一种AI芯片试验检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及AI芯片检测技术领域，具体为一种AI芯片试验检测装置，包括底板和支撑杆，所述支撑杆一侧安装有第一调节机构，所述底板上方一侧安装有第二调节机构，所述第一调节机构包括电机、转动杆、第一伞齿轮、第二伞齿轮、螺纹杆、移动板、支撑板和检测头，本实用新型专利技术通过设有的电机、转动杆、第一伞齿轮、第二伞齿轮、螺纹杆、移动板、第二滑槽和检测头，便于对AI芯片进行全面检测，通过电机带动转动杆转动，转动杆带动第一伞齿轮转动，第一伞齿轮带动第二伞齿轮转动，第二伞齿轮带动螺纹杆转动。螺纹杆带动移动板移动，移动板通过在第二滑槽上移动来带动检测头移动，检测头移动来对AI芯片进行全面检测，提高工作效率，也替代人工检测。工检测。工检测。

【技术实现步骤摘要】
一种AI芯片试验检测装置


[0001]本技术涉及AI芯片检测
，具体为一种AI芯片试验检测装置。

技术介绍

[0002]人工智能有时被称为机器智能，是由机器展示的智能，与人类和动物展示的自然智能形成对比，通俗地说，“人工智能”一词用来描述模仿人类与其他人类思维相关联的“认知”功能的机器，如“学习”和“解决问题”，随着机器变得越来越有能力，被认为需要“智能”的任务通常会从人工智能的定义中删除，这种现象被称为人工智能效应，现代机器能力通常被归类为人工智能，包括成功理解人类语言，在战略游戏系统中处于最高水平的竞争，自主操作汽车、内容传递网络中的智能路由以及军事模拟。芯片在生产过程中，需要对芯片进行详细的测试，因此会在芯片设计时预先在芯片中加入用于测试芯片功能的电路，这些电路通常是串行或并行电路，可以直接访问芯片内的总线或控制器，测试者通过这些电路可以直接读取芯片中的信息，从而对芯片进行测试。
[0003]现有的AI芯片检测装置在使用时，一般都是人工进行测试，效率低下，为此我们提出了一种AI芯片试验检测装置。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种AI芯片试验检测装置，以解决上述
技术介绍
中提出现有的AI芯片检测装置在使用时，一般都是人工进行测试，这种方式的操作复杂，产品测试合格率较低，导致芯片的产量也很低，同时AI智能产品在检测时只能够检测一部分，不能够进行全面检测，降低工作效率的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种AI芯片试验检测装置，包括底板和支撑杆；
[0006]所述支撑杆一侧安装有第一调节机构，所述底板上方一侧安装有第二调节机构，所述第一调节机构包括电机、转动杆、第一伞齿轮、第二伞齿轮、螺纹杆、移动板、支撑板和检测头。
[0007]优选的，所述底板上方安装有连接有两组支撑杆，左侧所述支撑杆一侧安装有电机，所述电机的动力输出端转动连接有转动杆，所述转动杆外壁连接有第一伞齿轮，所述第一伞齿轮外壁啮合连接有第二伞齿轮，所述第二伞齿轮外壁连接有移动板，所述移动板一端滑动连接有支撑板，所述支撑板两端与所述支撑杆外壁固定连接，所述移动板一侧安装有检测头。
[0008]优选的，所述第二调节机构包括滑块、铰接杆、电动推杆、检测台和立板，所述底板上方连接有立板，所述立板一侧安装有电动推杆，所述电动推杆一端连接有滑块，且所述滑块底部与所述底板上方固定连接，所述滑块外壁连接有铰接杆，所述铰接杆一侧连接有检测台。
[0009]优选的，所述支撑板外壁开设与所述移动板相适配的第二滑槽，且所述移动板两
端分别延伸至所述第二滑槽内。
[0010]优选的，所述底板上方开设与所述滑块相适配的第一滑槽，且所述滑块底部延伸至所述第一滑槽内。
[0011]优选的，左侧所述支撑杆外壁开设与所述转动杆相适配的第一旋转槽，且所述转动杆一端延伸至所述第一旋转槽内，右侧所述支撑杆外壁开设与所述螺纹杆相适配的第二旋转槽，且所述螺纹杆一端延伸至所述第二旋转槽内。
[0012]与现有技术相比，本技术的有益效果是；
[0013]1、通过设有的滑块、铰接杆、电动推杆、检测台和第一滑槽，通过电动推杆推动滑块在第一滑槽上移动，滑块移动来带动铰接杆移动，铰接杆带动检测台慢慢往上移动，当检测台上的AI芯片与检测头接触时，电动推杆停止工作，进而可便于调节检测台的高度，可适应对不同型号的AI芯片进行检测，实现自动化的检测，提高检测效率。
