一种基于涡流法的高温电导率测量系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及电导率测量技术领域，尤其涉及一种基于涡流法的高温电导率测量系统及方法，其中系统包括载物台、高温涡流探头、移动装置、高温计、激光加热子系统和数据测量子系统；载物台用于放置被测样品；高温涡流探头用于通入激励信号并拾取测量信号；移动装置用于带动高温涡流探头在被测样品的上方横向移动；激光加热子系统用于发射近红外波段的连续激光，以对被测样品进行加热；数据测量子系统用于产生一组多频率激励信号来激励高温涡流探头，确定高温涡流探头在被测样品上方同一位置处测得的一组多频率激励信号分别对应的电感变化，根据电感变化解算被测样品的电导率。本发明专利技术能够实现能够实现在高温条件下无接触地精确测量材料的电导率。料的电导率。料的电导率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于涡流法的高温电导率测量系统及方法


[0001]本专利技术涉及电导率测量
，尤其涉及一种基于涡流法的高温电导率测量系统及方法。

技术介绍

[0002]电导率是重要的材料属性，且会受到温度等因素的影响。航空、航天等应用领域常需要使用各种碳基复合材料，因为特殊的使用场景，为测试材料性能，获得准确的电导率测量结果，应实际模拟材料应用的环境温度。特别是对于几百甚至上千摄氏度的高温环境，此时温度对于材料电导率的影响已经不容忽略。
[0003]涡流法是一种室温下测量电导率的方法，能够基于测量所得的电感和电阻数据解算电导率。但是，由于环境温度对电阻影响较大，高温或超高温的干扰会使得常规涡流法所测数据失效，无法准确地测量高温环境下的材料电导率。

技术实现思路

[0004](一)要解决的技术问题
[0005]本专利技术要解决的技术问题是解决现有技术中的涡流法难以精确测定导电材料在高温条件下的电导率的问题。
[0006](二)技术方案
[0007]为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种基于涡流法的高温本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于涡流法的高温电导率测量系统，其特征在于，包括：载物台，用于放置被测样品；高温涡流探头，内部设有线圈，用于通入激励信号并拾取测量信号；移动装置，用于带动所述高温涡流探头在被测样品的上方横向移动；高温计，用于监测被测样品的温度；激光加热子系统，用于发射近红外波段的连续激光，以透过所述载物台上开设的加热孔，从下方对被测样品进行加热；数据测量子系统，与所述高温涡流探头连接，用于产生一组多频率激励信号来激励所述高温涡流探头，获取所述高温涡流探头拾取的测量信号，基于测量信号确定所述高温涡流探头在被测样品上方同一位置处测得的一组多频率激励信号分别对应的电感变化，以及根据电感变化解算出被测样品的电导率；其中，所述一组多频率激励信号包括至少三种不同频率的激励信号，且任意两个频率之间的频率差不超过预设频率差阈值。2.根据权利要求1所述的高温电导率测量系统，其特征在于：所述高温涡流探头采用耐高温材料制成，外壳设有中空的夹层，所述夹层内设有冷却油。3.根据权利要求2所述的高温电导率测量系统，其特征在于：所述线圈位于所述高温涡流探头底部的探测端，所述探测端的壁厚不超过1mm。4.根据权利要求1所述的高温电导率测量系统，其特征在于：所述移动装置包括滑轨、滑块和驱动模块；其中，所述滑轨设于所述载物台的一侧；所述滑块设于所述滑轨，并能够沿所述滑轨移动；所述驱动模块与所述滑块连接，用于驱动所述滑块移动；所述高温涡流探头通过支架设于所述滑块的一侧，悬于被测样品上方。5.根据权利要求1所述的高温电导率测量系统，其特征在于：所述激光加热子系统发射的激光在加热被测样品处形成直径不小于10mm的激光束，均匀度不小于90％。6.根据权利要求1所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：金华，吴德会，陈文雄，
申请(专利权)人：厦门大学，
类型：发明
国别省市：