成组光源测试仪制造技术

本实用新型专利技术涉及光源的技术领域，公开了成组光源测试仪，包括底座以及相对于底座上下移动的上压板，底座上具有放置成组光源的测试区，测试区朝上布置，上压板位于测试区的上方；成组光源包括多个点阵式排布的光源，底座中穿设有多个导电针，当成组光源放置在测试区上后，上压板朝下移动并抵压在成组光源上，多个导电针分别与多个光源的正负极抵接；本实用新型专利技术提供的成组光源测试仪，当需要对光源进行测试时，可以成组光源一起测试，将成组光源放置在测试区上，将上压板朝下移动，直至抵压在成组光源以及底座上，导电针则与光源的正负极抵接连通，从而实现对光源的通电性能测试，测试效率高，操作简单。操作简单。操作简单。

【技术实现步骤摘要】
成组光源测试仪


[0001]本技术专利涉及光源的
，具体而言，涉及成组光源测试仪。

技术介绍

[0002]光源是各种灯具中的发光元件，其性能直接影响了灯具的性能。光源一般包括基板以及设置在基板上的芯片，芯片与基板电性连接，再在基板上点上荧光胶，荧光胶将多个芯片包裹在内，芯片发出的光则透过荧光胶透射出来。
[0003]当光源制造好以后，需要对光源的通电性能进行测试，以判断光源是否可以正常使用。
[0004]现有技术中，光源制造好以后，对光源的正负极进行通电连接，以测试光源的通电性能，但是光源单个操作测试的测试效率较低。

