光学检测装置制造方法及图纸

技术编号:36365958 阅读:57 留言:0更新日期:2023-01-14 18:31
本实用新型专利技术提供一种光学检测装置,属于光学检测技术领域。光学检测装置包括检测台、光学发射组件和光学检测组件,检测台具有一用于放置待测对象的待测位置;光学发射组件滑动连接于检测台,并用于向待测位置发射特定波长的光;光学检测组件滑动连接于检测台,并用于捕获待测对象发射的荧光。光学发射组件和光学检测组件均滑动连接于检测台,极大地方便了光学发射组件和光学检测组件与待测位置之间的位置调整,整个检测过程中,光学发射组件和光学检测组件的位置移动灵活,有利于提高与待测位置对准的精度,进而提高光学检测装置的检测精度和检测效率。度和检测效率。度和检测效率。

【技术实现步骤摘要】
光学检测装置
[0001]本申请要求申请日为2022年08月29日的中国专利申请202211042982.1的优先权。本申请引用上述中国专利申请的全文。


[0002]本技术属于光学检测
,特别涉及一种光学检测装置。

技术介绍

[0003]在各种分子生物学科学研究和临床医学分子诊断过程中,经常用光学检测装置对待测对象进行检测。光学检测装置通过光源件向待测对象发射特定波长的光,待测对象在激发光照射下发射荧光,光学检测装置再通过相机对待测对象发射的荧光进行捕获,从而对待测对象进行进一步地分析。然而现有的光学检测装置的光源件和相机的位置是固定的,只可通过移动待测对象实现其与光学检测装置的对准,导致检测精度和检测效率均较低。

