一种激光雷达标定墙面平整度检测方法及检测设备技术

本发明专利技术属于检测技术领域，具体涉及一种激光雷达标定墙面平整度检测方法及检测设备，通过对墙面进行预处理；设置检测装置；确定采集板大小；设置采集板的位置；以及通过检测装置和采集板对墙面平整度进行检测，实现了利用光的反射提高测试准确度，且可通过反射光的光斑位置直观判断平整度。位置直观判断平整度。位置直观判断平整度。

【技术实现步骤摘要】
一种激光雷达标定墙面平整度检测方法及检测设备


[0001]本专利技术属于检测
，具体涉及一种激光雷达标定墙面平整度检测方法及检测设备。

技术介绍

[0002]激光雷达标定前需要对标定墙进行平整度检查。在现有技术中，采用导轨和激光测距仪相结合的装置，导轨与墙面呈一定角度布置，激光测距仪在沿导轨移动的过程中测量导轨各点到墙面的垂直距离，将测量值与计算所得理论值之差确定为测量出的平整度。该方案中激光测距仪本身存在测量误差，当对检测结果有严苛要求时无法满足，且需要在测量时进行数据记录并计算，无法直观判断。
[0003]因此，基于上述技术问题需要设计一种新的激光雷达标定墙面平整度检测方法及检测设备。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是提供一种激光雷达标定墙面平整度检测方法及检测设备。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种激光雷达标定墙面平整度检测方法，包括：
[0006]对墙面进行预处理；
[0007]设置检测装置；
[0008]确定采集板大小；
[0009]设置采集板的位置；以及
[0010]通过检测装置和采集板对墙面平整度进行检测。
[0011]进一步，所述对墙面进行预处理的方法包括：
[0012]在墙面的待检测区域粘贴高反墙纸。
[0013]进一步，所述设置检测装置的方法包括：
[0014]将检测装置与墙面平行放置，将检测装置中的激光测距仪偏置至预设角度，以使激光测距仪与墙面呈预设夹角。
[0015]进一步，所述确定采集板大小的方法包括：
[0016]根据激光测距仪发射激光的反射光光斑确定采集板的大小，并裁剪相应大小的采集板。
[0017]进一步，所述设置采集板的位置的方法包括：
[0018]将裁剪后的采集板设置在激光测距仪的一侧，以接收激光的反射光。
[0019]进一步，所述通过检测装置和采集板对墙面平整度进行检测的方法包括：
[0020]启动激光测距仪，发射激光，通过判断反射光的光斑是否落在采集板上以确定平整度是否满足要求；
[0021]若光斑未落在采集板上，则墙面不满足平整度要求，终止检测；
[0022]若光斑落在采集板上，则墙面满足平整度要求，并同步移动激光测距仪和采集板，继续检测，直至墙面的待检测区域检测完成。
[0023]另一方面，本专利技术还提供一种激光雷达标定墙面平整度检测设备，包括：
[0024]检测装置；
[0025]所述检测装置与墙体平行设置，所述检测装置适于采用如权利要求1所述的激光雷达标定墙面平整度检测方法对墙面进行检测。
[0026]进一步，所述检测装置包括：位移台、激光测距仪和采集板；
[0027]所述激光测距仪设置在所述位移台上，所述激光测距仪适于发射激光；
[0028]所述位移台适于带动所述激光测距仪转动，时激光测距仪偏转至预设角度；
[0029]所述采集板设置在所述位移台的一侧，所述位移台和所述采集板与墙体平行设置。
[0030]进一步，所述检测装置还包括：导轨，以及设置在所述导轨上的两个升降台；
[0031]所述位移台设置在一升降台上；
[0032]所述采集板设置在另一升降台上。
[0033]进一步，所述检测设备还包括：高反墙纸；
[0034]所述高反墙纸适于粘贴在墙面上。
[0035]本专利技术的有益效果是，本专利技术通过对墙面进行预处理；设置检测装置；确定采集板大小；设置采集板的位置；以及通过检测装置和采集板对墙面平整度进行检测，实现了利用光的反射提高测试准确度，且可通过反射光的光斑位置直观判断平整度。
[0036]本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。
