【技术实现步骤摘要】
一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法
[0001]本专利技术是关于有机发光二极管面板的
,尤指一种一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法。
技术介绍
[0002]有机发光二极管(Organic Light Emitting Diode,OLED)面板由于制程上各子像素之间有许多变异造成面板亮度随机性的不均(Mura现象),通常以沙状呈现(Sandy Mura)而良率低落,若要解决此问题则需透过光学补偿方式来达成,亦即以亮度校正(Demura)来去除面板的亮度不均。又因为OLED面板是由电源芯片所供电,而电源走线的距离不同使得供给各子像素的电压(ELVDD)有不同程度的电阻电位降(IR drop),导致面内亮度渐进性的不均,而需要进行局部电阻电位降补偿(Local IR drop compensation,LIRC)。
[0003]前述Demura需要取得OLED面板显示不同灰阶的各颜色(R/G/B)时的所有子像素单元亮度信息,并分析其亮度不均的状况,以求取并储存对应 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法,该有机发光二极管面板具有多数个像素单元,每一像素单元包含至少一颜色的子像素单元,其特征在于,该方法包括步骤:(A)对每一颜色,拍摄有机发光二极管面板于多个预定灰阶的各子像素的亮度信息;(B)对每一颜色,计算各灰阶的亮度校正补偿值,并选出其中一特定灰阶的亮度校正补偿值予以储存;(C)对每一颜色,由各灰阶的亮度校正补偿值扣除储存的该特定灰阶的亮度校正补偿值,计算出各子像素的局部电阻电位降补偿参数;以及(D)对每一颜色,根据局部电阻电位降补偿将该有机发光二极管面板所区分的多个区域,将步骤(C)所计算出的各子像素于各灰阶的局部电阻电位降补偿参数融合,得出各区域的局部电阻电位降补偿参数。2.如权利要求1所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法,其特征在于,于步骤(A)中,是以CCD相机拍摄有机发光二极管面板于多个预定灰阶的各子像素的亮度信息。3.如权利要求1所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法,其特征在于,每一像素单元包含一红色子像素单元、一绿色子像素单元及一蓝色子像素单元。4.如权利要求3所述的一站式有机发光二极管面板的亮度校正与局部电阻电位降补偿的方法,其特征在于,步骤(B)是计算出每一灰阶的红色的亮度校正补偿值、绿色的亮度校正补偿值、及蓝色的亮度校正补偿值,且该亮度校正补偿值与显示资料值的关系式为:R
’
=R+Demura_comR;G
’
=G+Demura_comG;B
’
=B+Demura_comB;当中,R/G/B为红色/绿色/蓝色子像素单元所要显示的原始红色/绿色/蓝色显示资料值,Demura_comR/Demura_comG/Demura_comB为红色/绿色/蓝色的亮度校正补偿值,R
’
技术研发人员:吴鸿居,
申请(专利权)人:敦泰电子股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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