一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法制造方法及图纸

技术编号:36158871 阅读:17 留言:0更新日期:2022-12-31 20:06
本发明专利技术公开了一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法,包括评估装置本体,评估装置本体包括类型确定模块、功耗库采集模块、功耗测量模块、功耗测试评估模块、评估方式模块、中心处理模块、结果存储模块和评估报告模块,本发明专利技术通过设置类型确定模块,对与评估装置本体连接的数字集成电路状态进行确定,辨别待评估的数字集成电路为运行、待机或者关机状态,并调整对应的评估值,做出对应的评估,得到准确的评估数据;通过设置功耗库采集模块,分别对数字集成电路的电源、工作环境中的温度、风速、电压、电压波形和功率等进行实时采集,评估装置评估范围广得出的数据具有可靠性。性。性。

【技术实现步骤摘要】
一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法


[0001]本专利技术涉及数字集成电路实时功耗测试领域,具体为一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法。

技术介绍

[0002]随着电子仪器的精密化发展,数字集成电路实时功耗测试技术需要不断发展演进,以满足实际生产需求,数字集成电路从传统的电子元件逐步演变为微小化、精细化的电子元器件,其制作过程更加复杂化、精准化,一般来说,数字集成电路是集成电路设计和制造的核心产业,数字集成电路在提升整体质量和技术水平的同时,还需要加强生产成本的控制,以保证相关企业的经济效益和社会效益,这就需要加强数字集成电路实时功耗测试技术的应用,以实现对各个生产制造环境的有效控制。
[0003]数字集成电路实时功耗测试系统是电子测试技术、自动控制电子计算机技术、数字信息化技术等多项技术综合性的技术成果,因此,数字集成电路实时功耗测试系统具有应用速度快、多参数、高精度、多功能等优点,得到广泛的应用,数字集成电路实时功耗测试系统的目的是准确模拟被测电路的实际工作环境,通过相关测试程序对电路进行测试,并确保测试结果的精准性和快速性,通过数字集成电路实时功耗测试系统的一系列测试结果,可以分析和评估实际电路系统的功能和参数,是否满足实际功能系统的要求,总体而言,数字集成电路实时功耗测试系统可以为电路分析和研究提供适当的理论和实践支持,同时,随着集成电路设计和制造技术的不断发展变化,数字集成电路实时功耗测试系统的应用功能也在逐步完善,为了了解数字集成电路实时功耗测试系统的完善进度,人们通常使用数字集成电路实时功耗测试评估装置对数字集成电路实时功耗测试系统进行评估。
[0004]但是,传统的数字集成电路实时功耗测试评估装置存在以下缺点:
[0005]传统的数字集成电路实时功耗测试评估装置通常采用统一的评估精度去对不同类型的数字集成电路实时功耗测试系统进行评估,导致得到的评估数据不准确。