[0037]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
附图说明
[0038]为了更清楚地说明本专利技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0039]图1是本专利技术的一种激光雷达标定墙面平整度检测方法的流程图；
[0040]图2是本专利技术的一种激光雷达标定墙面平整度检测方法的具体流程图；
[0041]图3是本专利技术的检测设备的结构示意图；
[0042]图4是本专利技术的检测装置的结构示意图；
[0043]图5是本专利技术的光斑示意图。
[0044]图中：
[0045]1墙面；
[0046]2高反墙纸；
[0047]3检测装置、31导轨、32升降台、33位移台、34激光测距仪、35采集板；
[0048]4激光光路；
[0049]5反射光光路。
具体实施方式
[0050]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本专利技术的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0051]实施例1
[0052]如图1
‑
图5所示，本实施例1提供了一种激光雷达标定墙面平整度检测方法，包括：对墙面1进行预处理；设置检测装置3；确定采集板35大小；设置采集板35的位置；以及通过检测装置3和采集板35对墙面1平整度进行检测，实现了利用光的反射提高测试准确度，且可通过反射光的光斑位置直观判断平整度。
[0053]在本实施例中，所述对墙面1进行预处理的方法包括：在墙面1的待检测区域粘贴高反墙纸2，确保墙面1无断层，通过高反墙纸2还原墙面1平整度且可通过高反墙纸2达到镜面反射的效果。
[0054]在本实施例中，所述设置检测装置3的方法包括：将检测装置3与墙面1平行放置，将检测装置3中的激光测距仪34偏置至预设角度，以使激光测距仪34与墙面1呈预设夹角，便于激光测距仪34发出的激光照射在高反墙纸2发生反射，通过夹角使得反射光可以照射在采集板35上便于观察。
[0055]在本实施例中，所述确定采集板35大小的方法包括：根据激光测距仪34发射激光的反射光光斑确定采集板35的大小，并裁剪相应大小的采集板35，通过裁剪采集板35的大小，使得反射光可以照射在采集板35上，采集板35的尺寸调整避免采集板35尺寸过大，避免尺寸过大的采集板35可以采集偏移的光斑，使得检测更加精确。
[0056]在本实施例中，所述设置采集板35的位置的方法包括：将裁剪后的采集板35设置在激光测距仪34的一侧，以接收激光的反射光，将采集板35设置在激光测距仪本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光雷达标定墙面平整度检测方法，其特征在于，包括：对墙面进行预处理；设置检测装置；确定采集板大小；设置采集板的位置；以及通过检测装置和采集板对墙面平整度进行检测。2.如权利要求1所述的激光雷达标定墙面平整度检测方法，其特征在于，所述对墙面进行预处理的方法包括：在墙面的待检测区域粘贴高反墙纸。3.如权利要求2所述的激光雷达标定墙面平整度检测方法，其特征在于，所述设置检测装置的方法包括：将检测装置与墙面平行放置，将检测装置中的激光测距仪偏置至预设角度，以使激光测距仪与墙面呈预设夹角。4.如权利要求3所述的激光雷达标定墙面平整度检测方法，其特征在于，所述确定采集板大小的方法包括：根据激光测距仪发射激光的反射光光斑确定采集板的大小，并裁剪相应大小的采集板。5.如权利要求4所述的激光雷达标定墙面平整度检测方法，其特征在于，所述设置采集板的位置的方法包括：将裁剪后的采集板设置在激光测距仪的一侧，以接收激光的反射光。6.如权利要求5所述的激光雷达标定墙面平整度检测方法，其特征在于，所述通过检测装置和采集板对墙面平整度进行检测的方法包括：启动激光测距仪，发射激光，通过判断反射光的光斑是否落在采集板上以确定平整...

【专利技术属性】
技术研发人员：尹玲秀，王向永，王茜茜，戴笠笠，
申请(专利权)人：常州星宇车灯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：