一种岩块密度测量装置制造方法及图纸

技术编号:36278325 阅读:84 留言:0更新日期:2023-01-07 10:30
本实用新型专利技术公开了一种岩块密度测量装置,包括工作台(1)、工控电脑(10)、上照相系统(9)、下照相系统(11)、操作面板(2)、玻璃称重台以及上照相系统支架(8),工控电脑(10)设置于工作台(1)内部,将上、下照相系统三维信息提取计算岩块体积,下照相系统(11)设置于工作台(1)内部并位于工控电脑(10)的上端,用于获取岩块下侧三维信息,操作面板(2)设置于工作台(1)前侧,用于操作系统与显示测量结果,上照相系统(9)安装于上照相系统支架(8)下端面。本实用新型专利技术可以实现对不规则岩块的无损密度测量,避免传统蜡封法测量岩块密度的繁琐手续和量积法存在的较大误差。存在的较大误差。存在的较大误差。

【技术实现步骤摘要】
一种岩块密度测量装置


[0001]本技术涉及岩土检测
,具体涉及一种岩块密度测量装置。

技术介绍

[0002]岩体密度是岩土检测
中十分重要的物理力学参数之一,传统的岩体密度测量方法有量积法和蜡封法两种方法,量积法需要将试样制备成圆柱体或立方体,是一种有损密度测量方法,而蜡封法将蜡封于试样表面再置于水中。量积法会损坏有限的试样,蜡封法操作过于繁琐且会导致测量效率较低。

技术实现思路

[0003]本技术所要解决的技术问题是一种岩块密度测量装置,可以有效解决现有技术中的不足。
[0004]本技术是通过以下技术方案来实现的:一种岩块密度测量装置,包括工作台、工控电脑、上照相系统、下照相系统、操作面板、玻璃称重台以及上照相系统支架,工控电脑设置于工作台内部,将上、下照相系统三维信息提取计算岩块体积,下照相系统设置于工作台内部并位于工控电脑的上端,用于获取岩块下侧三维信息,操作面板设置于工作台前侧,用于操作系统与显示测量结果,上照相系统安装于上照相系统支架下端面。
[0005]作为优选的技术方案,工作台上部设置本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种岩块密度测量装置,其特征在于:包括工作台(1)、工控电脑(10)、上照相系统(9)、下照相系统(11)、操作面板(2)、玻璃称重台以及上照相系统支架(8),工控电脑(10)设置于工作台(1)内部,将上、下照相系统三维信息提取计算岩块体积,下照相系统(11)设置于工作台(1)内部并位于工控电脑(10)的上端,用于获取岩块下侧三维信息,操作面板(2)设置于工作台(1)前侧,用于操作系统与显示测量结果,上照相系统(9)安装于上照相系统支架(8)下端面。2.根据权利要求1所述的岩块密度测量装置,其特征在于:工作台(1)上部设置有玻璃称重台,用于岩块称重,操作面板用于控制工控电脑以及返回测量结果。3.根据权利要求1所述的岩块密度测量装置,其特...

【专利技术属性】
技术研发人员:丁家仁姜守国张如军孙建斌蒋楠徐伟杰周德志赵晓明蔡忠伟陈国龙赵东波赵博文周泽沛潘东李鹏宇徐枫周海波王正辉安艳明常雄欧阳松蒋亚东陈帅孙登钧
申请(专利权)人:中国水利电力对外有限公司
类型:新型
国别省市:

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