本发明专利技术公开了一种定位装置及光学系统测试设备，其属于光学测试技术领域，定位装置包括承载平台、固定块、滑动块和锁紧组件，承载平台具有参考平面，参考平面上设置有若干条刻度线；固定块与承载平台固定连接，固定块具有第一定位面，第一定位面与一条刻度线对齐；滑动块与承载平台滑动连接，滑动块具有第二定位面，第二定位面能够与另一条刻度线对齐，待定位件能够夹设于第一定位面与第二定位面之间；锁紧组件与滑动块连接，锁紧组件能够被按压和释放以选择性锁紧滑动块与承载平台。光学系统测试设备包括如上所述的定位装置。在定位过程中，只需移动和锁紧滑动块，减少定位时间，且有刻度线做参考，提高定位精度的同时能够保护待定位件。定位件。定位件。
【技术实现步骤摘要】
定位装置及光学系统测试设备
[0001]本专利技术涉及光学测试
，涉及一种定位装置及光学系统测试设备。
技术介绍
[0002]在光学检测领域，尤其是对于一些将应用于重要的生产或生活场合的光学系统，为评判其合格与否，需对一些关键指标进行逐一测试。而这类光学系统往往是批量生产的，因此具有待检产品数量多、检测方案类似的特点。
[0003]光学芯片是用来完成光电信号转换的，相当于信息中转站，它在移动设备上属于一个核心设备。在光学芯片生产的过程中，在出厂之前需要对光学芯片进行测试，以保证其质量合格能够真正工作，避免给消费者带来不好的体验感。光学芯片往往是批量生产的，因此具有待检产品数量多、检测方案类似的特点。
[0004]现有的光学芯片测试的时候，参见图1，大多数都是通过人工将光学芯片10＇置于检测平台20＇上，再通过几个定位片30＇夹紧光学芯片10＇，定位片30＇与检测平台20＇之间通过螺栓40＇锁紧固定。上述定位方式，每检测完一个光学芯片10＇，需要手动旋松螺栓40＇，更换另一个光学芯片10＇之后，再旋紧螺栓40＇，定位时间长；光学芯片10＇易夹伤：拧紧螺栓40＇的过程中，定位片30＇会轻微移动，需要不断调整，过程中有夹伤光学芯片10＇的风险；固定过紧会导致光学芯片10＇夹伤或者卡死，固定过松会导致定位存在误差，定位精度难以保证。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的在于提供一种定位装置及光学系统测试设备，以减少定位时间，提高定位精度，保护待定位件。
[0006]如上构思，本专利技术所采用的技术方案是：
[0007]一种定位装置，包括：
[0008]承载平台，具有参考平面，所述参考平面上设置有若干条刻度线；
[0009]固定块，与所述承载平台固定连接，所述固定块具有第一定位面，所述第一定位面与一条所述刻度线对齐；
[0010]滑动块，与所述承载平台滑动连接，所述滑动块具有第二定位面，所述第二定位面能够与另一条所述刻度线对齐，待定位件能够夹设于所述第一定位面与所述第二定位面之间；
[0011]锁紧组件，与所述滑动块连接，所述锁紧组件能够被按压和释放以选择性锁紧所述滑动块与所述承载平台。
[0012]其中，所述承载平台包括平台本体和固定于所述平台本上的导轨，所述导轨上设置有若干条主刻度线形成主尺，所述滑动块上设置有若干条副刻度线形成游标尺，所述游标尺与所述主尺滑动连接形成游标卡尺。
[0013]其中，所述第一定位面与所述主刻度线的零刻度对齐。
[0014]其中，所述锁紧组件包括按压件和锁紧件，所述按压件与所述滑动块弹性连接，所述锁紧件与所述滑动块转动连接，在所述按压件的一端被按压时，所述按压件的另一端抵压所述锁紧件的一端，以使所述锁紧件的另一端与所述导轨锁紧。
[0015]其中，所述锁紧件与所述导轨卡接或者磁吸连接。
[0016]其中，所述按压件包括按压头、与所述按压头连接的按压杆和套设于按压杆的保护套，所述按压杆远离所述按压头的一端设置若干个弹片，所述保护套与所述滑动块固定连接，所述按压杆与所述保护套弹性连接，所述按压杆能够在第一位置和第二位置之间移动。
[0017]其中，所述按压杆的外壁上设置有第一定位凸起，所述保护套的内壁上设置有第二定位凸起，所述第二定位凸起围设成定位槽，所述第一定位凸起能够穿过所述定位槽并与所述第二定位凸起抵接。
[0018]其中，所述锁紧组件包括按压件，所述按压件包括按压头和与按压头连接的按压杆，所述按压杆远离所述按压头的一端设置有第一锁紧凸起，所述承载平台上设置有第二锁紧凸起，所述第二锁紧凸起围设成锁紧槽，所述第一锁紧凸起能够穿过所述锁紧槽并与所述第二锁紧凸起抵接。
[0019]其中，还包括定位块，所述定位块与所述承载平台固定连接，所述定位块具有第三定位面，所述第三定位面与所述第一定位面垂直，所述待定位件能够抵接所述第三定位面。
[0020]一种光学系统测试设备，包括如上所述的定位装置。
[0021]本专利技术的有益效果：
