一种无线链路环回测试的方法及其装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种无线链路环回测试的方法及其装置，其包括如下步骤：信号源输出的信号输入到待测设备的接收通道，进行下变频处理，通过一模数转换器采样，以及环回处理单元用于抽取、滤波，并将数据环回到发射通道；对从所述环回处理单元环回的数据进行内插、滤波，发送到数模转换器，上变频到射频信号，通过所述发射通道送到矢量信号分析仪进行解调后分析。本发明专利技术无线链路环回测试的方法及装置由于采用从ＦＰＧＡ／ＤＳＰ模块处环回的方式，用仪器直接测试链路性能，避免了通过复杂的基带处理来实现链路的检测，提高了测试效率，大大缩短了开发周期，降低了系统开发的难度，并提高了系统的可靠性。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种无线链路环回测试的方法，其包括如下步骤：　　　　Ａ、信号源输出的信号输入到待测设备的接收通道，进行下变频处理，通过一模数转换器采样，以及环回处理单元用于抽取、滤波，并将数据环回到发射通道；　　　　Ｂ、对从所述环回处理单元环回的数据进行内插、滤波，发送到数模转换器，上变频到射频信号，通过所述发射通道送到矢量信号分析仪进行解调后分析。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：瞿兆斌，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]