一种电子产品用高温测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种电子产品用高温测试装置，包括高低温试验箱主体，高低温试验箱主体内壁的底部开设有滑槽，滑槽的内壁滑动连接有两个滑块，滑块的顶端均与限制板的底端固定连接，本实用新型专利技术转动摇柄带动蜗杆，蜗杆带动蜗轮，转轴伴随转动，带动齿轮转动，齿轮驱动齿条移动，齿条带动连杆偏转，连杆推动滑块滑动，推动限制板相互靠近，对电子产品夹紧固定，避免运行时产生的震动导致测试不稳定，保证测试结果的准确性，电机驱动第二锥齿轮，第二锥齿轮带动第一锥齿轮，第一锥齿轮带动丝杆，丝杆驱动移动条移动，移动条带动推块，将电子产品推出，避免高温导致不便于拿取产品，便于对下一批产品测试。下一批产品测试。下一批产品测试。

【技术实现步骤摘要】
一种电子产品用高温测试装置


[0001]本技术涉及电子产品领域，特别涉及一种电子产品用高温测试装置。

技术介绍

[0002]电子产品是以电能为工作基础的相关产品，因早期产品主要以电子管为基础原件故名电子产品，在电子产品生产制造过程中，常使用高温测试装置来测定电子产品使用的适应性及耐久性，确认在高温下的性能。
[0003]针对于此，中国专利号CN213239416U提出了一种新型高温测试装置，具有的效果设置可调节的散热机构，通过散热机构配合测试箱方便对测试箱内的余温快速散出，避免测试箱内的较高的温度损坏测试箱，解决了现有的测试箱余温不便及时散热的问题，而上述专利中的高温测试装置对电子产品不具备夹紧固定的效果，高温测试装置在运行的时产生的震动会造成电子产品测试不稳定，影响测试的结果，同时电子产品测试完成后，其本身测试时造成的高温导致产品不便于拿取，影响下一批电子产品的测试。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种电子产品用高温测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子产品用高温测试装置，包括高低温试验箱主体（1），其特征在于：所述高低温试验箱主体（1）内壁的底部开设有滑槽，所述滑槽的内壁滑动连接有两个滑块（2），每个所述滑块（2）的顶端均与限制板（3）的底端固定连接，所述滑槽内壁的底部开设有行程槽，每个所述滑块（2）的底端均铰接有连杆（4），两个所述连杆（4）的外壁均行程槽的内壁穿插连接，所述行程槽内壁的一侧开设有移动槽，所述移动槽的内壁滑动连接有齿条（5），两个所述连杆（4）底端的一侧均与齿条（5）顶端的一侧铰接，所述移动槽内壁的一侧开设有安装槽，所述安装槽内壁的顶部与内壁的底部之间转动连接有转轴（6）。2.根据权利要求1所述的一种电子产品用高温测试装置，其特征在于：所述转轴（6）外壁的顶部和外壁的底部分别固定设有齿轮（7）和蜗轮（8），所述齿轮（7）的一侧与齿条（5）的一侧啮合连接，所述安装槽内壁的两侧分别与蜗杆（9）外壁的两侧转动连接，所述蜗杆（9）的一侧与蜗轮（8）的一侧啮合连接，所述蜗杆（9）的一端固定设有摇柄（16）。3.根据权利要求1所述的一种电子产品用高温测试装置，其特征在...

【专利技术属性】
技术研发人员：张福生，
申请(专利权)人：西安恒昌新电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：