[0022]本专利技术提出的定位装置，在使用时，将固定块置于承载平台，使得第一定位面与一条刻度线对齐，将固定块与承载平台固定连接，使得待定位件的一侧贴合第一定位面，根据待定位件的尺寸调节滑动块的位置，使得第二定位面与另一条刻度线对齐，根据刻度线可以将待定位件夹设在第一定位面和第二定位面之间，通过锁紧组件将滑动块与承载平台锁紧；在定位过程中，只需移动和锁紧滑动块，锁紧组件能够被按压和释放以选择性锁紧滑动块与承载平台，减少定位时间，且有刻度线做参考，使得待定位件不会被夹伤，且能够避免固定过紧或者固定过松，提高定位精度的同时能够保护待定位件。
附图说明
[0023]图1是现有的光学芯片定位装置的示意图；
[0024]图2是本专利技术实施例一提供的定位装置的俯视图；
[0025]图3是本专利技术实施例一提供的定位装置的结构示意图；
[0026]图4是本专利技术实施例一提供的定位装置的侧视图一，锁紧组件处于解锁状态；
[0027]图5是图4中的锁紧组件的示意图；
[0028]图6是本专利技术实施例一提供的定位装置的侧视图二，锁紧组件处于锁紧状态；
[0029]图7是图6中的锁紧组件的示意图；
[0030]图8是本专利技术实施例一提供的按压件的结构示意图；
[0031]图9是本专利技术实施例一提供的按压件与保护套配合的示意图一；
[0032]图10是本专利技术实施例一提供的按压件与保护套配合的示意图二；
[0033]图11是本专利技术实施例二提供的定位装置的结构示意图；
[0034]图12是本专利技术实施例三提供的定位装置的俯视图；
[0035]图13是本专利技术实施例三提供的按压件的结构示意图；
[0036]图14是本专利技术实施例三提供的定位装置的侧视图一，锁紧组件处于解锁状态；
[0037]图15是本专利技术实施例三提供的定位装置的侧视图二，锁紧组件处于锁紧状态；
[0038]图16是本专利技术实施例四提供的定位装置的侧视图一，锁紧组件处于解锁状态；
[0039]图17是本专利技术实施例四提供的定位装置的侧视图二，锁紧组件处于锁紧状态。
[0040]图1中：
[0041]10＇、光学芯片；20＇、检测平台；30＇、定位片；40＇、螺栓；
[0042]图2
‑
图17中：
[0043]100、光学芯片；
[0044]10、承载平台；11、平台本体；111、第二锁紧凸起；112、锁紧槽；113、铁块；12、导轨；121、限位凹槽；
[0045]20、固定块；201、第一定位面；
[0046]30、滑动块；301、第二定位面；302、按压通道；303、第一凸起；
[0047]40、锁紧组件；41、按压件；411、按压头；412、按压杆；4121、第一定位凸起；4122、第一锁紧凸起；413、保护套；本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.定位装置，其特征在于，包括：承载平台(10)，具有参考平面，所述参考平面上设置有若干条刻度线；固定块(20)，与所述承载平台(10)固定连接，所述固定块(20)具有第一定位面(201)，所述第一定位面(201)与一条所述刻度线对齐；滑动块(30)，与所述承载平台(10)滑动连接，所述滑动块(30)具有第二定位面(301)，所述第二定位面(301)能够与另一条所述刻度线对齐，待定位件能够夹设于所述第一定位面(201)与所述第二定位面(301)之间；锁紧组件(40)，与所述滑动块(30)连接，所述锁紧组件(40)能够被按压和释放以选择性锁紧所述滑动块(30)与所述承载平台(10)。2.根据权利要求1所述的定位装置，其特征在于，所述承载平台(10)包括平台本体(11)和固定于所述平台本上的导轨(12)，所述导轨(12)上设置有若干条主刻度线形成主尺，所述滑动块(30)上设置有若干条副刻度线形成游标尺，所述游标尺与所述主尺滑动连接形成游标卡尺。3.根据权利要求2所述的定位装置，其特征在于，所述第一定位面(201)与所述主刻度线的零刻度对齐。4.根据权利要求2所述的定位装置，其特征在于，所述锁紧组件(40)包括按压件(41)和锁紧件(42)，所述按压件(41)与所述滑动块(30)弹性连接，所述锁紧件(42)与所述滑动块(30)转动连接，在所述按压件(41)的一端被按压时，所述按压件(41)的另一端抵压所述锁紧件(42)的一端，以使所述锁紧件(42)的另一端与所述导轨(12)锁紧。5.根据权利要求4所述的定位装置，其特征在于，所述锁紧件(42)与所述导轨(12)卡接或者磁吸连接。6.根据权利要求4所述的定位装置，其特征在于，所述按压件(41)包括...
【专利技术属性】
技术研发人员：童迪，杨璐，
申请(专利权)人：厦门天马显示科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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