一种显示面板边缘线缺陷检测方法及应用技术

技术编号:36254582 阅读:14 留言:0更新日期:2023-01-07 09:49
本发明专利技术公开了一种显示面板边缘线缺陷检测方法,包括:获取显示面板检测图像并提取显示面板检测图像中的显示区域;根据预设边缘区域宽度标记出显示区域中的边缘区域;将边缘区域自宽度方向和长度方向划分为若干个子区域,并根据预设灰度阈值判断各子区域是否为缺陷,将判断为缺陷的子区域标记为初始缺陷区域;根据初始缺陷区域的尺寸参数确定初始缺陷区域中的过检区域;除去初始缺陷区域中的过检区域,得到目标缺陷区域。其可以解决现有的显示面板缺陷检测由于图像信噪比问题或有复杂纹理导致边缘线类缺陷检测困难,难以避免过漏检现象的问题。现象的问题。现象的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种显示面板边缘线缺陷检测方法及应用


[0001]本专利技术涉及LCD/OLED显示面板自动光学检测领域,尤其涉及到一种显示面板边缘线缺陷检测方法、一种显示面板边缘线缺陷检测装置和一种显示面板边缘线缺陷检测系统以及一种计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]在工业领域高速发展的趋势下,LCD和OLED面板检测任务逐渐由人工检测到机器检测转变,因此AOI系统扮演着人工的角色进行一系列高强度、高精度的检测任务,极大的提高了生产效率和解放生产力。
[0003]AOI的应用场景中边缘检测的准确性是比较难的一个问题,因为在边缘会有屏体本身或光学系统引起的图像信噪比问题或有复杂纹理,这些都会引起过漏检,尤其是过检测。因此,如何避免显示面板边缘线类缺陷(特别是1

3像素)的过漏检现象是当前亟待解决的问题。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的以上缺陷或改进需求,本专利技术提供了一种显示面板边缘线缺陷检测方法、一种显示面板边缘线缺陷检测装置和一种显示面板边缘线缺陷检测系统以及一种计算机可读存储介质,其可以解决现有的显示面板缺陷检测由于图像信噪比问题或有复杂纹理导致边缘线类缺陷(1

