一种图谱的生成方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种图谱的生成方法、装置、电子设备和存储介质。该方法包括：获取变电缺陷语料数据；根据变电缺陷语料数据，生成至少一个子图谱；根据原始图谱和至少一个子图谱，生成目标图谱。本发明专利技术实施例通过获取变电缺陷语料数据，进一步根据变电缺陷语料数据生成至少一个子图谱，最终结合原始图谱生成目标图谱，实现了对原始图谱的更新，且在此过程中不需要人工进行干预，提升了用户的使用体验。提升了用户的使用体验。提升了用户的使用体验。

【技术实现步骤摘要】
一种图谱的生成方法、装置、电子设备和存储介质


[0001]本专利技术涉及图谱生成
，尤其涉及一种图谱的生成方法、装置、电子设备和存储介质。

技术介绍

[0002]知识图谱是用于显示知识发展进程与结构关系的一系列各种不同的图形。
[0003]知识图谱更新是当存在新的知识与其关联关系时，需要将新的知识与其关联关系融合到原来的知识图谱中。目前，对于知识图谱的内容更新主要分为全面更新和常规更新：全面更新主要是根据数据集合从零构建知识图谱，但是该技术方法需要消耗较多的资源，而且需要大量的人力资源对系统进行维护；常规更新主要是将新增的数据作为输入，向现有知识图谱中添加新增知识，但是该技术方法存在需要人工干预的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种图谱的生成方法、装置、电子设备和存储介质，实现了自主生成图谱，无需人工参与，同时降低图谱生成过程中资源的消耗。
[0005]第一方面，本专利技术实施例提供了一种图谱的生成方法，该方法包括：获取变电缺陷语料数据；根据变电缺陷语料数据，生成至少一个子图谱；根据原始图谱和至少一个子图谱，生成目标图谱。
[0006]可选的，根据变电缺陷语料数据，生成至少一个子图谱，包括：根据变电缺陷分词模型、原始图谱和变电缺陷语料数据，得到目标语料信息；利用变电缺陷融合算法，根据目标语料信息生成至少一个子图谱。
[0007]可选的，根据变电缺陷分词模型、原始图谱和变电缺陷语料数据，得到目标语料信息，包括：根据变电缺陷分词模型对变电缺陷语料数据进行分析，得到原始语料信息；根据原始图谱对原始语料信息进行预处理，得到目标语料信息。
[0008]可选的，对于至少一个子图谱中的任一子图谱，在生成子图谱之后，还包括：根据原始图谱，对子图谱进行校验；若子图谱校验成功，则保留子图谱；若子图谱校验失败，则丢弃子图谱或者返回执行获取变电缺陷语料数据的步骤。
[0009]可选的，原始图谱包括多个原始实体，子图谱包括多个目标实体；根据原始图谱，对子图谱进行校验，包括：判断多个目标实体与多个原始实体是否相关；若多个目标实体中的所有目标实体均与多个原始实体不相关，则确定子图谱校验失败；若多个目标实体中的至少一个目标实体与多个原始实体相关，则确定子图谱校验成功。
[0010]可选的，根据原始图谱和至少一个子图谱，生成目标图谱，包括：通过图谱合成器将至少一个子图谱融合到原始图谱中，生成目标图谱。
[0011]可选的，原始图谱还包括多个原始实体之间的关系，子图谱还包括多个目标实体之间的关系；目标图谱包括多个原始实体之间的关系和多个目标实体之间的关系的并集。
[0012]第二方面，本专利技术实施例还提供了一种图谱的生成装置，该装置包括：数据获取模
块，用于获取变电缺陷语料数据；第一生成模块，用于根据变电缺陷语料数据，生成至少一个子图谱谱；第二生成模块，用于根据原始图谱和至少一个子图谱，生成目标图谱。
[0013]第三方面，本专利技术实施例还提供了一种电子设备，该电子设备包括：至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，计算机程序被至少一个处理器执行，以使至少一个处理器能够执行本专利技术任一实施例的图谱的生成方法。
[0014]第四方面，本专利技术实施例还提供了一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机指令，计算机指令用于使处理器执行时实现本专利技术任一实施例的图谱的生成方法。
[0015]本专利技术实施例的技术方案，通过获取变电缺陷语料数据；根据变电缺陷语料数据，生成至少一个子图谱；根据原始图谱和至少一个子图谱，生成目标图谱。在上述实施例的基础上，通过获取变电缺陷语料数据，进一步根据变电缺陷语料数据生成至少一个子图谱，最终结合原始图谱生成目标图谱，实现了对原始图谱的更新，且在此过程中不需要人工进行干预，提升了用户的使用体验。