技术实现思路

[0005]本技术的目的在于提供成组光源测试仪，旨在解决现有技术中，光源测试效率较低的问题。
[0006]本技术是这样实现的，成组光源测试仪，包括底座以及相对于底座上下移动的上压板，所述底座上具有放置成组光源的测试区，所述测试区朝上布置，所述上压板位于测试区的上方；所述成组光源包括多个点阵式排布的光源，所述底座中穿设有多个导电针，当所述成组光源放置在测试区上后，所述上压板朝下移动并抵压在成组光源上，多个所述导电针分别与多个光源的正负极抵接。
[0007]进一步的，所述上压板包括底板以及中间板，所述底板连接在中间板的底部，当所述上压板朝下移动后，所述底板抵压在成组光源上。
[0008]进一步的，所述中间板的上方设有顶板，所述顶板与中间板连接，所述顶板上连接有驱动结构，所述驱动结构带动上压板相对于测试区上下移动。
[0009]进一步的，所述顶板与中间板之间具有间隔，所述顶板与中间板之间通过多个纵向布置的连接轴连接。
[0010]进一步的，多个所述连接轴沿着顶板的周向间隔布置。
[0011]进一步的，所述底座的侧边设有两个纵向布置且导向上压板相对于底座上下移动的导轴，所述导轴活动穿过上压板。
[0012]进一步的，所述中间板朝外延伸，形成外延段，所述导轴活动穿过外延段。
[0013]进一步的，所述驱动结构包括纵向布置的驱动轴，所述驱动轴的下端与顶板连接，所述驱动轴的上端铰接有摆动件，所述摆动件连接有把手；当所述把手驱动摆动件摆动时，所述摆动件带动驱动轴上下移动。
[0014]进一步的，所述顶板的上方设有导向套，所述驱动轴活动穿过导向套。
[0015]进一步的，所述成组光源测试仪包括架体，所述底座活动置于架体上，所述导电针的下端连接在架体上，所述导电针的上端朝上延伸布置；所述架体上设有缓冲轴，所述缓冲
轴套设有弹簧，所述缓冲轴活动穿设在底座中，所述底座自上而下抵压在弹簧上；所述底座中设有多个通孔，所述通孔上下贯穿底座，贯穿至测试区，所述导电针的上端置于通孔的下部中；
[0016]当所述上压板朝下移动并抵压在成组光源上后，所述底座朝下移动，所述弹簧被压缩，所述导电针的上端穿过通孔，延伸至测试区中，且抵接着光源的正负极；当所述上压板朝上移动时，所述弹簧驱动底座朝上复位。
[0017]与现有技术相比，本技术提供的成组光源测试仪，当需要对光源进行测试时，可以成组光源一起测试，将成组光源放置在测试区上，将上压板朝下移动，直至抵压在成组光源以及底座上，导电针则与光源的正负极抵接连通，从而实现对光源的通电性能测试，测试效率高，操作简单。
附图说明
[0018]图1是本技术提供的成组光源测试仪的主视示意图；
[0019]图2是本技术提供的驱动结构的主视示意图。
具体实施方式
[0020]为了使本技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。
[0021]以下结合具体实施例对本技术的实现进行详细的描述。
[0022]本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本技术的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。
[0023]参照图1
‑
2所示，为本技术提供的较佳实施例。
[0024]成组光源测试仪，包括底座200以及相对于底座200上下移动的上压板，底座200上具有放置成组光源的测试区202，测试区202朝上布置，上压板位于测试区202的上方；成组光源包括多个点阵式排布的光源，当光源制造好以后，多个光源点阵式布置，形成成组光源，并且，相邻的光源的侧边连接在一起。
[0025]底座200中穿设有多个导电针201，当成组光源放置在测试区202上后，上压板朝下移动并抵压在成组光源上，多个导电针201分别与多个光源的正负极抵接。
[0026]上述提供的成组光源测试仪，当需要对光源进行测试时，可以成组光源一起测试，将成组光源放置在测试区202上，将上压板朝下移动，直至抵压在成组光源以及底座200上，导电针201则与光源的正负极抵接连通，从而实现对光源的通电性能测试，测试效率高，操作简单。
[0027]上压板包括底板103以及中间板102，底板103连接在中间板102的底部，当上压板朝下移动后，底板103抵压在成组光源上。
[0028]中间板102的上方设有顶板101，顶板101与中间板102连接，顶板101上连接有驱动结构，驱动结构带动上压板相对于测试区202上下移动。这样，便于上压板与驱动结构之间的连接。
[0029]顶板101与中间板102之间具有间隔，顶板101与中间板102之间通过多个纵向布置的连接轴104连接。这样，可以对上压板的纵向移动进行导向，保证上压板移动的纵向性。
[0030]多个连接轴104沿着顶板101的周向间隔布置，便于顶板101与中间板102之间的连接。
[0031]本实施例中，底座200的侧边设有两个纵向布置且导向上压板相对于底座200上下移动的导轴105，导轴105活动穿过上压板。由于导轴105活动穿过上压板，上压板在上下移动的过程中，在导轴105的限制下，保证上压板移动的纵向性。
[0032]中间板102朝外延伸，形成外延段，导轴105活动穿过外延段，便于导轴105与中间板102的连接。
[0033]驱动结构包括纵向布置的驱动轴106，驱动轴106的下端与顶板101连接，驱动轴106的上端铰接有摆动件400，摆动件400连接有把手401；当把手401驱动摆动件400摆动时，摆动件400带动驱动轴106上下移动。这样，只需要上下摆动把手401，则可以对应实现驱动轴106的上下移动。
[0034]顶板101的上方设有导向套本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.成组光源测试仪，其特征在于，包括底座以及相对于底座上下移动的上压板，所述底座上具有放置成组光源的测试区，所述测试区朝上布置，所述上压板位于测试区的上方；所述成组光源包括多个点阵式排布的光源，所述底座中穿设有多个导电针，当所述成组光源放置在测试区上后，所述上压板朝下移动并抵压在成组光源上，多个所述导电针分别与多个光源的正负极抵接。2.如权利要求1所述的成组光源测试仪，其特征在于，所述上压板包括底板以及中间板，所述底板连接在中间板的底部，当所述上压板朝下移动后，所述底板抵压在成组光源上。3.如权利要求2所述的成组光源测试仪，其特征在于，所述中间板的上方设有顶板，所述顶板与中间板连接，所述顶板上连接有驱动结构，所述驱动结构带动上压板相对于测试区上下移动。4.如权利要求3所述的成组光源测试仪，其特征在于，所述顶板与中间板之间具有间隔，所述顶板与中间板之间通过多个纵向布置的连接轴连接。5.如权利要求4所述的成组光源测试仪，其特征在于，多个所述连接轴沿着顶板的周向间隔布置。6.如权利要求3至5任一项所述的成组光源测试仪，其特征在于，所述底座的侧边设有两个纵向布置且导向上压板相对于底座上下移动的导轴，所述导轴活动穿过...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨帆，刘建强，陈永华，张元，
申请(专利权)人：深圳市同一方光电技术有限公司，
类型：新型
国别省市：