用于控制器结构测试的系统、装置和方法制造方法及图纸

本申请涉及用于控制器结构测试的系统、装置和方法。一种系统包括安装到印刷电路板PCB的存储器子系统控制器和电路内测试ICT装置。所述存储器子系统控制器在所述PCB上具有包括刺激点和观察点的测试点。所述ICT装置连接到所述控制器的所述测试点。所述ICT装置将自动测试模式生成ATPG输入测试向量转换为测试信号。所述ICT装置的第一引脚驱动器组将所述测试信号施加到所述控制器的所述刺激点，并且所述ICT装置的第二引脚驱动器组读取在所述控制器的所述观察点处输出的输出信号。所述ICT装置的比较器将所述输出信号与输出测试向量进行比较。所述比较器提供包括所述比较的结果的测试结果数据。测试结果数据。测试结果数据。

【技术实现步骤摘要】
用于控制器结构测试的系统、装置和方法
[0001]分案申请的相关信息
[0002]本申请是申请号为201980081770.4、申请日为2019年12月5日、专利技术名称为“用于控制器结构测试的系统、装置和方法”的中国专利技术专利申请的分案申请。
[0003]优先权申请
[0004]本申请要求2018年12月13日提交的第16/219,368号美国申请的优先权权益，所述美国申请以全文引用的方式并入本文中。


[0005]本公开的实施例大体上涉及存储器子系统，并且更具体地涉及使用自动测试向量对存储器子系统控制器进行结构测试。

技术介绍

[0006]存储器子系统可以是存储系统，例如固态驱动器(SSD)，并且可以包含存储数据的一个或多个存储器部件。存储器部件可以例如是非易失性存储器部件和易失性存储器部件。一般来说，主机系统可以利用存储器子系统以在存储器部件处存储数据并且从存储器部件检索数据。

