一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法技术

本发明专利技术公开了一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法，方法的步骤如下：根据环类锻件的壁厚及高度，选择超声波探头的部署方式，以实现对所述环类锻件的全覆盖；将部署后的若干个探头接入多通道探伤仪上，以保证所述探头能够并行运行；同时激发若干个所述探头，同时检测探伤，实现一次性覆盖全部声程。本发明专利技术中，分区设置若干个聚焦探头，并根据锻件高度、壁厚不同，分别选择不同数量，一个端面或两个端面，外径面或外径面与内径等组合部署方式，实现对环类锻件的覆盖探伤检测，相较于传统技术，更适用于大壁厚或高度锻件的高精度检测，值得推广。值得推广。值得推广。

【技术实现步骤摘要】
一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法


[0001]本专利技术涉及超声波探伤
，具体是指一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法。

技术介绍

[0002]超声波探伤是利用超声能透入金属材料的深处，并由一截面进入另一截面时，在界面边缘发生反射的特点来检查零件缺陷的一种方法，当超声波束自零件表面由探头通至金属内部，遇到缺陷与零件底面时就分别发生反射波，在荧光屏上形成脉冲波形，根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小。
[0003]超声波在介质中传播时有多种波型，检验中最常用的为纵波、横波、表面波和板波。用纵波可探测金属铸锭、坯料、中厚板、大型锻件和形状比较简单的制件中所存在的夹杂物、裂缝、缩管、白点、分层等缺陷；用横波可探测管材中的周向和轴向裂缝、划伤、焊缝中的气孔、夹渣、裂缝、未焊透等缺陷；用表面波可探测形状简单的铸件上的表面缺陷；用板波可探测薄板中的缺陷。
[0004]在传统技术中，对于大壁厚或高度，高灵敏度探伤要求(例如缺陷当量Φ0.4～Φ0.8)，高信噪比要求(例如杂波低于缺陷当量判定线30％以下)的产品，采用普通超声波的探伤方法已无法达到要求的探伤灵敏度和分辨力。

技术实现思路

[0005]为解决上述技术问题，本专利技术提供的技术方案为一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法：
[0006]一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法，所述方法的具体步骤如下：
[0007]S1.根据环类锻件的壁厚及高度，选择超声波探头的部署方式，以实现对所述环类锻件的全覆盖；
[0008]S2.将部署后的若干个探头接入多通道探伤仪上，以保证所述探头能够并行运行；
[0009]S3.同时激发若干个所述探头，同时检测探伤，实现一次性覆盖全部声程。
[0010]作为改进，在S1中，所述部署方式包括单个端面加外径面部署、两个端面加外径面部署、单个端面加外径面加内径面部署、单个端面加内径面部署、两个端面加内径面部署、两个端面加外径面加内径面部署。
[0011]作为改进，在任意所述部署方式中，内径面部署及外径面部署采用若干个探头沿任意方向线性阵列的排布方式；端面部署采用若干个探头沿任意方向线性阵列的排布方式。
[0012]作为改进，所述探头的数量为2～24个。
[0013]作为改进，所述探头采用接触或非接触所述环类锻件的扫查方式。
[0014]作为改进，所述探头为聚焦探头。
[0015]本专利技术与现有技术相比的优点在于：本专利技术中，分区设置若干个聚焦探头，并根据锻件高度、壁厚不同，分别选择不同数量，一个端面或两个端面，外径面或外径面与内径等组合部署方式，实现对环类锻件的覆盖探伤检测，相较于传统技术，更适用于大壁厚或高度锻件的高精度检测，值得推广。
附图说明
[0016]图1是本专利技术一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法中探头部署方式示意图。
具体实施方式
[0017]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0018]下面详细描述本专利技术的实施例，实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“内”、“外”、“竖向”、“周向”、“径向”、“轴向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。
[0019]下面结合附图对本专利技术一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法做进一步的详细说明。
[0020]结合附图，图1，一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法，方法的具体步骤如下：
[0021]S1.根据环类锻件的壁厚及高度，选择超声波探头的部署方式，以实现对环类锻件的全覆盖；
[0022]S2.将部署后的若干个探头接入多通道探伤仪上，以保证探头能够并行运行；
[0023]S3.同时激发若干个探头，同时检测探伤，实现一次性覆盖全部声程。
[0024]本实施例中，在S1中，部署方式包括单个端面加外径面部署、两个端面加外径面部署、单个端面加外径面加内径面部署、单个端面加内径面部署、两个端面加内径面部署、两个端面加外径面加内径面部署。
[0025]本实施例中，在任意部署方式中，内径面部署及外径面部署采用若干个探头沿任意方向线性阵列的排布方式；端面部署采用若干个探头沿任意方向线性阵列的排布方式。
[0026]本实施例中，探头的数量为2～24个。
[0027]本实施例中，探头采用接触或非接触环类锻件的扫查方式。
[0028]本实施例中，探头为聚焦探头。
[0029]本专利技术中，探头可采用聚焦探头，超声波聚焦探头可将超声波聚集成一细束(线状或点状)，在焦点处声能集中，可提高探伤灵敏度及分辨力。
[0030]在具体实施时，本专利技术可根据锻件高度、壁厚不同，分别选择不同数量，一个端面
或两个端面，外径面或外径面与内径面等组合部署进行检测的方法，其中，每个聚焦探头检测覆盖一定区域范围，多个组合后覆盖整个声程，即每个聚焦探头分别聚焦环类锻件某个区域，多个探头覆盖全部区域；通过多通道探伤仪，同时激发，同时检测，能够满足对大壁厚或高度的环类锻件高灵敏度探、高信噪比的探伤要求。
[0031]以上对本专利技术及其实施方式进行了描述，这种描述没有限制性，附图中所示的也只是本专利技术的实施方式之一，实际的结构并不局限于此。总而言之如果本领域的普通技术人员受其启示，在不脱离本专利技术创造宗旨的情况下，不经创造性的设计出与该技术方案相似的结构方式及实施例，均应属于本专利技术的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法，其特征在于：所述方法的具体步骤如下：S1.根据环类锻件的壁厚及高度，选择超声波探头的部署方式，以实现对所述环类锻件的全覆盖；S2.将部署后的若干个探头接入多通道探伤仪上，以保证所述探头能够并行运行；S3.同时激发若干个所述探头，同时检测探伤，实现一次性覆盖全部声程。2.根据权利要求1所述的一种用聚焦探头进行超声波分区检测环类锻件的探伤方法，其特征在于：在S1中，所述部署方式包括单个端面加外径面部署、两个端面加外径面部署、单个端面加外径面加内径面部署、单个端面加内径面部署、两个端面加内径面部署、两个端面加外径面加内径面部署。3.根据...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯子府，
申请(专利权)人：侯子府，
类型：发明
国别省市：