【技术实现步骤摘要】
一种地质剖面测量用地层取样装置
[0001]本技术涉及地质测量用具
,具体为一种地质剖面测量用地层取样装置。
技术介绍
[0002]地质剖面测量是指测定剖面线上地形点及工程点的位置(到剖面线起点的距离)和高程,并按规定的比例尺绘制成地质剖面图,地质剖面测量的程序是:应首先进行剖面定线,建立剖面线上的起讫点及转点,并在其间加设控制点,以保证测量精度;然后进行剖面测量,绘制地质剖面图,在地质剖面测量过程中,为了对地层组成结构进行了解记录,需要对土层进行取样直观的对地下土层结构组成进行测量并记录,因此需要采用地层取样装置来对土层进行取样。
[0003]如中国专利(CN216406806U)公开了一种地质剖面测量用地层取样装置,包括取样套筒一,所述取样套筒一的上表面固定安装有手持握把,取样套筒一的外圆周面开设有两个导向槽一,取样套筒一内部套接有取样套筒二,取样套筒一的内顶面固定安装有连接柱,连接柱远离手持握把一端固定安装有取样筒,取样筒远离连接柱一端开设有槽口,取样筒靠近槽口一侧的外表面开设有导向槽二,取样筒远离槽口一 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种地质剖面测量用地层取样装置,包括限位套筒(1)和取样筒(2),所述取样筒(2)设置于限位套筒(1)的内部,其特征在于:所述取样筒(2)的前部与后部均固定安装有受力把手(3),所述限位套筒(1)的表面开设有与受力把手(3)相适配的通槽(4),所述限位套筒(1)表面的一侧固定安装有U型安装板(5),所述U型安装板(5)内腔一侧的前部与后部均固定安装有弹簧(6),两个所述弹簧(6)的一端固定安装有封堵斜块(7),所述限位套筒(1)的表面开设有与封堵斜块(7)相适配的开口(8)。2.根据权利要求1所述的一种地质剖面测量用地层取样装置,其特征在于:所述限位套筒(1)的顶部通过开设螺纹孔连接有推杆(11),所述推杆(11)的底端且位于限位套筒(1)的内部固定安装有排样板(12),所述排样板(12)的表面固定安装有刮条(14),所述刮条(14)设置有多个且呈等距均匀分布于排样板(12)的表面...
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