一种原位实时程序升温分析方法技术

一种原位实时程序升温分析方法，包括：将待测样品滴加在至少一个测试传感器(1)的样品涂覆区；将测试传感器(1)在第一预设温度范围内进行程序升温以获得基线；基线为通过记录测试传感器(1)在程序升温过程中的谐振频率变化数据得到；将测试传感器(1)在第二预设温度范围内进行程序升温以获得测量曲线；测量曲线为通过记录测试传感器(1)在程序升温过程中的谐振频率变化数据得到；根据基线和测量曲线得到程序升温分析曲线。采用自身集成有加热和数据采集功能的测试传感器(1)对待测样品进行程序升温分析，减少了检测结果的滞后性，且精确度高、反应灵敏，简化了程序升温分析方法，实现对样品的精确定量化分析。样品的精确定量化分析。样品的精确定量化分析。样品的精确定量化分析。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：李昕欣，许鹏程，姚方兰，李昕昱，于海涛，
申请(专利权)人：中国科学院上海微系统与信息技术研究所，
类型：发明
国别省市：