一种半导体编带潜望式专用光学检测模组制造技术

本实用新型专利技术公开一种半导体编带潜望式专用光学检测模组，包括模组主体、上光源组件、中间隔板和下光源组件，所述模组主体的背部下端嵌入安装有滤镜安装座和固定盖板，所述模组主体的正面下端依次嵌装有45

【技术实现步骤摘要】
一种半导体编带潜望式专用光学检测模组


[0001]本专利技术具体涉及一种半导体编带潜望式专用光学检测模组。

技术介绍

[0002]编带视觉站采用双层环形红光，打光方式是简单的正向打光方式，当检测材料管脚时，管脚影像亮度不佳产生的干涉影响很大，降低了光学测量的精度，并且载带会有反光现象，使管脚光线均匀度不一致，容易对视觉检测造成干扰，无法使材料表面的印字、缺陷和管脚缺陷更清晰。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术目的是提供一种能改变相机安装位置的、避免因视窗与吸嘴距离小引发相机触碰到转塔的半导体编带潜望式专用光学检测模组，具有模组适用性更强，使材料表面的印字、缺陷和管脚缺陷更清晰。
[0004]为了解决上述技术问题，本专利技术的技术方案是：
[0005]一种半导体编带潜望式专用光学检测模组，包括内部为镂空设置的模组主体，通过螺钉固定安装在所述模组主体前端的上光源组件，通过螺钉固定安装在上光源组件前端的中间隔板，以及通过螺钉固定安装在中间隔板前端的下光源组件，所述模组主体的背部下端嵌入安装有滤镜安装座和固定盖板，所述模组主体的正面下端依次嵌装有45
°
倾斜的下反射棱镜和上反射棱镜，所述模组主体的正面还设置有用于固定下反射棱镜和上反射棱镜的光源上盖板，所述模组主体的上端还设置有通过螺钉固定安装的滤镜安装板。
[0006]优选的，所述模组主体的镂空部位朝向光源上盖板的方向设置，且镂空的空间与下反射棱镜和上反射棱镜叠放的空间大小一致，所述模组主体的上端为45
°
倾斜设置的安装面。
[0007]进一步的，所述光源上盖板为镂空设置。
[0008]优选的，所述滤镜安装座的前端为45
°
倾斜设置。
[0009]优选的，所述上光源组件包括贴紧光源上盖板的上光源PCB板，安装在所述上光源PCB板带灯珠一侧的上光源镂空隔套，配合上光源镂空隔套进行安装的上光源扩散板，以及与光源上盖板通过螺钉固定的上光源主体，所述上光源主体包覆且保护上光源PCB板、上光源镂空隔套和上光源扩散板。
[0010]进一步的，所述上光源PCB板、上光源扩散板和上光源主体皆为镂空设置，且能够依次连通。
[0011]优选的，所述下光源组件包括嵌入中间隔板的下光源镂空隔套，贴紧中间隔板的下光源PCB板，设置在所述下光源PCB板带灯珠一侧的下光源扩散板，以及与中间隔板通过螺钉固定的下光源主体，所述下光源主体包覆且保护下光源PCB板和下光源扩散板。
[0012]进一步的，所述下光源PCB板、下光源扩散板和下光源主体皆为镂空设置，且能够依次连通。
[0013]本专利技术技术效果主要体现在以下方面：使用45
°
倾斜的下反射棱镜和上反射棱镜组合能改变相机安装的位置，避免因视窗与吸嘴距离小引发相机触碰到转塔的问题，使模组适用性更强，下光源组件为高亮度蓝光，能够使检测材料表面印字、缺陷和管脚缺陷更清晰，上光源组件为高亮度红光光源，对检测材料表面的缺陷显示更清晰。
附图说明
[0014]图1为本技术一种半导体编带潜望式专用光学检测模组的结构图；
[0015]图2为图1的爆炸图；
[0016]图3为图2中模组主体的结构图。
具体实施方式
[0017]以下结合附图，对本专利技术的具体实施方式作进一步详述，以使本专利技术技术方案更易于理解和掌握。
[0018]在本实施例中，需要理解的是，术语“中间”、“上”、“下”、“顶部”、“右侧”、“左端”、“上方”、“背面”、“中部”、等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0019]另，在本具体实施方式中如未特别说明部件之间的连接或固定方式，其连接或固定方式均可为通过现有技术中常用的螺栓固定或钉销固定，或销轴连接等方式，因此，在本实施例中不在详述。
[0020]实施例
