一种半导体分立器件静态直流参数测试设备制造技术

本发明专利技术涉及半导体的技术领域，且公开了一种半导体分立器件静态直流参数测试设备，包括机座，所述机座的外部固定连接有检测空气含尘量的汇集壳，所述汇集壳的外部固定连接有用于空气含尘量检测的时间计量的L架。通过漏筒内部塑料球不间断穿过分隔板触发开关来实现空气尘土含量检测处理的时间控制，吸力板滑动汇集壳内部产生空气负压，负压经过单向管传递到处理箱内部，外部空气在负压作用下吸入处理箱内部，空气穿过滤板内部空气尘土被过滤，在漏筒控制相同时间范围内部通过计量滤板质量变化，从而得出空气尘土含量，从而实现半导体分立器件静态直流参数测试设备进行测试快速空气尘土含量检测。气尘土含量检测。气尘土含量检测。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体分立器件静态直流参数测试设备


[0001]本专利技术涉及半导体的
，具体为一种半导体分立器件静态直流参数测试设备。

技术介绍

[0002]分立器件整个产业链涵盖了“生产制造端”的研发设计、芯片制造、器件封装、和“应用端”。其电性能参数测试覆盖验证测试、规格书依据、芯片测试、封测前测、成品测试、可靠性、来料检验、失效分析、参数比对、器件选型等。总体可将其分为两类“验证测试”“质量管控测试”。
[0003]半导体分立器件的静态直流参数测试设备对监测空气环境的含尘量十分的敏感，空气尘土会影响半导体分立器件的静态直流参数的检测精度，目前的半导体分立器件静态直流参数测试设备不能在半导体检测前对气空气尘土含量进行快速的定时检测。