[0016]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0018]图1是本专利技术实施例中提供的一种图谱的生成方法的一个流程图；
[0019]图2是本专利技术实施例中提供的一种图谱的生成方法的又一流程图；
[0020]图3是本专利技术实施例中提供的一种主图谱示意图；
[0021]图4是本专利技术实施例中提供的一种子图谱示意图；
[0022]图5是本专利技术实施例中提供的一种目标图谱示意图；
[0023]图6是本专利技术实施例中提供的一种图谱的生成装置的结构示意图；
[0024]图7是本专利技术实施例中提供的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0025]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0026]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或
描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0027]图1是本专利技术实施例中提供的一种图谱的生成方法的一个流程图，本实施例可适用于谱图的更新情况，该方法可以由图谱的生成装置来执行，该图谱的生成装置可以采用硬件和/或软件的形式实现，在一个具体的实施例中，该图谱的生成装置可配置于电子设备中。如图1所示，本专利技术实施例的方法具体包括如下步骤：
[0028]S110、获取变电缺陷语料数据。
[0029]其中，变电缺陷语料数据是指能够描述变电缺陷过程的数据信息。
[0030]具体的，在变电缺陷分析过程中获取变电缺陷语料数据，变电缺陷语料数据的数量为至少一个。
[0031]S120、根据变电缺陷语料数据，生成至少一个子图谱。
[0032]其中，子图谱是能够将变电缺陷语料数据进行展示的图谱。
[0033]具体的，在获取变电缺陷语料数据之后，通过分词模型将变电缺陷语料数本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种图谱的生成方法，其特征在于，该方法包括：获取变电缺陷语料数据；根据所述变电缺陷语料数据，生成至少一个子图谱；根据原始图谱和所述至少一个子图谱，生成目标图谱。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述变电缺陷语料数据，生成至少一个子图谱，包括：根据变电缺陷分词模型、原始图谱和所述变电缺陷语料数据，得到目标语料信息；利用变电缺陷融合算法，根据所述目标语料信息生成所述至少一个子图谱。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据变电缺陷分词模型、原始图谱和所述变电缺陷语料数据，得到目标语料信息，包括：根据所述变电缺陷分词模型对所述变电缺陷语料数据进行分析，得到原始语料信息；根据所述原始图谱对所述原始语料信息进行预处理，得到目标语料信息。4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对于所述至少一个子图谱中的任一子图谱，在生成所述子图谱之后，还包括：根据所述原始图谱，对所述子图谱进行校验；若所述子图谱校验成功，则保留所述子图谱；若所述子图谱校验失败，则丢弃所述子图谱或者返回执行获取变电缺陷语料数据的步骤。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述原始图谱包括多个原始实体，所述子图谱包括多个目标实体；所述根据所述原始图谱，对所述子图谱进行校验，包括：判断所述多个目标实体与所述多个原始实体是否相关；若所述多个目标实体中的所有目标实体均与所述多个原始实体不相关，则确定所述子图谱校验失败...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄智华，李辉，王元东，刘志洪，杨鹏杰，周瀛，李磊，张伟，唐强，侯斌，刘洪兵，邹学翔，罗昕宇，陈文海，谢逸丰，宋庆，李玥昊，张国武，苏东平，李蕊，王云开，资容涛，李雄梁，陈梦圆，贺玉凤，周涵予，周雅欣，邱婷，姚東成，杨志，
申请(专利权)人：云南电网有限责任公司昆明供电局，
类型：发明
国别省市：