技术实现思路

[0004]本技术要解决的技术问题是为了克服现有技术中光学检测装置的检测精度低、检测效率低的缺陷,提供一种光学检测装置。
[0005]本技术是通过下述技术方案来解决上述技术问题:
[0006]一种光学检测装置,其包括:
[0007]检测台,所述检测台具有一用于放置待测对象的待测位置;
[0008]光学发射组件,所述光学发射组件滑动连接于所述检测台,并用于向所述待测位置发射特定波长的光;
[0009]光学检测组件,所述光学检测组件滑动连接于所述检测台,并用于捕获所述待测对象发射的荧光。
[0010]在本方案中,光学发射组件和光学检测组件均滑动连接于检测台,极大地方便了光学发射组件和光学检测组件与待测位置之间的位置调整,光学发射组件发射的特定波长的光照射到待测对象上,待测对象在该光的激发下发射荧光,该荧光被光学检测组件捕获以方便进一步对待测对象进行分析。整个检测过程中,光学发射组件和光学检测组件的位置移动灵活,有利于提高与待测位置对准的精度,进而提高光学检测装置的检测精度和检测效率。
[0011]较佳地,当所述光学检测装置进行检测时,所述光学检测组件正对所述待测位置,所述光学发射组件斜对所述待测位置,且所述光学发射组件位于所述光学检测组件的捕光范围之外。
[0012]在本方案中,光学检测装置进行检测时,光学检测组件正对待测位置,有利于光学检测装置对待测对象发射的荧光进行捕获,进而保证待测对象的成像完整;光学发射组件斜对待测位置,且位于光学检测组件的捕光范围之外,使得光学发射组件在向待测位置发
射特定波长的光的同时,避免对光学检测组件对待测对像发射的荧光的捕获进行干扰。
[0013]较佳地,所述光学发射组件包括光源件、第一滤光片和底座;
[0014]所述底座具有通光孔;
[0015]所述第一滤光片设置于所述底座靠近所述待测位置的一侧,并封堵所述通光孔;
[0016]所述光源件设置于所述底座远离所述待测位置的一侧,所述光源件发射的光能够穿过所述通光孔并经所述第一滤光片过滤后照射到所述待测位置。
[0017]在本方案中,光源件在向待测位置发射光时,发射的光首先通过底座的通光孔,再经第一滤光片进行过滤,使得透过第一滤光片的光为检测所需的特定波长的光,以便使待测位置的待测对象吸收光能进入激发态,进而发射荧光,方便光学检测组件的检测。
[0018]较佳地,所述光学发射组件还包括散热件,所述散热件连接于所述底座的设置有所述光源件的一侧,所述散热件包括多个间隔设置的散热片。
[0019]在本方案中,光源件在工作状态下会不断地产生热量,通过散热件可以方便地对光源件进行散热,保证光源件的正常工作;散热件上多个间隔设置的多个散热片有利于增大与空气的接触面积,进一步增大散热效果。
[0020]较佳地,所述光学检测组件包括相机,所述相机的镜头正对所述待测位置,所述相机内设有第二滤光片。
[0021]在本方案中,相机成像方便快速,有利于提高检测效率;相机内设置的第二滤光片可以针对性地过滤出待测对象中目标物质发射的荧光,方便对成像结果进行判断。
[0022]较佳地,所述光学检测装置还包括滑动组件,所述滑动组件包括滑轨和滑块,所述光学检测组件和所述光学发射组件同时连接所述滑轨或所述滑块中的一种,所述检测台连接所述滑轨或所述滑块中的另一种。
[0023]在本方案中,光学检测组件和光学发射组件通过滑动组件实现与检测台之间的相对移动,有利于提高与待测位置对准的精度,进而提高光学检测装置的检测精度和检测效率;滑轨和滑块的滑动配合方式,结构简单,设置方便,移动稳定。
[0024]较佳地,所述光学发射组件还包括光源支架,所述光学检测组件还包括相机支架,所述光源支架连接于所述相机支架,所述相机支架通过所述滑动组件与所述检测台滑动连接。
[0025]在本方案中,光源支架对光源件、第一滤光片、底座和散热件进行支撑,使得结构设置更加紧凑;相机支架对相机进行支撑;光源支架与相机支架相连接,只需要通过滑动组件移动相机支架即可实现相机支架和光源支架相对检测台的同步移动,提高移动效率。
[0026]较佳地,所述滑动组件还包括滑动板,所述滑动板的上下两侧分别连接所述相机支架和所述滑块,所述滑轨设置于所述检测台上。
[0027]在本方案中,滑动板为光学检测组件和光学发射组件提供安装平台,同时使得光学检测组件和光学发射组件的移动更加稳定;滑轨设置于检测台上,方便滑块在其上移动,提高光学检测组件和光学发射组件的移动效率。
[0028]较佳地,所述检测台上设有第一限位件和第二限位件,所述第一限位件和所述第二限位件分别设于所述滑轨的两端以对所述滑动板的移动进行限位。
[0029]在本方案中,第一限位件和第二限位件通过对滑动板的移动进行限位,可以避免光学发射组件和光学检测组件在移动过程中超出位移范围,同时有利于光学发射组件和光
学检测组件在滑轨两端的定位。
[0030]较佳地,所述光学检测装置还包括控制组件,所述控制组件用于控制所述光学发射组件和所述光学检测组件的启闭和移动。
[0031]在本方案中,通过控制组件对学发射组件和光学检测组件的启动和关闭进行控制,同时对光学发射组件和光学检测组件在检测台上的移动进行控制,实现整个检测过程的自动化,有利于提高检测效率。
[0032]本技术的积极进步效果在于:
[0033]在本技术中,光学发射组件和光学检测组件均滑动连接于检测台,极大地方便了光学发射组件和光学检测组件与待测位置之间的位置调整,光学发射组件发射的特定波长的光照射到待测对象上,待测对象在该光的激发下发射荧光,该荧光被光学检测组件捕获以方便进一步对待测对象进行分析。整个检测过程中,光学发射组件和光学检测组件的位置移动灵活,有利于提高与待测位置对准的精度,进而提高光学检测装置的检测精度和检测效率。
附图说明
[0034]图1为本技术一实施例的光学检测装置的立体结构示意图。
[0035]图2为本技术一实施例的光学发射组件的立体结构示意图。
[0036]图3为本实用新本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光学检测装置,其特征在于,其包括:检测台,所述检测台具有一用于放置待测对象的待测位置;光学发射组件,所述光学发射组件滑动连接于所述检测台,并用于向所述待测位置发射特定波长的光;光学检测组件,所述光学检测组件滑动连接于所述检测台,并用于捕获所述待测对象发射的荧光。2.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,当所述光学检测装置进行检测时,所述光学检测组件正对所述待测位置,所述光学发射组件斜对所述待测位置,且所述光学发射组件位于所述光学检测组件的捕光范围之外。3.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在于,所述光学发射组件包括光源件、第一滤光片和底座;所述底座具有通光孔;所述第一滤光片设置于所述底座靠近所述待测位置的一侧,并封堵所述通光孔;所述光源件设置于所述底座远离所述待测位置的一侧,所述光源件发射的光能够穿过所述通光孔并经所述第一滤光片过滤后照射到所述待测位置。4.如权利要求3所述的光学检测装置,其特征在于,所述光学发射组件还包括散热件,所述散热件连接于所述底座的设置有所述光源件的一侧,所述散热件包括多个间隔设置的散热片。5.如权利要求1所述的光学检测装置,其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈峰孙文聪杨小乐
申请(专利权)人:迈恩生物科技上海有限公司
类型:新型
国别省市:

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