技术实现思路

[0004]为解决上述目前的半导体分立器件静态直流参数测试设备不能在半导体检测前对气空气尘土含量进行快速的定时检测的问题，实现以上定时快速空气尘土含量检测的目的。
[0005]本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种半导体分立器件静态直流参数测试设备，包括机座，所述机座的外部固定连接有检测空气含尘量的汇集壳，所述汇集壳的外部固定连接有用于空气含尘量检测的时间计量的L架，所述L架的外部活动连接有用于时间计量地漏筒，所述漏筒的内部活动连接有进行空气含尘量检测动作启停的触发组件。所述汇集壳的外部固定连接有控制尘土过滤的处理箱，所述处理箱的外部固定连接有控制处理箱开闭的电动缸，所述电动缸外部固定连接有盖合处理箱的盖体，所述处理箱的内侧放置有空气尘土过滤的滤板。所述处理箱的底部固定连接有连通处理箱和汇集壳的单向管，所述汇集壳的内侧滑动连接有在汇集壳内部产生压强差的吸力板，所述吸力板的内侧固定连接有用于空气排出的排气喷板，所述汇集壳的内侧活动连接有控制吸力板滑动的传动组件。
[0006]进一步的，所述汇集壳的左右侧面开设有排出空气的气流口，所述L架的表面开设有用于漏筒位置定位的校准孔，所述漏筒的上下端部固定连接有与校准孔配合进行漏筒位置定位的指针。
[0007]进一步的，所述漏筒的内部添加有小规格塑料球，所述指针采用两个对称固定安装在漏筒的上下端部。
[0008]进一步的，所述触发组件包括固定连接在漏筒中部控制塑料球匀速流动的分隔板、固定安装在分隔板上下两侧的控制空气检测动作的开关，所述分隔板与开关的位置相对应。
[0009]进一步的，所述盖体与处理箱规格相匹配，所述电动缸的行程与滤板的厚度规格相匹配，所述滤板采用聚酯纤维材质。
[0010]进一步的，所述吸力板与单向管的位置相对应，所述传动组件包括活动连接于汇集壳内部带动吸力板运动的主动轮、固定安装于汇集壳内部与主动轮同轴心的卡环、滑动连接于卡环内侧的滑块、所述活动连接于滑块外部的从动轮、活动连接于从动轮外部连接吸力板的连接杆、固定连接于汇集壳外部给主动轮提供动力的电机。
[0011]进一步的，所述主动轮与从动轮啮合，所述连接杆的两端分别活动连接在从动轮的外部和活动连接在吸力板的外部，所述电机与开关电连接。
[0012]本专利技术提供了一种半导体分立器件静态直流参数测试设备。具备以下有益效果：
[0013]通过漏筒内部塑料球不间断穿过分隔板触发开关来实现空气尘土含量检测处理的时间控制，吸力板滑动汇集壳内部产生空气负压，负压经过单向管传递到处理箱内部，外部空气在负压作用下吸入处理箱内部，空气穿过滤板内部空气尘土被过滤，在漏筒控制相同时间范围内部通过计量滤板质量变化，从而得出空气尘土含量，从而实现半导体分立器件静态直流参数测试设备进行测试快速空气尘土含量检测。
附图说明
[0014]图1为本专利技术整体外观结构示意图；
[0015]图2为本专利技术图1中部分结构连接关系结构示意图；
[0016]图3为本专利技术汇集壳、气流口之间连接关系结构示意图；
[0017]图4为本专利技术L架、漏筒、校准孔、指针之间连接关系结构示意图；
[0018]图5为本专利技术触发组件之间连接关系结构示意图；
[0019]图6为本专利技术处理箱、电动缸、盖体、滤板、单向管之间连接关系结构示意图；
[0020]图7为本专利技术电动缸、盖体之间连接关系结构示意图；
[0021]图8为本专利技术处理箱结构示意图；
[0022]图9为本专利技术滤板结构示意图；
[0023]图10为本专利技术单向管结构示意图；
[0024]图11为本专利技术吸力板、排气喷板、传动组件之间连接关系结构示意图；
[0025]图12为本专利技术吸力板、排气喷板之间连接关系结构示意图；
[0026]图13为本专利技术传动组件之间连接关系结构示意图。
[0027]图中：1、机座；11、汇集壳；12、气流口；2、L架；21、漏筒；22、触发组件；221、分隔板；222、开关；23、校准孔；24、指针；3、处理箱；31、电动缸；32、盖体；33、滤板；34、单向管；4、吸力板；41、排气喷板；42、传动组件；421、主动轮；422、卡环；423、滑块；424、从动轮；425、连接杆；426、电机。
具体实施方式
[0028]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0029]该半导体分立器件静态直流参数测试设备的实施例如下：
[0030]实施例一：
[0031]请参阅图1－图12，一种半导体分立器件静态直流参数测试设备，包括机座1，机座1的外部固定连接有检测空气含尘量的汇集壳11，汇集壳11的外部固定连接有用于空气含尘量检测的时间计量的L架2，L架2的外部活动连接有用于时间计量地漏筒21，漏筒21的内部活动连接有进行空气含尘量检测动作启停的触发组件22，触发组件22包括固定连接在漏筒21中部控制塑料球匀速流动的分隔板221、固定安装在分隔板221上下两侧的控制空气检测动作的开关222，分隔板221与开关222的位置相对应。
[0032]汇集壳11的左右侧面开设有排出空气的气流口12，L架2的表面开设有用于漏筒21位置定位的校准孔23，漏筒21的上下端部固定连接有与校准孔23配合进行漏筒21位置定位的指针24，漏筒21的内部添加有小规格塑料球，指针24采用两个对称固定安装在漏筒21的上下端部。
[0033]汇集壳11的外部固定连接有控制尘土过滤的处理箱3，处理箱3的外部固定连接有控制处理箱3开闭的电动缸31，电动缸31外部固定连接有盖合处理箱3的盖体32，处理箱3的内侧放置有空气尘土过滤的滤板33，盖体32与处理箱3规格相匹配，电动缸31的行程与滤板33的厚度规格相匹配，滤板33采用聚酯纤维材质。
[0034]用户进行半导体静态直流参数测试实验前，用户操作电动缸31运行伸长带动盖体32运动，盖体32运动与本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体分立器件静态直流参数测试设备，包括机座(1)，其特征在于：所述机座(1)的外部固定连接有检测空气含尘量的汇集壳(11)，所述汇集壳(11)的外部固定连接有用于空气含尘量检测的时间计量的L架(2)，所述L架(2)的外部活动连接有用于时间计量地漏筒(21)，所述漏筒(21)的内部活动连接有进行空气含尘量检测动作启停的触发组件(22)；所述汇集壳(11)的外部固定连接有控制尘土过滤的处理箱(3)，所述处理箱(3)的外部固定连接有控制处理箱(3)开闭的电动缸(31)，所述电动缸(31)外部固定连接有盖合处理箱(3)的盖体(32)，所述处理箱(3)的内侧放置有空气尘土过滤的滤板(33)；所述处理箱(3)的底部固定连接有连通处理箱(3)和汇集壳(11)的单向管(34)，所述汇集壳(11)的内侧滑动连接有在汇集壳(11)内部产生压强差的吸力板(4)，所述吸力板(4)的内侧固定连接有用于空气排出的排气喷板(41)，所述汇集壳(11)的内侧活动连接有控制吸力板(4)滑动的传动组件(42)。2.根据权利要求1所述的一种半导体分立器件静态直流参数测试设备，其特征在于：所述汇集壳(11)的左右侧面开设有排出空气的气流口(12)，所述L架(2)的表面开设有用于漏筒(21)位置定位的校准孔(23)，所述漏筒(21)的上下端部固定连接有与校准孔(23)配合进行漏筒(21)位置定位的指针(24)。3.根据权利要求2所述的一种半导体分立器件静态直流参数测试设备，其特征在于：所述漏筒(21)的内部添加有小规格塑料球，所述指针(24)...

【专利技术属性】
技术研发人员：王伟，李娜，王军，刘淼，
申请(专利权)人：西安天光测控技术有限公司，
类型：发明
国别省市：