一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法技术

本发明专利技术提供了一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法，其能解决现有人工故障排查及纠正方法存在的效率低、影响设备智能化运行、影响正常安检工作的问题。其包括以下步骤，对由毫米波/太赫兹安检设备的采样器采集并经成像处理后得到的、需要检测的J帧原始毫米波图像进行缩小处理，得到与J帧原始毫米波图像相一一对应的J帧实际检测图像；判断每一帧所述实际检测图像是否存在异常；当步骤S200中检测出在J帧实际检测图像中有K帧实际检测图像存在异常，则判定毫米波/太赫兹安检设备工作异常，否则毫米波/太赫兹安检设备工作正常；当判定毫米波/太赫兹安检设备工作异常后，对毫米波/太赫兹安检设备进行复位操作。对毫米波/太赫兹安检设备进行复位操作。对毫米波/太赫兹安检设备进行复位操作。

【技术实现步骤摘要】
一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法


[0001]本专利技术涉及安检领域，尤其是涉及毫米波/太赫兹安检
，具体为一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法。

技术介绍

[0002]毫米波/太赫兹安检技术是近年来新兴的一种新型人体安检技术，其是利用毫米波或太赫兹波对人体进行非接触式安检，因其具有对人体无害、安检速度快、安检准确率高的优势而在逐渐取代传统的金属探测、X光照射等安检形式。但在实际应用中，毫米波/太赫兹安检设备的采样器在运输、安装过程中受到外部环境影响以及使用不当极易造成采样器工作异常的情况(如图1中的位于标记框10内的呈直线的异常采样信号)，并由此导致毫米波/太赫兹安检成像出现偏差(如图2中位于标记框20内的人体成像上的呈竖向直线的显示异常)而影响整个毫米波/太赫兹安检设备的正常工作；以往当出现上述情况下，往往需要进行人工故障排查及纠正，这不仅会影响设备的智能化运行而且严重影响了正常的安检工作。

