【技术实现步骤摘要】
图像生成方法、装置、设备及计算机可读存储介质
[0001]本专利技术涉及光学成像领域,尤其涉及图像生成方法、装置、设备及计算机可读存储介质。
技术介绍
[0002]TOF,全称Time of Flight,英译为飞行时间,TOF技术可以用于测量场景中物体的距离,具体划分为DTOF(Direct TOF)和ITOF(Indirect TOF)两类。DTOF,英译为直接测量飞行时间,顾名思义,直接测量光脉冲在空间中的飞行时间。ITOF,英译为间接测量飞行时间,所谓间接,是指通过测量反射光与发射光的相位偏移,间接得到两者的飞行时间。
[0003]DTOF测距技术,主要利用光源发出具有一定特征的信号,该信号在空间中传播,由目标反射后,返回到接受器件中。该信号的传播时间可由时间测量单元直接测出,根据光速与传播时间,便可测出目标的距离。
[0004]由于测量的时间都是皮秒级,故微小时间的变化都会产生较大的距离误差,加之光的反射,导致图像传感器中心位置的接收时间最短,四周边缘位置的接收时间较长,最终造成测量结果出现中间凸起来的弯曲现象。
[0005]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。
技术实现思路
[0006]本专利技术的主要目的在于提供一种图像生成方法、装置、设备及计算机可读存储介质,旨在解决测量结果出现中间凸起来的弯曲现象的技术问题。
[0007]为实现上述目的,本专利技术提供一种图像生成方法,所述图像生成方法包括以下步骤:
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【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种图像生成方法,其特征在于,所述图像生成方法包括以下步骤:获取各像素点的位置、各像素点的飞行时间、光心的位置以及焦距,所述各像素点和所述光心均位于成像平面上,所述焦距为镜片中心与所述光心之间的距离,所述各像素点的位置、所述光心的位置以及所述焦距构建第一模型;根据所述第一模型中所述各像素点的位置、所述光心的位置以及所述焦距,确定各像素点对应的计算参数;根据所述各像素点的飞行时间,确定各像素点对应的测量光长;根据所述各像素点对应的计算参数和所述各像素点对应的测量光长,确定各像素点对应的矫正光长,所述各像素点对应的计算参数、所述各像素点对应的测量光长和所述各像素点对应的矫正光长构成与所述第一模型对应的第二模型;根据所述各像素点对应的矫正光长,生成矫正图像。2.如权利要求1所述的图像生成方法,其特征在于,所述根据第一模型的所述各像素点的位置、所述光心的位置以及所述焦距,确定各像素点对应的计算参数的步骤包括:根据所述第一模型中所述各像素点的位置,确定各像素点的坐标;根据所述第一模型中所述光心的位置,确定光心的坐标;根据所述各像素点的坐标与所述光心的坐标,确定各像素点与光心之间的距离;根据所述各像素点与光心之间的距离和所述焦距,确定各像素点对应的计算参数。3.如权利要求2所述的图像生成方法,其特征在于,所述各像素点对应的计算参数包括各像素点对应的角度值,所述根据所述各像素点与光心之间的距离和所述焦距,确定各像素点对应的计算参数的步骤包括:根据所述各像素点与光心之间的距离和所述焦距,利用反正切函数公式求得所述各像素点对应的角度值:
∝
=cos tan
‑1(m/f),式中,
∝
为所述各像素点对应的角度值,m为所述各像素点与光心之间的距离,f为所述焦距。4.如权利要求3所述的图像生成方法,其特征在于,所述各像素点对应的计算参数包括各像素点对应的角度值,所述根据所述各像素点对应的计算参数和所述各像素点对应的测量光长,确定各像素点对应的矫正光长的步骤包括:根据所述各像素点对应的角度值以及所述各像素点对应的测量光长,利用正弦函数公式求得各像素点对应的矫正光长:h=d
×
sin
∝
,式中,h为所述各像素点对应的矫正光长,d为所述各像素点对应的测量光长,
∝
为所述各像素点对应的角度值。5.如权利要求2所述的图像生成方法,其特征在于,所述各像素点对应的计算参数包括各像素点对应的角度值,所述根据所述各像素点与光心之间的距离和所述焦距,确定各像素点对应的计算参数的步骤包括:根据所述各像素点与光心之间的距离和所述焦距,利用反正切函数公式求得所述各像素点对应的角度值:β=cos tan
‑1(f...
【专利技术属性】
技术研发人员:罗志康,黄若普,罗剑辉,李安,
申请(专利权)人:深圳市安思疆科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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