窄带干涉滤光片全自动批量检测的分光光度计及检测方法技术

本发明专利技术是窄带干涉滤光片全自动批量检测的分光光度计及检测方法，其特征在于：遮光罩上设置入射狭缝，所述入射狭缝的入口处设置石英窗片，所述石英窗片的前方设置光源，所述遮光罩内并排设置色散元件及光学通路，所述色散元件的对面设置准直镜，所述光学通路的对面设置物镜，所述光学通路的入口处设置出射狭缝，所述光学通路内轴向依次设置半透半反镜及第一检测器，所述遮光罩的下方设置X向平行移动轨道，其上滑动设置Y向平行移动轨道，所述Y向平行移动轨道上滑动设置多孔滤光片夹具，其底端设置Y轴俯仰姿态控制机构及X轴俯仰姿态控制机构，所述X轴俯仰姿态控制机构的顶端设置第二检测器，本发明专利技术实现了垂直度的自动检测及垂直度的一致性。垂直度的一致性。垂直度的一致性。

【技术实现步骤摘要】
窄带干涉滤光片全自动批量检测的分光光度计及检测方法


[0001]本专利技术涉及一种窄带干涉滤光片全自动批量检测的分光光度计及检测方法。

技术介绍

[0002]干涉滤光片是利用干涉原理只使特定光谱范围的光通过的光学薄膜。通常由多层薄膜构成。干涉滤光片种类繁多，用途不一，常见干涉滤光片分截止滤光片和带通滤光片两类。带通滤光片只允许较窄波长范围的光通过，常见的是法布里
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珀罗型滤光片，它实质上是一个法布里
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珀罗标准具(见法布里
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珀罗干涉仪)。具体结构为：玻璃衬底上涂一层半透明金属层，接着涂一层氟化镁隔层，再涂一层半透明金属层，两金属层构成了法布里
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珀罗标准具的两块平行板。当两极的间隔与波长同数量级时，透射光中不同波长的干涉高峰分得很开，利用别的吸收型滤光片可把不允许透过的光滤掉，从而得到窄通带的带通滤光片。窄带干涉滤光片是一种带通滤波器，它利用电介质和金属多层膜的干涉作用，可以从入射光中，选取特定的波长，其半峰值带宽(峰值的一半)为1nm到40nm。窄带干涉滤光片可代替如光本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种窄带干涉滤光片全自动批量检测的分光光度计，其特征在于：遮光罩(8)的一侧壁上设置入射狭缝(3)，所述入射狭缝(3)的入口处设置石英窗片(2)，所述石英窗片(2)的前方设置光源(1)；所述遮光罩(8)内并排设置色散元件(5)及光学通路(10)，所述色散元件(5)的对面设置准直镜(4)，所述光学通路(10)的对面设置物镜(6)，所述光学通路(10)的入口处设置出射狭缝(7)，所述光学通路(10)内轴向依次设置半透半反镜(9)及第一检测器(11)；所述遮光罩(8)的下方设置X向平行移动轨道(14)，所述X向平行移动轨道(14)上滑动设置Y向平行移动轨道(13)，所述Y向平行移动轨道(13)上滑动设置多孔滤光片夹具(12)，所述多孔滤光片夹具(12)上放置若干个滤光片(18)；所述X向平行移动轨道(14)的底端设置Y轴俯仰姿态控制机构(15)及X轴俯仰姿态控制机构(16)，所述X轴俯仰姿态控制机构(16)的顶端设置第二检测器(17)；所述色散元件(5)、所述第一检测器(11)、所述多孔滤光片夹具(12)、所述Y轴俯仰姿态控制机构(15)、所述X轴俯仰姿态控制机构(16)及所述第二检测器(17)分别与控制器信号连接，所述控制器通过接受所述第二检测器(17)传送的信号，能够控制所述多孔滤光片夹具(12)的水平移动，所述控制器通过接受所述第一检测器(11)传送的信号，能够控制所述Y轴俯仰姿态控制机构(15)及所述X轴俯仰姿态控制机构(16)的俯仰姿态，供所述滤光片(18)与所述光学通路(10)完全垂直，所述控制器通过控制所述色散元件(5)的转动，供波长扫描。2.如权利要求1所述窄带干涉滤光片全自动批量检测的分光光度计，其特征在于：所述遮光罩(8)由金属材料制成，供形成密闭暗室。3.如权利要求1所述窄带干涉滤光片全自动批量检测的分光光度计，其特征在于：所述准直镜(4)采用凹球面反射镜，供入射光成为平行光，所述色散元件(5)采用平面反射光栅，供复合光分解成单色光，所述物镜(6)采用凹球面反射镜，供聚焦装置，能够将分光后所得单色光聚焦至所述出射狭缝(7)。4.如权利要求1所述窄带干涉滤光片全自动批量检测的分光光度计，其特征在于：所述半透半反镜(9)采用点阵...

【专利技术属性】
技术研发人员：王超，刘伯昌，孙英，陈璐，王德富，曲红静，孟嘉译，王正凤，
申请(专利权)人：北京北分瑞利分析仪器集团有限责任公司，
类型：发明
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