱，所述立方体棱镜为玻璃制成的正方体形状，所述立方体棱镜相邻三个面中心位置均设有与所述无磁立柱相匹配的孔槽，所述立方体棱镜没有孔槽的一面中心开设有立方柱形状的凹槽，所述凹槽与所述磁强计相匹配。本申请可随时进行装置自校准，整个校准方法简单可靠，校准精度高，同时可完成三轴线圈磁场与周围物体的位置关系，同时整个装置采用无磁设计，测量系统和方法简单，测量效率高，花费时间短，光学棱镜保证了装置的绝对正交度，可在自然环境下进行正交性自校准。正交性自校准。正交性自校准。

【技术实现步骤摘要】
一种三轴线圈模拟磁场系统正交性校准装置及校准方法


[0001]本专利技术涉及磁场测量
，尤其涉及一种三轴线圈模拟磁场系统正交性校准装置及校准方法。

技术介绍

[0002]三轴线圈磁场模拟系统是一种利用通电线圈产生磁场的装置，其形状各不相同，通电后可产生三方向的磁场，可在线圈内部中心位置生成均匀区，常见的三轴线圈磁场模拟系统有亥姆霍兹线圈，威德里希线圈、布朗贝克线圈等，该系统可以用来抵消地磁场，制造出接近零磁场的区域，也可模拟任意磁场环境，在航天、航空、电子等领域的生产和科研中有较大的实用价值，也常用于弱磁场的计量标准，因此，对其三轴产生磁场的正交性要求也非常高。
[0003]目前，三轴线圈磁场模拟系统的正交性，主要是依靠三轴线圈建设初期，利用各种仪器对其进行校准，后期利用刚性结构进行支撑和保持，在使用过程中，这种结构会发生微变形，另外，地球磁场每年也在发生变化，这些因素使得三轴线圈产生磁场的正交性受到影响，而随着科学技术的进步，生产、科研和计量对三轴线圈产生磁场的正交性要求也越来越严，这就使得三轴线圈磁场在使用前，对其正交性必须测本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种三轴线圈模拟磁场系统正交性校准装置，其特征在于，包括基座（1）、立方体棱镜（2）和磁强计（3），所述基座（1）为玻璃制成的长方体形状，所述基座（1）中心位置设有垂直于基座（1）表面的无磁立柱（4），所述立方体棱镜（2）为玻璃制成的正方体形状，所述立方体棱镜（2）相邻三个面中心位置均设有与所述无磁立柱（4）相匹配的孔槽（5），所述立方体棱镜（2）没有孔槽（5）的一面中心开设有立方柱形状的凹槽（6），所述凹槽（6）与所述磁强计（3）相匹配。2.根据权利要求1所述的一种三轴线圈模拟磁场系统正交性校准装置，其特征在于，所述基座（1）表面经过光学处理接近绝对水平，所述基座（1）上设有至少四个可向下拧动的无磁螺丝，用于所述基座（1）水平面的调节。3.根据权利要求1所述的一种三轴线圈模拟磁场系统正交性校准装置，其特征在于，所述立方体棱镜（2）表面和各个棱角经过光学处理，接近水平和垂直。4.根据权利要求1所述的一种三轴线圈模拟磁场系统正交性校准装置，其特征在于，所述凹槽（6）深度方向的四条边和立方体棱镜（2）的四条边平行。5.根据权利要求1所述的一种三轴线圈模拟磁场系统正交性校准装置，其特征在于，所述磁强计（3）为三轴磁强计，位于所述凹槽（6）内，所述磁强计（3）三方向的中心位置和立方体棱镜（2）三面开孔槽（5）的位置重合。6.根据权利要求1
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5任一项所述的一种三轴线圈模拟磁场系统正交性校准装置的校准方...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐超群，于灵慧，肖琦，刘超波，陈冬，陈德祥，耿晓磊，霍德聪，谢松，张天宇，张勇，孙京山，张艳景，李娜，王琪，
申请(专利权)人：航天东方红卫星有限公司，
类型：发明
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