[0021]一种半导体编带潜望式专用光学检测模组，如图1
‑
2所示，包括内部为镂空设置的模组主体1，通过螺钉固定安装在所述模组主体1前端的上光源组件2，通过螺钉固定安装在上光源组件2前端的中间隔板3，以及通过螺钉固定安装在中间隔板3前端的下光源组件4。
[0022]其中，所述模组主体1的背部下端嵌入安装有滤镜安装座11和固定盖板12，所述模组主体1的正面下端依次嵌装有45
°
倾斜的下反射棱镜13和上反射棱镜14，所述模组主体1的正面还设置有用于固定下反射棱镜13和上反射棱镜14的光源上盖板15，所述模组主体1的上端还设置有通过螺钉固定安装的滤镜安装板16。所述光源上盖板15为镂空设置。所述滤镜安装座11的前端为45
°
倾斜设置，具体的，在滤镜安装座11嵌入模组主体1后，配合45
°
倾斜的下反射棱镜13和上反射棱镜14进行安装，下反射棱镜13的下斜面与滤镜安装座11贴合，上反射棱镜14与倾斜安装的滤镜安装板16贴合。
[0023]其中，所述上光源组件2包括贴紧光源上盖板15的上光源PCB板21，安装在所述上光源PCB板21带灯珠一侧的上光源镂空隔套22，配合上光源镂空隔套22进行安装的上光源扩散板23，以及与光源上盖板15通过螺钉固定的上光源主体24，所述上光源主体24包覆且保护上光源PCB板21、上光源镂空隔套22和上光源扩散板23。所述上光源PCB板21、上光源扩散板23和上光源主体24皆为镂空设置，且能够依次连通，方便光源折射。上光源组件为高亮度红光光源，呈现白图可以更好对材料表面的缺陷更清晰
[0024]其中，所述下光源组件4包括嵌入中间隔板3的下光源镂空隔套41，贴紧中间隔板3的下光源PCB板42，设置在所述下光源PCB板42带灯珠一侧的下光源扩散板43，以及与中间
隔板3通过螺钉固定的下光源主体44，所述下光源主体44包覆且保护下光源PCB板42和下光源扩散板43。所述下光源PCB板42、下光源扩散板43和下光源主体44皆为镂空设置，且能够依次连通，方便光源折射。下光源组件为高亮度蓝光，可以使材料表面印字，缺陷和管脚缺陷更清晰
[0025]如图3所示，并结合图1
‑
2，所述模组主体1的镂空部位朝向光源上盖板15的方向设置，且镂空的空间与下反射棱镜13和上反射棱镜14叠放的空间大小一致，所述模组主体1的上端为45
°
倾斜设置的安装面101，具体的，方便固定安装滤镜安装板16，并使得滤镜安装板16配合下反射棱镜13和上反射棱镜14进行工作。
[0026]本专利技术技术效果主要体现在以下方面：使用45
°
倾斜的下反射棱镜和上反射棱镜组合能改变相机安装的位置，避免因视窗与吸嘴距离小引发相机触碰到转塔的问题，使模组适用性更强，下光源组件为高亮度蓝光，能够使检测材料表面印字、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体编带潜望式专用光学检测模组，包括内部为镂空设置的模组主体，通过螺钉固定安装在所述模组主体前端的上光源组件，通过螺钉固定安装在上光源组件前端的中间隔板，以及通过螺钉固定安装在中间隔板前端的下光源组件，其特征在于：所述模组主体的背部下端嵌入安装有滤镜安装座和固定盖板，所述模组主体的正面下端依次嵌装有45
°
倾斜的下反射棱镜和上反射棱镜，所述模组主体的正面还设置有用于固定下反射棱镜和上反射棱镜的光源上盖板，所述模组主体的上端还设置有通过螺钉固定安装的滤镜安装板。2.根据权利要求1所述的一种半导体编带潜望式专用光学检测模组，其特征在于：所述模组主体的镂空部位朝向光源上盖板的方向设置，且镂空的空间与下反射棱镜和上反射棱镜叠放的空间大小一致，所述模组主体的上端为45
°
倾斜设置的安装面。3.根据权利要求2所述的一种半导体编带潜望式专用光学检测模组，其特征在于：所述光源上盖板为镂空设置。4.根据权利要求1所述的一种半导体编带潜望式专用光学检测模组，其特征在于：所述滤镜安装座的前端为45
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【专利技术属性】
技术研发人员：欧选元，张伟峰，
申请(专利权)人：东莞市北井光控科技有限公司，
类型：新型
国别省市：