技术实现思路

[0003]针对上述问题，本专利技术提供了一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法，其能解决现有人工故障排查及纠正方法存在的效率低、影响设备智能化运行、影响正常安检工作的问题。
[0004]其技术方案为，一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法，其特征在于：其包括以下步骤，
[0005]步骤S100，对由毫米波/太赫兹安检设备的采样器采集并经成像处理后得到的、需要检测的J帧原始毫米波图像进行缩小处理，得到与J帧原始毫米波图像相一一对应的J帧实际检测图像；
[0006]步骤S200，判断每一帧所述实际检测图像是否存在异常；
[0007]步骤S300，当步骤S200中检测出在J帧实际检测图像中有K帧实际检测图像存在异常，则判定毫米波/太赫兹安检设备工作异常，否则毫米波/太赫兹安检设备工作正常；
[0008]步骤S400，当判定毫米波/太赫兹安检设备工作异常后，对毫米波/太赫兹安检设备进行复位操作。
[0009]进一步的，所述步骤S100～S400形成一个周期检测，毫米波/太赫兹安检设备每连续工作X小时后执行一次周期检测。
[0010]进一步的，当前一次周期检测判定毫米波/太赫兹安检设备工作异常并对设备进行复位操作后，在下一次周期检测时未检测到毫米波/太赫兹安检设备有异常，则所述前一次周期检测中毫米波/太赫兹安检设备处于第一异常工作状态。
[0011]进一步的，当连续W次周期检测均判定毫米波/太赫兹安检设备工作异常，则判定毫米波/太赫兹安检设备处于第二异常工作状态并进行报警提示。
[0012]进一步的，所述步骤S100中对原始毫米波图像进行缩小处理具体为，将尺寸为M行
×
N列的原始毫米波图像由彩色空间转换为灰度空间，得到尺寸为M
’
行
×
N
’
列的实际检测图像。
[0013]进一步的，所述步骤S20 0包括依次执行的以下步骤：
[0014]步骤S210，分别计算每一帧所述实际检测图像中的每一列数据的均值与标准差，得到N
’
组均值与标准差，并使用容器接收；
[0015]步骤S220，计算每组均值与标准差之间的比值λ，即λ＝均值/标准差，共得到N
’
个比值λ；
[0016]步骤S230，将步骤S220得到的N
’
个比值λ按从大到小的次序进行排序，得到一组从大到小依次排列的比值λ的序列；
[0017]步骤S240，将步骤S230得到的比值λ的序列中所有处于相邻位置的两个比值λ进行二次求比运算，且该二次求比运算是将相邻位置中处于后一位置的比值λ与处于前一位置的比值λ进行求比，得到(N
’
－1)个二次比值λ
’
；
[0018]步骤S250，若步骤S240得到的(N
’
－1)个二次比值λ
’
中的任意一个二次比值λ
’
大于预设的阈值T，则判定该帧实际检测图像存在异常。
[0019]进一步的，J的取值范围为50<J<100，K的取值范围为0<K<J/4。
[0020]进一步的，X的取值范围在1小时～5小时。
[0021]进一步的，观察经步骤S200判定为异常的检测图像，若确定该异常的检测图像上第U列图像数据出现问题，则即毫米波/太赫兹安检设备的采样器的第C
×
U/N
’
通道出现异常，其中C为毫米波/太赫兹安检设备的采样器的数量。
[0022]本专利技术的有益效果在于：其能够实现对毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自动检测，大大提高检测效率，满足毫米波/太赫兹安检设备的日常智能化运行的要求；同时，其是在毫米波/太赫兹安检设备的日常应用中进行实时检测，对设备的正常安检工作影响小；且其检测的对象又是大量本地采集的原始毫米波图像数据，因而其检测结果准确率高、检测精度高、可靠性强；此外，其采用周期检测的形式，故不会对设备运行造成大量额外负载，也不易影响毫米波/太赫兹安检设备的运行效率。
附图说明
[0023]图1为现有毫米波/太赫兹安检设备的采样器出现异常状态的示例示意图；
[0024]图2为现有毫米波/太赫兹安检设备出现异常工作状态的示例示意图；
[0025]图3为本专利技术一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法的流程示意图。
具体实施方式
[0026]见图3，本专利技术一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法，其包括以下步骤，
[0027]步骤S100，对由毫米波/太赫兹安检设备的采样器采集并经成像处理后得到的、需要检测的J帧原始毫米波图像进行缩小处理，得到与J帧原始毫米波图像相一一对应的J帧实际检测图像。将需要检测的原始毫米波图像进行缩小处理，能够降低数据处理量，一方面
提高后续的数据处理速度，另一方面也能尽量避免大数据量处理对设备造成的过度负载，确保设备的安全稳定运行工作；另外，由于不同型号的毫米波/太赫兹安检设备输出的原始毫米波图像尺寸不同，因此对原始毫米波图像进行统一的缩小处理，也能提高后续设备状态异常检测数据的一致性，从而确保检测准确性。
[0028]作为本专利技术优选的实施方案，将原始毫米波图像进行缩小处理具体是将尺寸为M行
×
N列的原始毫米波图像由彩色空间转换为灰度空间，得到尺寸为M
’
行
×
N
’
列的实际检测图像。
[0029]步骤S200，判断每一帧实际检测图像是否存在异常；具体包括依次进行的以下步骤：
[0030]步骤S210，分别计算每一帧所述实际检测图像中的每一列数据的均值与标准差，得到N
’
组均值与标准差，并使用容器接收；
[0031]步骤S220，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法，其特征在于：其包括以下步骤，步骤S100，对由毫米波/太赫兹安检设备的采样器采集并经成像处理后得到的、需要检测的J帧原始毫米波图像进行缩小处理，得到与J帧原始毫米波图像相一一对应的J帧实际检测图像；步骤S200，判断每一帧所述实际检测图像是否存在异常；步骤S300，当步骤S200中检测出在J帧实际检测图像中有K帧实际检测图像存在异常，则判定毫米波/太赫兹安检设备工作异常，否则毫米波/太赫兹安检设备工作正常；步骤S400，当判定毫米波/太赫兹安检设备工作异常后，对毫米波/太赫兹安检设备进行复位操作。2.根据权利要求1所述的一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法，其特征在于：所述步骤S100～S400形成一个周期检测，毫米波/太赫兹安检设备每连续工作X小时后执行一次周期检测。3.根据权利要求2所述的一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法，其特征在于：当前一次周期检测判定毫米波/太赫兹安检设备工作异常并对设备进行复位操作后，在下一次周期检测时未检测到毫米波/太赫兹安检设备有异常，则所述前一次周期检测中毫米波/太赫兹安检设备处于第一异常工作状态。4.根据权利要求2所述的一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法，其特征在于：当连续W次周期检测均判定毫米波/太赫兹安检设备工作异常，则判定毫米波/太赫兹安检设备处于第二异常工作状态并进行报警提示。5.根据权利要求1所述的一种毫米波/太赫兹安检设备异常工作状态的自检方法，其特征在于：所述步骤S100中对原始毫米波图像进行缩小处理具体为，将尺寸为M行
×
N列的原始毫米波图像由彩色空间转换为灰度空间，得到尺寸为M
’
行
×
N
’
列列的实际检测图像。6.根据权利要求5所述的一种毫米波/太赫兹安检设备异常...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘仕望，谢巍，侯丽伟，焦璞，孙可可，
申请(专利权)人：江苏亨通太赫兹技术有限公司，
类型：发明
国别省市：