本实用新型专利技术涉及质量检测装置技术领域，具体为一种电子元器件质量检测装置，包括检测箱，检测箱的内部顶端安装有检测摄像头，检测箱的内部底端设置有第一凸型槽，第一凸型槽的内部设置有设置有第一凸型块，第一凸型块的顶端固定连接有输送板，输送板的顶端右侧设置有第二凸型槽，第二凸型槽的内部滑动设置有第二凸型块，第二凸型块的内部螺纹连接有第一螺杆，第一螺杆与输送板转动连接，第二凸型块的顶端和输送板的顶端左侧固定均固定连接有竖板，两个竖板相对的一端均通过转轴转动连接有连接板；其便于对电子元器件进行转动，便于对电子元器件的各个端面进行质量检测，操作简单方便，操作简单方便，提高了对电子元器件检测的效率。的效率。的效率。
【技术实现步骤摘要】
一种电子元器件质量检测装置
[0001]本技术涉及质量检测装置
，具体为一种电子元器件质量检测装置。
技术介绍
[0002]众所周知，电子元器件是电子元件和小型的机器、仪器的组成部分，其本身常由若干零件构成，可以在同类产品中通用，常指电器、无线电、仪表等工业的某些零件，是电容、晶体管、游丝、发条等电子器件的总称，常见的有二极管等，电子元器件在生产完成之后，需要通过质量检测装置对其进行质量检测，电子元器件的检测现有通过机器视觉的方式对其质量进行检测。
[0003]经检索，中国专利号为CN202022846418.8的技术专利公开了一种散热电子元器件质量检测装置，包括检测箱，检测箱的正面固定连接有玻璃面板，检测箱的内顶壁固定连接有检测摄像头，其在使用时，通过检测摄像头对电子元器件的顶端进行捕捉画面，进行质量检测，其不便于对电子元器件的其他端面进行检测，如果需要对其它面进行检测时，需要将电器元器件拆卸下来，将需要将检测的面朝上，然后在固定进行检测，操作交繁琐，降低了对电子元器件检测的效率。
技术实现思路
[0004](一)解决的技术问题
[0005]针对现有技术的不足，本技术提供了一种电子元器件质量检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种电子元器件质量检测装置，包括检测箱，检测箱的内部顶端安装有检测摄像头，所述检测箱的内部底端设置有第一凸型槽，第一凸型槽的内部设置有设置有第一凸型块，第一凸型块的顶端固定连接有输送板，输送板的顶端右侧设置有第二凸型槽，第二凸型槽的内部滑动设置有第二凸型块，第二凸型块的内部螺纹连接有第一螺杆，第一螺杆与输送板转动连接，第二凸型块的顶端和输送板的顶端左侧固定均固定连接有竖板，两个竖板相对的一端均通过转轴转动连接有连接板，转轴与连接板固定连接，两个连接板相对的一端均设置有第一滑槽，第一滑槽的内部转动连接有双向螺杆，双向螺杆的外部螺纹连接有两个滑块，两个滑块关于双向螺杆的中心面对称设置，两个滑块均与第一滑槽滑动配合，各滑块的侧端均固定连接有夹板，夹板的侧端固定连接有橡胶垫，位于右侧的竖板的右端设置有用于对位于右侧的连接板进行转动的旋转机构。
[0008]优选的，所述旋转机构包括圆板，圆板的侧端与位于右侧的转轴的右端固定连接，圆板的内部设置第二滑槽，第二滑槽的内部滑动设置有滑板，滑板的右端连接有多个压缩弹簧和方柱，圆板的右端设置有与第二滑槽内部连通的方槽，方柱与方槽滑动配合，滑板的左端固定连接有两个卡柱，两个卡柱的左端均延伸至圆板的左侧，位于右侧的竖板的右端
呈圆形阵列设置有多个卡槽，两个卡柱分别插入至相对应的两个卡槽的内部。
[0009]进一步的，所述第一螺杆的右端固定连接有第一转把。
[0010]再进一步的，所述双向螺杆的顶端固定连接有转杆，转杆的顶端延伸至连接板的上侧且固定连接有第二转把。
[0011]进一步的方案，所述方柱的右端固定连接有第三转把。
[0012]在前述方案的基础上，所述检测箱的前端设置有观察槽，观察槽的内部固定连接有透明玻璃。
[0013]在前述方案的基础上进一步的，所述第一凸型块的左端嵌入安装有第一磁块，第一凸型槽的左端嵌入安装有第二磁块。
[0014](三)有益效果
[0015]与现有技术相比，本技术提供了一种电子元器件质量检测装置，具备以下有益效果：
[0016]该电子元器件质量检测装置，通过转动第一螺杆，第一螺杆转动使第二凸型块在第二凸型槽的内部滑动，第二凸型块带动位于右侧的竖板移动，调节两个竖板之间的距离，便于对不同长度的电子元器件进行固定，通过转动双向螺杆，双向螺杆转动使两个滑块向相反的方向移动，便于调节两个夹板之间的距离，便于对不同厚度的电子元器件进行固定，通过旋转机构转动转轴和连接板，连接板带动电子元器件进行转动，便于电子元器件需要检测的一端旋转至上侧，然后通过检测摄像头捕捉画面进行质量检测，便于对电子元器件进行转动，便于对电子元器件的各个端面进行质量检测，操作简单方便，操作简单方便，提高了对电子元器件检测的效率。
