锁定式共焦F-P腔的激光扫频量控制与测定装置、方法制造方法及图纸

技术编号:36341625 阅读:70 留言:0更新日期:2023-01-14 17:55
本发明专利技术公开了一种基于锁定式共焦F

【技术实现步骤摘要】
锁定式共焦F

P腔的激光扫频量控制与测定装置、方法


[0001]本专利技术属于激光干涉测量
,具体涉及到一种基于锁定式共焦F

P腔的激光扫频量精确控制与测定装置与方法。

技术介绍

[0002]激光频率扫描干涉绝对测距方法因测量范围大、相对精度高、无测量模糊范围等优点,被广泛应用于绝对距离干涉测量领域。激光频率扫描量的精确测定是激光扫频干涉测距的关键技术之一。激光扫频量测定的传统方法是通过波长计、光谱仪等仪器直接对激光频率进行测量,该方法受限于光频测量仪器的分辨率导致测量精度低,同时无法满足激光频率快速扫描时测量速度的要求。因此,在激光频率扫描时一般需要通过额外的频率参考来测量扫频量,如辅助干涉仪、飞秒光频梳、法布里

珀罗(Fabry

Perot,F

P)腔等。在利用辅助干涉仪的方法中,用于产生稳定光程差的长光纤极易受到环境温度、振动以及光纤色散等因素的影响,导致扫频量的测量精度降低;虽然利用飞秒光频梳的方法能够提供高精度的光频测量,但现有飞本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种锁定式共焦F

P腔的激光扫频量精确控制与测定装置,其特征在于:包括参考氦氖激光器(2)、光纤分束器(3)、第一准直器(4)、光隔离器(5)、第一二向色镜(6)、偏振片(7)、倒置的扩束器(8)、低频空间电光相位调制器(9)、分光镜(10)、高频光纤电光相位调制器(11)、第二准直器(12)、偏振分光镜(13)、四分之一波片(14)、共焦F

P腔(15)、第二二向色镜(17)、第一滤光片(18)、第一凸透镜(19)、第一光电探测器(20)、第二滤光片(21)、第二凸透镜(22)和第二光电探测器(23);可调谐激光器(1)发出的测量激光先经过光纤分束器(3)分为两束光并分别入射到第一光纤准直器(4)和高频光纤电光相位调制器(11),一束测量激光经过高频光纤电光相位调制器(11)后再经第二光纤准直器(12)转换为第二空间光并入射到分光镜(10)发生反射,另一束测量激光通过第一光纤准直器(4)转换为第一空间光并入射到第一二向色镜(6)发生透射;参考氦氖激光器(2)发出的参考激光经过光隔离器(5)后入射到第一二向色镜(6)发生反射,被第一二向色镜(6)反射的参考激光和被第一二向色镜(6)透射的测量激光均依次经过偏振片(7)、倒置的扩束器(8)、空间电光相位调制器(9)正弦相位调制后产生等频率间隔边带的光,等频率间隔边带的光入射到分光镜(10)发生透射;被分光镜(10)发生透射的测量激光和参考激光以及分光镜(10)发生反射的测量激光均入射到偏振分光镜(13)发生反射,再透过四分之一波片(14)进入共焦F

P腔(15)且在共焦F

P腔(15)内部来回反射,共焦F

P腔(15)内部来回反射后返回的参考激光逆反依次经四分之一波片(14)透射、偏振分光镜(13)透射后入射到第二二向色镜(17)发生透射和反射,被第二二向色镜(17)反射的光中的参考激光部分经过和参考氦氖激光器(2)发出的原始参考激光相同波段的第二滤光片(21)滤光和第二凸透镜(22)聚光后被第二光电探测器(23)探测接收;被第二二向色镜(17)透射的光中的测量激光部分经过和可调谐激光器(1)发出的原始参考激光相同波段的第一滤光片(18)滤光和第一凸透镜(19)聚光后被第一光电探测器(20)探测接收。2.根据权利要求1所述的一种锁定式共焦F

P腔的激光扫频量精确控制与测定装置,其特征在于:所述可调谐激光器(1)、参考氦氖激光器(2)发出激光的波段不同,第二滤光片(21)的滤光波段和参考氦氖激光器(2)发出激光的波段相同,第一滤光片(18)的滤光波段和可调谐激光器(1)发出激光的波段相同。3.根据权利要求1所述的一种锁定式共焦F

P腔的激光扫频量精确控制与测定装置,其特征在于:所述的共焦F

P腔(15)上设置有用于控制共焦F

P腔(15)腔长的PZT压电陶瓷(16)。4.根据权利要求3所述的一种锁定式共焦F

P腔的激光扫频量精确控制与测定装置,其特征在于:装置还包括第一高频放大器(24)、信号源(25)、移相器(26)、混频器(27)、低通滤波器(28)、第二高频放大器(29)、第一低频放大器(30)、第二低频放大器(31)和信号采集处理系统(32);信号源(25)经第一高频放大器(24)和高频光纤电光相位调制器(11)电连接,信号源(25)经移相器(26)和混频器(27)连接,第一光电探测器(20)连接到混频器(27),混频器
(27)经低通滤波器(28)和信号采集处理系统(32)连接;信号采集处理系统(32)分别和第一光电探测器(20)、第二光电探测器(23)电连接,信号采集处理系统(32)经第二低频放大器(31)和PZT压电陶瓷(16)电连接,信号采集处理系统(32)经第一低频放大器(30)和可调谐激光器(1)电连接,信号采集处理系统(32)经第二高频放大器(29)和空间电光相位调制器(9)电连接。5.根据权利要求4所述的一种锁定式共焦F

P腔的激光扫频量精确控制与测定装置,其特征在于:所述的信号采集处理系统(32)包括了AD转换模块、DA转换模块和FPGA,AD转换模块、DA转换模块均和FPGA连接,低通滤波器(28)、第一光电探测器(20)、第二光电探测器(23)均连接到AD转换模块,DA转换模块分别和第二低频放大器(31)、第一低频放大器(30)和第二高频放大器(29)连接。6.一种应用于权利要求1

5任一所述装置的激光扫频量精确控制与测定方法,其特征在于:1)参考氦氖激光器(2)打开工作、可调谐激光器(1)不打开工作:参考氦氖激光器(2)发出的参考激光被第二光电探测器(23)探测到形成锁腔拍频信号,锁腔拍频信号输入到信号采集处理系统(32)中处理获得锁腔误差信号,根据锁腔误差信号反馈到PZT压电陶瓷(16)调节共焦F

P腔(15)的腔长,使得锁腔误差信号为零,进而锁定固定共焦F

P腔(15)的腔长;2)参考氦氖激光器(2)和可调谐激光器(1)均打开工作:可调谐激光器(1)发出的经由第一光纤准直器(4)经由空间电光相位调制器(9)调制后的测量激光被第一光电探测器(20)探测到形成低频拍频信号,低频拍频信号输入到信号采集处理系统(32)中处理获得稳频误差信号,根据稳频误差信号反馈到可调谐激光器(1)调节可调谐激光器(1)发出测量激光的频率,使得稳频误差信号为零,进而锁定固定可调谐激光器(1)发出测量激光的频率;3)参考氦氖激光器(2)和可调谐激光器(1)均打开工作:可调谐激光器(1)发出的经由高频光纤电光相位调制器(11)调制后的测量激光被第一光电探测器(20)探测到形成高频拍频信号,根据高...

【专利技术属性】
技术研发人员:严利平陈本永张哲伟谢建东
申请(专利权)人:浙江理工大学
类型:发明
国别省市:

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