[0014]2、通过设有的电机、转动杆、第一伞齿轮、第二伞齿轮、螺纹杆、移动板、第二滑槽和检测头，便于对AI芯片进行全面检测，通过电机带动转动杆转动，转动杆带动第一伞齿轮转动，第一伞齿轮带动第二伞齿轮转动，第二伞齿轮带动螺纹杆转动。螺纹杆带动移动板移动，移动板通过在第二滑槽上移动来带动检测头移动，可是在装置上配转多组检测台，通过移动检测头实现更加高效的检测。
附图说明
[0015]图1为本技术结构示意图；
[0016]图2为本技术第一调节机构结构示意图；
[0017]图3为本技术检测头结构示意图。
[0018]图中：1、底板；101、第一滑槽；2、支撑杆；3、第一调节机构；301、电机；302、转动杆；303、第一伞齿轮；304、第二伞齿轮；305、螺纹杆；306、移动板；307、支撑板；3071、第二滑槽；308、检测头；4、第二调节机构；401、滑块；402、铰接杆；403、电动推杆；404、检测台；405、立板。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施条例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]实施例
[0021]请参阅图1
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3，图示中的：本实施例为本技术方案中一种优选实施方式，一种AI芯片试验检测装置，包括底板1和支撑杆2；
[0022]支撑杆2一侧安装有第一调节机构3，底板1上方一侧安装有第二调节机构4，第一调节机构3包括电机301、转动杆302、第一伞齿轮303、第二伞齿轮304、螺纹杆305、移动板306、支撑板307和检测头308。
[0023]如图1、2、3所示，底板1上方安装有连接有两组支撑杆2，左侧支撑杆2一侧安装有电机301，电机301的动力输出端转动连接有转动杆302，转动杆302外壁连接有第一伞齿轮
303，第一伞齿轮303外壁啮合连接有第二伞齿轮304，第二伞齿轮304外壁连接有移动板306，移动板306一端滑动连接有支撑板307，支撑板307两端与支撑杆2外壁固定连接，移动板306一侧安装有检测头308，通过电机301带动转动杆302转动，转动杆302带动第一伞齿轮303转动，第一伞齿轮303带动第二伞齿轮304转动，第二伞齿轮304带动螺纹杆305转动。螺纹杆305带动移动板306移动，移动板306通过在第二滑槽3071上移动来带动检测头308移动。
[0024]如图1所示，第二调节机构4包括滑块401、铰接杆402、电动推杆403、检测台404和立板405，底板1上方连接有立板405，立板405一侧安装有电动推杆403，电动推杆403一端连接有滑块401，且滑块401底部与底板1上方固定连接，滑块401外壁连接有铰接杆402，铰接杆402一侧连接有检测台404，通过电动推杆403推动滑块401在第一滑槽101上移动，滑块401移动来带动铰接杆402移动，铰接杆402带动检测台404慢慢往上移动，当检测台404上的AI芯片与检测头308接触时，电动推杆403停止工作，进而可便于调节检测台404的高度，可适应对不同型号的AI芯片进行检测。
[0025]如图2、3所示，支撑板307外壁开设与移动板306相适本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种AI芯片试验检测装置，包括底板(1)和支撑杆(2)；其特征在于：所述支撑杆(2)一侧安装有第一调节机构(3)，所述底板(1)上方一侧安装有第二调节机构(4)，所述第一调节机构(3)包括电机(301)、转动杆(302)、第一伞齿轮(303)、第二伞齿轮(304)、螺纹杆(305)、移动板(306)、支撑板(307)和检测头(308)，所述底板(1)上方安装有连接有两组支撑杆(2)，左侧所述支撑杆(2)一侧安装有电机(301)，所述电机(301)的动力输出端连接有转动杆(302)，所述转动杆(302)外壁连接有第一伞齿轮(303)，所述第一伞齿轮(303)外壁啮合连接有第二伞齿轮(304)，所述第二伞齿轮(304)外壁连接有移动板(306)，所述移动板(306)一端滑动连接有支撑板(307)，所述支撑板(307)两端与所述支撑杆(2)外壁固定连接，所述移动板(306)一侧安装有检测头(308)。2.根据权利要求1所述的一种AI芯片试验检测装置，其特征在于：所述第二调节机构(4)包括滑块(401)、铰接杆(402)、电动推杆(403)、检测台(404)和立板(405)，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘海斌，
申请(专利权)人：垣芯半导体上海有限公司，
类型：新型
国别省市：