技术实现思路

[0006]本专利技术的目的在于提供一种数字集成电路实时功耗测试评估装置及评估方法,以解决上述
技术介绍
中提出的传统的数字集成电路实时功耗测试评估装置通常采用统一的评估精度去对不同类型的数字集成电路实时功耗测试系统进行评估,导致得到的评估数据不准确的问题。
[0007]为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,包括评估装置本体,所述评估装置本体包括类型确定模块、功耗库采集模块、功耗测量模块、功耗测试评估模块、评估方式模块、中心处理模块、结果存储模块和评估报告模块,所述类型确定模块的一侧、功耗库采集模块的一侧、功耗测量模块的一侧、功耗测试评估模块的一侧、评估方式模块的一侧、结果存储模块的一侧和评估报告模块的一侧均通过导线与中心处理模块相邻的一侧连接,评估装置本体对数字集成电路的实时功耗进行评估
后做出对应的评估报告。
[0008]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述类型确定模块包括待机评估单元、运行评估单元和关机评估单元,对与采集评估装置本体相连的数字集成电路的状态进行确定,判断数字集成电路为待机、运行或者关机状态。
[0009]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述功耗库采集模块包括环境温度采集单元、工作电压采集单元、工作频率采集单元、基本单元采集单元和工作功率采集单元,评估装置本体对数字集成电路的环境温度进行采集,数字集成电路的电压和频率进行采集,电压的波形进行显示和功率精度进行采集。
[0010]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述功耗测量模块包括实时功耗获取单元、实时功耗调整单元和实时功耗选取单元,功耗测量模块对数字集成电路的实时功耗进行获取,而后对获取的数据进行选取和获取数据的范围进行调整。
[0011]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述功耗测试评估模块包括模拟电路功耗单元和数字集成电路功耗单元,对数字集成电路功耗进行评估时同时评估装置本体进行同情况的模拟电路,保证评估装置本体对数字集成电路评估的准确度。
[0012]作为本专利技术的一种优选技术方案,所述评估方式模块包括平行评估单元和多次评估单元,根据实际情况评估装置本体进行因素相同的平行评估或者多次进行数字集成电路功耗评估。
[0013]本专利技术一种数字集成电路实时功耗测试评估装置的评估方法,包括以下步骤:
[0014]步骤一、评估装置与数字集成电路相连:评估装置本体通过导线与待评估的数字集成电路相连;
[0015]步骤二、类型确定:对待检测的数字集成电路为待机、运行或者关机状态进行确定;
[0016]步骤三、设定评估限值:根据数字集成电路的状态分别设定不同的评估限值;
[0017]步骤四、实时功耗采集:环境温度采集单元、工作电压采集单元、工作频率采集单元、基本单元采集单元和工作功率采集单元分别对环境温度、电压、频率、基本电路信息和功率进行采集;
[0018]步骤五、实时模拟评估:评估装置本体内模拟电路进行同步的模拟评估;
[0019]步骤六、确定评估次数:根据实际情况进行相同情况的平行试验或者多次进行试验;
[0020]步骤七、存储评估结果:对试验数据进行存储;
[0021]步骤八、得出评估报告:评估装置本体根据试验结果得出实时功耗的评估报告。
[0022]与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:
[0023]1、通过设置类型确定模块,对与评估装置本体连接的数字集成电路状态进行确定,辨别待评估的数字集成电路为运行、待机或者关机状态,并调整对应的评估值,做出对应的评估,得到准确的评估数据;
[0024]2、通过设置功耗库采集模块,分别对数字集成电路的电源、工作环境中的温度、风速、电压、电压波形和功率等进行实时采集,评估装置评估范围广得出的数据具有可靠性;
[0025]3、通过设置功耗测量模块,对数字集成电路的相关信息进行获取,而后根据待评估内容进行调整和选取,提高评估装置使用的灵活度。
附图说明
[0026]图1为本专利技术评估装置本体的结构示意图;
[0027]图2为本专利技术类型确定模块的结构示意图;
[0028]图3为本专利技术功耗库采集模块的结构示意图;
[0029]图4为本专利技术功耗测量模块的结构示意图;
[0030]图5为本专利技术功耗测试评估模块的结构示意图;
[0031]图6为本专利技术评估方式模块的结构示意图;
[0032]图7为本专利技术的流程图。
[0033]图中:1、评估装置本体;2、类型确定模块;21、待机评估单元;22、运行评估单元;23、关机评估单元;3、功耗库采集模块;31、环境温度采集单元;32、工作电压采集单元;33、工作频率采集单元;34、基本单元采集单元;35、工作功率采集单元;4、功耗测量模块;41、实时功耗获取单元;42、实时功耗调整单元;43、实时功耗选取单元;5、功耗测试评估模块;51、模拟电路功耗单元;52、数字集成电路功耗单元;6、评估方式模块;61、平行评估单元;62、多次评估本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,包括评估装置本体(1),其特征在于:所述评估装置本体(1)包括类型确定模块(2)、功耗库采集模块(3)、功耗测量模块(4)、功耗测试评估模块(5)、评估方式模块(6)、中心处理模块(7)、结果存储模块(8)和评估报告模块(9),所述类型确定模块(2)的一侧、功耗库采集模块(3)的一侧、功耗测量模块(4)的一侧、功耗测试评估模块(5)的一侧、评估方式模块(6)的一侧、结果存储模块(8)的一侧和评估报告模块(9)的一侧均通过导线与中心处理模块(7)相邻的一侧连接。2.根据权利要求1所述的一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,其特征在于:所述类型确定模块(2)包括待机评估单元(21)、运行评估单元(22)和关机评估单元(23)。3.根据权利要求1所述的一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,其特征在于:所述功耗库采集模块(3)包括环境温度采集单元(31)、工作电压采集单元(32)、工作频率采集单元(33)、基本单元采集单元(34)和工作功率采集单元(35)。4.根据权利要求1所述的一种数字集成电路实时功耗测试评估装置,其特征在于:所述功耗测量模块(4)包括实时功耗获取单元(41)、实时功耗调整单元(42)和实时功耗选取单元(43)。5.根据权利要求1所述的一种数字集成电路...

【专利技术属性】
技术研发人员:孔金良范磊易伟峰高国青丁益华杨介立郎海龙
申请(专利权)人:山西浩然机电设备工程有限公司
类型:发明
国别省市:

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