附图说明
[0017]图1为本技术的剖面结构示意图；
[0018]图2为本技术的前视结构示意图；
[0019]图3为本技术图1中A处的局部放大结构示意图；
[0020]图4为本技术图1中B处的局部放大结构示意图。
[0021]图中：1、检测箱；2、检测摄像头；3、第一凸型块；4、输送板；5、第二凸型块；6、第一螺杆；7、竖板；8、连接板；9、双向螺杆；10、滑块；11、夹板；12、橡胶垫；13、圆板；14、滑板；15、压缩弹簧；16、方柱；17、卡柱；18、第一转把；19、转杆；20、第二转把；21、第三转把；22、透明玻璃；23、第一磁块；24、第二磁块。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]实施例
[0024]请参阅图1
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4，一种电子元器件质量检测装置，包括检测箱1，检测箱1的前端设置有观察槽，观察槽的内部固定连接有透明玻璃22，通过透明玻璃22便于观察检测箱1内部的
情况，检测箱1的内部顶端安装有检测摄像头2，检测箱1的内部底端设置有第一凸型槽，第一凸型槽的内部设置有设置有第一凸型块3，第一凸型块3的左端嵌入安装有第一磁块23，第一凸型槽的左端嵌入安装有第二磁块24，通过第一磁块23与第二磁块24相吸对第一凸型块3进行固定，第一凸型块3的顶端固定连接有输送板4，输送板4的顶端右侧设置有第二凸型槽，第二凸型槽的内部滑动设置有第二凸型块5，第二凸型块5的内部螺纹连接有第一螺杆6，第一螺杆6的右端固定连接有第一转把18，通过第一转把18便于对第一螺杆6进行转动，第一螺杆6与输送板4转动连接，第二凸型块5的顶端和输送板4的顶端左侧固定均固定连接有竖板7，两个竖板7相对的一端均通过转轴转动连接有连接板8，转轴与连接板8固定连接，两个连接板8相对的一端均设置有第一滑槽，第一滑槽的内部转动连接有双向螺杆9，双向螺杆9的顶端固定连接有转杆19，转杆19的顶端延伸至连接板8的上侧且固定连接有第二转把20，通过第二转把20便于对转杆19和双向螺杆9进行转动，双向螺杆9的外部螺纹连接有两个滑块10，两个滑块10关于双向螺杆9的中心面对称设置，两个滑块10均与第一滑槽滑动配合，各滑块10的侧端均固定连接有夹板11，夹板11的侧端固定连接有橡胶垫12，位于右侧的竖板7的右端设置有用于对位于右侧的连接板8进行转动的旋转机构，通过转动第一螺杆6，第一螺杆6转动使第本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电子元器件质量检测装置，包括检测箱(1)，检测箱(1)的内部顶端安装有检测摄像头(2)，其特征在于：所述检测箱(1)的内部底端设置有第一凸型槽，第一凸型槽的内部设置有设置有第一凸型块(3)，第一凸型块(3)的顶端固定连接有输送板(4)，输送板(4)的顶端右侧设置有第二凸型槽，第二凸型槽的内部滑动设置有第二凸型块(5)，第二凸型块(5)的内部螺纹连接有第一螺杆(6)，第一螺杆(6)与输送板(4)转动连接，第二凸型块(5)的顶端和输送板(4)的顶端左侧固定均固定连接有竖板(7)，两个竖板(7)相对的一端均通过转轴转动连接有连接板(8)，转轴与连接板(8)固定连接，两个连接板(8)相对的一端均设置有第一滑槽，第一滑槽的内部转动连接有双向螺杆(9)，双向螺杆(9)的外部螺纹连接有两个滑块(10)，两个滑块(10)关于双向螺杆(9)的中心面对称设置，两个滑块(10)均与第一滑槽滑动配合，各滑块(10)的侧端均固定连接有夹板(11)，夹板(11)的侧端固定连接有橡胶垫(12)，位于右侧的竖板(7)的右端设置有用于对位于右侧的连接板(8)进行转动的旋转机构。2.根据权利要求1所述的一种电子元器件质量检测装置，其特征在于：所述旋转机构包括圆板(13)，圆板(13)的侧端与位于右侧的转轴的右端固定连接，圆板(13)...
【专利技术属性】
技术研发人员：马冉，程俊铭，
申请(专利权)人：程俊铭，
类型：新型
国别省市：
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