技术实现思路

[0007]一方面，本公开涉及一种系统，其包括：存储器子系统控制器，其安装到印刷电路板，所述存储器子系统控制器在所述印刷电路板上具有多个测试点，所述多个测试点包括对应于所述印刷电路板上暴露的所述存储器子系统控制器的扫描输入引脚的刺激点，所述扫描输入引脚经配置以促进使用边界扫描描述语言BSDL测试向量的所述存储器子系统控制器的测试；以及电路内测试装置，其连接到所述印刷电路板上的所述存储器子系统控制器的所述多个测试点，所述电路内测试装置包括：处理装置，其执行使得所述处理装置将来自标准测试接口语言STIL文件的自动测试模式生成输入测试向量转换为测试信号的指令；以及引脚驱动器，其将基于所述STIL文件产生的测试信号施加到所述印刷电路板上暴露的所述存储器子系统控制器的所述扫描输入引脚。
[0008]另一方面，本公开涉及一种电路内测试装置，其包括：处理装置，其执行使得所述处理装置将来自标准测试接口语言STIL文件的自动测试模式生成输入测试向量转换为能驱动存储器子系统控制器的测试点组的测试信号的指令；以及引脚驱动器，其将基于所述STIL文件产生的所述测试信号中的一者施加到对应于所述存储器子系统控制器的扫描输入引脚的刺激点，所述扫描输入引脚经配置以促进使用边界扫描描述语言BSDL测试向量的所述存储器子系统控制器的测试。
[0009]另一方面，本公开涉及一种方法，其包括：由电路内测试装置将标准测试接口语言STIL文件中的自动测试模式生成输入测试向量转换为能驱动存储器子系统控制器的第一测试点组的测试信号；以及由所述电路内测试装置将基于所述STIL文件产生的所述测试信
号施加到所述存储器子系统控制器的所述第一测试点组，所述测试信号的所述施加包含将基于所述STIL文件产生的第一测试信号施加到对应于所述存储器子系统控制器的扫描输入引脚的第一测试点，所述扫描输入引脚促进使用边界扫描描述语言BSDL测试向量的所述存储器子系统控制器的测试。
附图说明
[0010]根据下文给出的具体实施方式且根据本公开的各种实施例的附图将更加充分地理解本公开。
[0011]图1示出了根据本公开的一些实施例的包含存储器子系统的示例计算环境。
[0012]图2是示出根据本公开的一些实施例的用于存储器子系统控制器的双重用途引脚配置的框图。
[0013]图3是示出根据本公开的一些实施例的电路内测试(ICT)装置的部件的框图。
[0014]图4是根据本公开的一些实施例的用以执行安装在印刷电路板(PCB)上的存储器子系统控制器的测试的示例方法的流程图。
[0015]图5是本公开的实施例可以在其中操作的示例计算机系统的框图。
具体实施方式
[0016]本公开的方面涉及使用自动测试向量对存储器子系统中的控制器进行结构测试。存储器子系统在下文也称为“存储器装置”。存储器子系统的实例是存储系统，例如SSD。在一些实施例中，存储器子系统是混合式存储器/存储子系统。通常，主机系统可以利用包含一个或多个存储器部件的存储器子系统。主机系统可以提供将要存储在存储器子系统处的数据并且可以请求将要从存储器子系统检索的数据。存储器子系统控制器(在下文简称为“控制器”)可以从主机系统接收命令或操作，并且可以将所述命令或操作转换为指令或恰当的命令，以实现对存储器部件的所需访问。
[0017]在存储器子系统上执行制造测试，以确保所有部件都正确地组装且按预期起作用。硅层级处的控制器测试利用依赖于自动测试模式生成(ATPG)(也称为“基于扫描的测试”)的方法。ATPG涉及开发用以测试控制器的结构的唯一输入集，被称为“测试向量”。通常由控制器制造商创建并提供ATPG向量。
[0018]在印刷电路板组件(PCBA)层级处，使用在控制器上执行的固件测试控制器功能性。此固件通常是独立于ATPG测试向量开发的，且因此需要可能多余的手动开发来测试控制器的恰当功能，所述手动开发需要对控制器的内部架构和寄存器执行情况的详细了解，以提供足够的测试覆盖范围。另外，由于控制器执行用于测试控制器的固件，因此在此过程中测试覆盖范围存在固有损失。此外，基于固件的操作的执行时间通常比纯硬件操作的执行时间长1
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2个数量级，这增加了制造成本。另外，开发固件的一次性工程费用(NRE)是增加制造成本的额外费用。
[0019]本公开的方面通过使电路内测试(ICT)装置和存储器子系统控制器经配置以允许在PCBA层级测试期间重复使用ATPG测试向量来解决常规PCBA层级控制器测试的以上和其它缺陷。ICT测试装置包含：测试信号发生器，其基于ATPG测试向量生成测试信号；以及ICT测试装置的引脚驱动器，其将测试信号施加到存储器子系统控制器并且响应于测试信号而
读取由存储器子系统控制器提供的输出信号。存储器子系统控制器经配置以包含双重用途的测试引脚，以允许重复使用ATPG测试向量。具体地，存储器子系统控制器的通常用于执行基于边界扫描的测试的扫描引脚适用于在印刷电路板(PCB)上具有路径布置，以提供对ICT装置的访问，从而促进测试。ICT装置经由PCB上的路径布置连接到存储器子系统的测试引脚，并且能够使用ATPG向量执行存储器子系统控制器的测试，以实现充分的控制器覆盖范围且允许所有步骤应用一致的覆盖范围。
[0020]应了解，上文所描述的方法提供对存储器子系统控制器的常规PCBA层级测试的改进，这是因为所述方法允许在PCBA层级处重复使用ATPG测试向量，由此减少经由具有系统约束的固件实施方案在开发测试覆盖范围中作出的可能多余的努力。此向量重复使用还通过提供确定的故障覆盖范围评估来改进常规的PCBA层级测试。更确切地说，通过重复使用ATPG测试向量，此方法降低了测试时间内的执行成本。
[0021]图1示出了根据本公开的一些实施例的包含存储器子系统110的示例计算环境100。存储器子系统110可以包含媒体，例如存储器部件112
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1到112
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N。存储器部件112<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种系统，其包括：存储器子系统控制器，其安装到印刷电路板，所述存储器子系统控制器在所述印刷电路板上具有多个测试点，所述多个测试点包括对应于所述印刷电路板上暴露的所述存储器子系统控制器的扫描输入引脚的刺激点，所述扫描输入引脚经配置以促进使用边界扫描描述语言BSDL测试向量的所述存储器子系统控制器的测试；以及电路内测试装置，其连接到所述印刷电路板上的所述存储器子系统控制器的所述多个测试点，所述电路内测试装置包括：处理装置，其执行使得所述处理装置将来自标准测试接口语言STIL文件的自动测试模式生成输入测试向量转换为测试信号的指令；以及引脚驱动器，其将基于所述STIL文件产生的测试信号施加到所述印刷电路板上暴露的所述存储器子系统控制器的所述扫描输入引脚。2.根据权利要求1所述的系统，其中：所述多个测试点包括刺激点组和观察点组；所述刺激点组包括对应于所述存储器子系统控制器的所述扫描输入引脚的所述刺激点；以及所述观察点组中的一观察点对应于所述印刷电路板上暴露的所述存储器子系统控制器的扫描输出引脚。3.根据权利要求2所述的系统，其中所述电路内测试装置进一步包括：第一引脚驱动器组，其用以将所述测试信号施加到所述存储器子系统控制器的所述刺激点组，所述第一引脚驱动器组包括所述引脚驱动器；以及第二引脚驱动器组，其用以读取在所述存储器子系统控制器的所述观察点组处输出的输出信号。4.根据权利要求3所述的系统，其中所述电路内测试装置进一步包括：比较器，其用以将所述输出信号与输出测试向量进行比较，所述输出测试向量包括将所述测试信号施加到所述存储器子系统控制器的预期结果，所述比较器进一步用以提供测试结果数据，所述测试结果数据包括将所述输出信号与所述输出测试向量进行比较的结果。5.根据权利要求1所述的系统，其中所述电路内测试装置进一步包括：存储器，其存储包括所述STIL文件的自动测试模式生成测试向量数据，所述STIL文件包括所述自动测试模式生成输入测试向量。6.根据权利要求5所述的系统，其中：所述自动测试模式生成向量数据进一步包括输出测试向量。7.根据权利要求1所述的系统，其中将来自所述STIL文件的所述自动测试模式生成输入测试向量转换为测试信号包括产生代表所述自动测试模式生成输入向量的电信号。8.根据权利要求1所述的系统，其中所述多个测试点中的至少一个对应于所述印刷电路板上的所述存储器子系统控制器的测试引脚，所述测试引脚包括在驱动器与缓冲器之间串联连接的电阻器。9.根据权利要求8所述的系统，其中：第一测试点设置在所述驱动器与所述电阻器之间；以及
第二测试点设置在所述电阻器与所述缓冲器之间。10.一种电路内测试装置，其包括：处理装置，其执行使得所述处理装置将来自标准测试接口语言STIL文件的自动测试模式生成输入测试向量转换为能驱动存储器子系统控制器的测试点组的测试信号的指令；以及引脚驱动器，其将基于所述STIL文件产生的所述测试信号中的一者施加到对应于所述存储器子系统控制器的扫描输入引脚的刺激点，所述扫描输入引脚经配置以促进使用边界扫描描述语言BSDL...

【专利技术属性】
技术研发人员：M，
申请(专利权)人：美光科技公司，
类型：发明
国别省市：