一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置及方法制造方法及图纸

一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置，包括激光干涉仪、多维调整台、波像差测量组件和平面镜，激光干涉仪放置在光学望远镜的外部用于向光学望远镜的内部发射测试光，以检测多个视场的波像差数据；多维调整台用于调整光学望远镜中光学元件位置、角度，以模拟望远镜成像质量下降的情况；波像差测量组件设置在望远镜的像面处用于测量光学望远镜成像质量下降后的波像差，平面镜用于反射测试光。本发明专利技术涉及一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试方法，通过对比模拟像质下降时和校正时光学元件的位移量和转动角度判断主动光学校正系统的校正精度，对比模拟像质下降前和校正时后的波像差，判断校正后的像质是否达到模拟像质下降前的像质。像质下降前的像质。像质下降前的像质。

【技术实现步骤摘要】
一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置及方法


[0001]本专利技术涉及光学测量领域，更具体地，涉及一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试方法及装置。

技术介绍

[0002]大口径光学望远镜在地球科学、天文科学、军事应用和民用生产等众多领域发挥着重要作用，并且在环境监测、地球辐射监测、天文观测以及深空探测等方面有着广阔的应用前景。随着我国各行各业技术的不断进步及发展，光学望远镜其口径不断增加、焦距不断增长，整体尺寸变大，当光学望远镜的支撑结构受到温度或外力等因素影响时，自身结构会产生形变，导致系统中不同光学元件之间相对位置发生变化，同时，光学镜面与支撑结构之间的状态也会受外界因素影响而发生改变，会导致镜面不同部位所受应力变化，引起镜面位移或者变形，这些问题会造成光学望远镜成像质量下降，降低其观测性能，进而无法获得有效数据，造成巨大经济损失，并且口径越大的光学望远镜，其成像质量受重力、环境等外界因素的影响就越显著。
[0003]在现有技术中，通过主动光学校正系统对光学望远镜中的光学元件进行校正，使其成像质量恢复到正常工作状态。常用的主本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置，其特征在于，包括激光干涉仪(1)、多维调整台(22)、平面镜(3)和波像差测量组件(4)，所述激光干涉仪(1)设置在光学望远镜的外部，用于向光学望远镜的内部发射检测光以检测视场波像差数据；所述多维调整台(22)位于光学望远镜内部，并且设置在光学元件的背部，用于调整光学元件的位置、角度，模拟光学望远镜成像质量下降；所述波像差测量组件(4)设置在光学望远镜的像面位置处，用于测量光学望远镜成像质量下降后的波像差；所述平面镜(3)设置在望远镜的外部，所述平面镜(3)的反射面与光学望远镜中主镜(23)反射测试光的方向相对。2.根据权利要求1所述的一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置，其特征在于，还包括夹持架(5)，所述波像差测量组件(4)包括波前传感器(41)、测试光源(42)；所述夹持架(5)位于光学望远镜的像面处，所述波像差传感器(41)设置在夹持架(5)上，波前传感器(41)与光学望远镜的边缘视场相对应；所述测试光源(42)设置在波前传感器(41)旁，所述波前传感器和(41)和测试光源(42)的数量相等且至少为三个。3.根据权利要求1所述的一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置，其特征在于，所述光学元件为次镜(21)。4.根据权利要求1所述的一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置，其特征在于，所述多维调整台(22)为H811.I2/12V型六足位移台。5.一种基于权利要求2
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4任一所述的光学望远镜主动光学校正系统校正精度测试装置的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：S1：通过激光干涉仪(1)检测光学望远镜视场的波像差数据；S2：改变光学望远镜中光学元件的位置和角度，模拟光学望远镜像质下降的情况，记录下光学元件的位移量及转动角度，通过不同的波前传感器(41)在像面位置处测试不同视场的波像差数据；S3：主动光学校正系统根据S2测得的波像差数据对S2中移动或者转动的光学元件校正，并记录下光学元件校正的位移量和转动角度；S4：对比模拟像质下降时和校正时光学元件的位移量和转动角度，判断校正精度；S5：激光干涉仪(1)在与S1相同位置条件下检测的光学望远镜视场的波像差；S6：对比S1和S5波像差数值，判断校正后的像质是否达到模拟像质下降前的像质。6.根据权利要求5所述的一种望远镜主动光学校正系统校正精度测试方法，其特征在于，检测当前光学望远镜视场的波像差具体步骤为：S1.1：检测光学望远镜中心视场的波像差；S1.2：检测光学望远镜除中心视场以外的不同视场波像差。7.根据权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱硕，汪宗洋，王煜，黄剑翔，边松岩，
申请(专利权)人：无锡学院，
类型：发明
国别省市：