3像素)检测困难,难以避免过漏检现象。
[0005]一方面,本专利技术实施例提供了一种显示面板边缘线缺陷检测方法,包括:获取显示面板检测图像并提取所述显示面板检测图像中的显示区域;根据预设边缘区域宽度标记出所述显示区域中的边缘区域;将所述边缘区域自宽度方向和长度方向划分为若干个子区域,并根据预设灰度阈值判断各所述子区域是否为缺陷,将判断为缺陷的所述子区域标记为初始缺陷区域;根据所述初始缺陷区域的尺寸参数确定所述初始缺陷区域中的过检区域;除去所述初始缺陷区域中的所述过检区域,得到目标缺陷区域。
[0006]在本专利技术的一个实施例中,所述根据所述初始缺陷区域的长度参数和宽度参数确定所述初始缺陷区域中的过检区域,包括:判断所述初始缺陷区域与所述显示区域的边缘是否粘连,判断为是则根据长度参数和第一宽度参数确定所述缺陷区域中的过检区域,判断为否则根据所述长度参数和第二宽度参数确定所述缺陷区域中的过检区域。
[0007]在本专利技术的一个实施例中,所述根据预设灰度阈值判断各所述子区域是否为缺陷,包括:分别计算所述宽度方向的若干个子区域的第一灰度值和所述长度方向的若干个子区域的第二灰度值;根据预设加权比例对所述第一灰度值和所述第二灰度值进行加权计算,以得到每个所述子区域的灰度值;根据每个所述子区域的灰度值判断对应的所述子区域是否为缺陷。
[0008]在本专利技术的一个实施例中,所述根据预设边缘区域宽度标记出所述显示区域中的边缘区域之后,还包括:选出所述边缘区域的边框部分,并计算所述边框部分的灰度值;以
所述边框部分的灰度值为基准拉升所述边缘区域的灰度值。
[0009]另一方面,本专利技术实施例提出一种显示面板边缘线缺陷检测装置,包括:显示区域提取模块,用于获取显示面板检测图像并提取所述显示面板检测图像中的显示区域;边缘区域标记模块,用于根据预设边缘区域宽度标记出所述显示区域中的边缘区域;初始缺陷区域判断模块,用于将所述边缘区域自宽度方向和长度方向划分为若干个子区域,并根据预设灰度阈值判断各所述子区域是否为缺陷,将判断为缺陷的所述子区域标记为初始缺陷区域;过检区域确定模块,用于根据所述初始缺陷区域的尺寸参数确定所述初始缺陷区域中的过检区域;目标缺陷区域得到模块,用于除去所述初始缺陷区域中的所述过检区域,得到目标缺陷区域。
[0010]在本专利技术的一个实施例中,所述过检区域确定模块具体用于:判断所述初始缺陷区域与所述显示区域的边缘是否粘连,判断为是则根据长度参数和第一宽度参数确定所述缺陷区域中的过检区域,判断为否则根据所述长度参数和第二宽度参数确定所述缺陷区域中的过检区域。
[0011]在本专利技术的一个实施例中,所述初始缺陷区域判断模块具体用于:分别计算所述宽度方向的若干个子区域的第一灰度值和所述长度方向的若干个子区域的第二灰度值;根据预设加权比例对所述第一灰度值和所述第二灰度值进行加权计算,以得到每个所述子区域的灰度值;根据每个所述子区域的灰度值判断对应的所述子区域是否为缺陷。
[0012]在本专利技术的一个实施例中,所述显示面板边缘线缺陷检测装置还包括:预处理模块,用于选出所述边缘区域的边框部分,并计算所述边框部分的灰度值;以所述边框部分的灰度值为基准拉升所述边缘区域的灰度值。
[0013]再一方面,本专利技术实施例提出一种显示面板边缘线缺陷检测系统,包括:存储器和连接所述存储器的一个或多个处理器,存储器存储有计算机程序,处理器用于执行所述计算机程序以实现如上述中任意一个实施例所述的显示面板边缘线缺陷检测方法。
[0014]又一方面,本专利技术实施例提出一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于执行如上述中任意一个实施例所述的显示面板边缘线缺陷检测方法。
[0015]由上可知,通过本专利技术所构思的上述方案与现有技术相比,可以具有如下一个或多个有益效果:
[0016]1)通过将显示面板的边缘区域自宽度方向和长度方向分别划分为若干个子区域,对宽度方向和长度方向的各子区域之间进行复合加权比较,能够准确检出显示面板的边缘线缺陷;
[0017]2)通过区分检出的缺陷区域是否与显示面板的边缘粘连,并通过设置对应参数用于卡控可能出现的过检区域,从而有效避免显示面板边缘线类缺陷的过漏检现象。
[0018]通过以下参考附图的详细说明,本专利技术的其他方面的特征变得明显。但是应当知道,该附图仅仅为解释的目的设计,而不是作为本专利技术的范围的限定。还应当知道,除非另外指出,不必要依比例绘制附图,它们仅仅力图概念地说明此处描述的结构和流程。
附图说明
[0019]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解,构成本专利技术的一部分,本发
明的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术,并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中:
[0020]图1为本专利技术实施例提供的显示面板边缘线缺陷检测方法的流程图;
[0021]图2为本专利技术实施例提供的显示面板检测图像;
[0022]图3为本专利技术实施例提供的显示面板显示区域中的边缘区域示意图;
[0023]图4a为本专利技术实施例提供的边缘区域沿长度方向划分的示意图;
[0024]图4b为本专利技术实施例提供的边缘区域沿宽度方向划分的示意图;
[0025]图4c为本专利技术实施例提供的边缘区域同时沿长度和宽度方向划分的示意图;
[0026]图5a为本专利技术实施例提供根据初始缺陷区域的尺寸参数确定的一种过检区域示意图;
[0027]图5b为本专利技术实施例提供根据初始缺陷区域的尺寸参数确定的另一种过检区域示意图;
[0028]图5c为本专利技术实施例提供根据初始缺陷区域的尺寸参数确定的又一种过检区域示意图;
[0029]图6为本专利技术实施例提本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板边缘线缺陷检测方法,其特征在于,包括:获取显示面板检测图像并提取所述显示面板检测图像中的显示区域;根据预设边缘区域宽度标记出所述显示区域中的边缘区域;将所述边缘区域自宽度方向和长度方向划分为若干个子区域,并根据预设灰度阈值判断各所述子区域是否为缺陷,将判断为缺陷的所述子区域标记为初始缺陷区域;根据所述初始缺陷区域的尺寸参数确定所述初始缺陷区域中的过检区域;除去所述初始缺陷区域中的所述过检区域,得到目标缺陷区域。2.根据权利要求1所述的显示面板边缘线缺陷检测方法,其特征在于,所述根据所述初始缺陷区域的尺寸参数确定所述初始缺陷区域中的过检区域,包括:判断所述初始缺陷区域与所述显示区域的边缘是否粘连,判断为是则根据长度参数和第一宽度参数确定所述缺陷区域中的过检区域,判断为否则根据所述长度参数和第二宽度参数确定所述缺陷区域中的过检区域。3.根据权利要求1所述的显示面板边缘线缺陷检测方法,其特征在于,所述根据预设灰度阈值判断各所述子区域是否为缺陷,包括:分别计算所述宽度方向的若干个子区域的第一灰度值和所述长度方向的若干个子区域的第二灰度值;根据预设加权比例对所述第一灰度值和所述第二灰度值进行加权计算,以得到每个所述子区域的灰度值;根据每个所述子区域的灰度值判断对应的所述子区域是否为缺陷。4.根据权利要求1所述的显示面板边缘线缺陷检测方法,其特征在于,所述根据预设边缘区域宽度标记出所述显示区域中的边缘区域之后,还包括:选出所述边缘区域的边框部分,并计算所述边框部分的灰度值;以所述边框部分的灰度值为基准拉升所述边缘区域的灰度值。5.一种显示面板边缘线缺陷检测装置,其特征在于,包括:显示区域提取模块,用于获取显示面板检测图像并提取所述显示面板检测图像中的显示区域;边缘区域标记模块,用于根据预设边缘区域宽度标记出所述显示区域中的边缘区域;初始缺...

【专利技术属性】
技术研发人员:方锑林松舒昂
申请(专利权)人:苏州精濑光电有限公司武汉精测电子集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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