带治具损耗统计的生产测试方法、系统、存储介质和设备技术方案

本发明专利技术涉及一种带治具损耗统计的生产测试方法、系统、存储介质和设备，其中生产测试方法包括：在测试程序运行开始前，获取MES系统所存储的治具上的测试部件的累计测试次数；判断所获取的累计测试次数是否大于或等于测试次数限值；如是，则锁定测试程序；如否，则运行测试程序，控制测试部件进行逐次测试；获取测试部件进行逐次测试的测试次数，或者，获取根据测试部件所进行的逐次测试进行更新后的累计测试次数；在测试程序运行结束后，将测试次数或所更新的累计测试次数上传至MES系统，以更新MES系统所存储的累计测试次数。本发明专利技术可以解决治具上的测试部件累计测试次数很难被有效统计而无法及时更换测试部件的问题，提升产品良品率和产品质量。品良品率和产品质量。品良品率和产品质量。

【技术实现步骤摘要】
带治具损耗统计的生产测试方法、系统、存储介质和设备


[0001]本专利技术涉及产品测试
，更具体地，涉及一种带治具损耗统计的生产测试方法、系统、存储介质和设备。

技术介绍

[0002]治具是协助控制位置和/或动作的一种工具，常被应用于工艺装配、产品测试等。对于测试类治具，治具上的某个或某些测试部件是属于易损耗部件，如果这些易损耗的测试部件不能被及时的更换，会导致测试直通率低或者经过测试后的产品质量仍存在异常的问题。有一些测试部件是在上万次的使用后才要求更换的，每两次更换时间的间隔较长，而且在两次更换时间之间的间隔还存在针对不同产品的测试治具切换的情况，因此测试部件的累计测试次数是很难被有效统计的，何时需要更换测试部件也很难被确定。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在克服上述现有技术的至少一种缺陷(不足)，提供一种带治具损耗统计的生产测试方法、系统、存储介质和设备，用于解决治具上的测试部件累计测试次数很难被有效统计而无法及时更换测试部件的问题。
[0004]本专利技术采取的技术方案是：/>[0005]第一本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种带治具损耗统计的生产测试方法，其特征在于，包括：在测试程序运行开始前，获取MES系统所存储的治具上的测试部件的累计测试次数；判断所获取的所述累计测试次数是否大于或等于测试次数限值；如是，则锁定所述测试程序；如否，则运行所述测试程序，控制所述测试部件进行逐次测试；获取所述测试部件进行逐次测试的测试次数，或者，获取根据所述测试部件所进行的逐次测试进行更新后的所述累计测试次数；在所述测试程序运行结束后，将所述测试次数或所更新的所述累计测试次数上传至所述MES系统，以更新所述MES系统所存储的累计测试次数。2.根据权利要求1所述的一种带治具损耗统计的生产测试方法，其特征在于，获取根据所述测试部件所进行的逐次测试进行更新后的所述累计测试次数，具体包括：在采用所述测试部件进行第一次测试时，将所获取的所述累计测试次数发送至计数器，以使所述计数器将所述累计测试次数作为当前计数，所述计数器在所述测试部件每进行一次测试后，将当前计数加1作为新的当前计数；在采用所述测试部件进行最后一次测试时，获取所述计数器的当前计数作为根据所述测试部件所进行的逐次测试进行更新后的所述累计测试次数。3.根据权利要求1所述的一种带治具损耗统计的生产测试方法，其特征在于，获取根据所述测试部件所进行的逐次测试进行更新后的所述累计测试次数，具体包括：在采用所述测试部件进行第一次测试时，将所获取的所述累计测试次数发送至计数器，以使所述计数器将所述累计测试次数作为当前计数，所述计数器在触发开关每被触发一次后，将当前计数加1作为新的当前计数；所述触发开关在每采用所述测试部件进行一次测试时被触发一次；在采用所述测试部件进行最后一次测试时，获取所述计数器的当前计数作为根据所述测试部件所进行的逐次测试进行更新后的所述累计测试次数。4.根据权利要求1所述的一种带治具损耗统计的生产测试方法，其特征在于，获取所述测试部件进行逐次测试的测试次数，具体包括：在采用所述测试部件进行第一次测试时，将所获取的所述累计测试次数发送至计数器，以使所述计数器将所述累计测试次数作为当前计数；所述计数器在触发开关每被触发一次后，将当前计数加1作为新的当前计数；所述触发开关在每采用所述测试部件进行一次测试时...

【专利技术属性】
技术研发人员：郭征，李坤，
申请(专利权)人：广州视琨电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：