电路检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质及产品制造方法及图纸

技术编号:36113700 阅读:16 留言:0更新日期:2022-12-28 14:16
本申请公开了电路检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质及产品,所述方法包括:获取待检测电路板对应的待检测图片以及待检测标识,所述待检测标识包括所述待检测电路板中待检测连接线对应的标识;基于所述待检测标识,由所述待检测图片中,提取出所述待检测标识对应的连接线对应的区域,作为目标连接线区域;基于所述目标连接线区域以及标准连接线区域的差异,确定所述待检测电路板的识别结果,所述识别结果用于表征所述目标连接线区域存在缺陷或不存在缺陷。通过基于待检测标识确定目标连接线区域,对比目标连接线区域与标准连接线区域的差异,即可确定所述待检测电路板的是否存在缺陷,可以减少对计算资源的消耗,减少处理耗时,提高效率。提高效率。提高效率。

【技术实现步骤摘要】
电路检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质及产品


[0001]本申请涉及电路板
,更具体地,涉及一种电路检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质及产品。

技术介绍

[0002]目前,随着电子信息技术的迅速发展,电路板上的布线越来越密集。虽然,可以对生产的电路板进行缺陷检测,然而,目前对电路板进行缺陷检测的方法需要消耗较多的计算资源,且需要较长处理时间。

技术实现思路

[0003]本申请提出了一种电路检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质及产品,以改善上述缺陷。
[0004]第一方面,本申请实施例提供了一种电路检测方法,所述方法包括:取待检测电路板对应的待检测图片以及待检测标识,所述待检测标识包括所述待检测电路板中待检测连接线对应的标识;基于所述待检测标识,由所述待检测图片中,提取出所述待检测标识对应的连接线对应的区域,作为目标连接线区域;基于所述目标连接线区域以及标准连接线区域的差异,确定所述待检测电路板的识别结果,所述识别结果用于表征所述目标连接线区域存在缺陷或不存在缺陷。
[0005]第二方面,本申请实施例还提供了一种电路检测装置,应用于电子设备,所述装置包括:获取单元,用于响应于目标线程的抢占请求,获取当前线程的持锁状态,所述持锁状态包括持有公共锁或未持有公共锁;处理单元,用于若当前线程的持锁状态为持有公共锁,将所述当前线程持有的公共锁释放,并抢占所述当前线程占用的CPU资源;执行单元,用于基于抢占的所述CPU资源执行所述目标线程。
[0006]第三方面,本申请实施例还提供了一种电子设备,包括:一个或多个处理器;存储器;一个或多个计算机程序,其中所述一个或多个计算机程序被存储在所述存储器中并被配置为由所述一个或多个处理器执行以使得所述电子设备执行第一方面所述的方法。
[0007]第四方面,本申请实施例还提供了一种计算机可读介质,所述可读存储介质存储有处理器可执行的程序代码,所述程序代码被所述处理器执行时使所述处理器执行第一方面所述的方法。
[0008]第五方面,本申请实施例还提供了一种计算机程序产品,包括计算机程序/指令,该计算机程序/指令被处理器执行时实现第一方面所述的方法。
[0009]本申请提供的电路检测方法、装置、电子设备及计算机可读介质及产品,该方法首先获取待检测电路板对应的待检测图片以及待检测标识,然后基于所述待检测标识,由所述待检测图片中,提取出所述待检测标识对应的连接线对应的区域,作为目标连接线区域,最后可以基于所述目标连接线区域以及标准连接线区域的差异,确定所述待检测电路板的识别结果,其中识别结果用于表征所述目标连接线区域存在缺陷或不存在缺陷。若通过将
待检测电路板对应的待检测图片中全部区域与标准的模板图片的全部区域进行对比,来确定待检测电路板是否存在缺陷,会消耗较多计算资源,并且处理耗时较多,效率较低。由于待检测电路板中存在缺陷的区域一般为连接线对应的区域,因此本申请通过基于待检测标识确定目标连接线区域,对比目标连接线区域与标准连接线区域的差异,即可确定所述待检测电路板的是否存在缺陷,可以减少对计算资源的消耗,减少处理耗时,提高效率。
[0010]本申请实施例的其他特征和优点将在随后的说明书阐述,并且,部分地从说明书中变得显而易见,或者通过实施本申请实施例而了解。本申请实施例的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0012]图1示出了本申请实施例提供的电路检测方法的方法流程图;
[0013]图2示出了本申请实施例提供的电路板的示意图;
[0014]图3示出了本申请又一实施例提供的电路板的示意图;
[0015]图4示出了本申请再一实施例提供的电路板的示意图;
[0016]图5示出了本申请又一实施例提供的电路检测方法的方法流程图;
[0017]图6示出了步骤S250的实施方式图;
[0018]图7示出了步骤S251的实施方式图;
[0019]图8示出了本申请还一实施例提供的电路检测方法的方法流程图;
[0020]图9示出了步骤S350的实施方式图;
[0021]图10示出了本申请实施例提供的电路检测装置的结构图;
[0022]图11示出了本申请实施例提供的电子设备的结构框图;
[0023]图12示出了本申请实施例提供的计算机可读存储介质的结构框图;
[0024]图13示出了本申请实施例提供的计算机程序产品的结构框图。
具体实施方式
[0025]为了使本
的人员更好地理解本申请方案,下面将结合本申请实施例中附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例,而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此,以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围,而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例,本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例,都属于本申请保护的范围。
[0026]应注意到:相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项,因此,一旦某一项在一个附图中被定义,则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0027]目前,随着电子信息技术的迅速发展,电路板上的布线越来越密集。虽然,可以对生产的电路板进行缺陷检测,然而,目前对电路板进行缺陷检测的方法需要消耗较多的计算资源,且需要较长处理时间。如何消耗较少的计算资源,且以较短的时间对电路板进行缺陷检测,是一个亟待解决的问题。
[0028]目前,电子设备能够实现的功能越来越多,电路板作为电子设备的重要组成部分,其上的走线越来越密集,布设的电子元器件也越来越多。进一步的,电路板上还可以设置有集成芯片,该集成芯片可以封装在封装基板内部,封装基板设置在电路板上。封装基板一方面能够保护、固定、支撑集成芯片,增强集成芯片导热散热性能,保证集成芯片不易受到物理损坏,另一方面封装基板的上层与芯片相连,下层和电路板相连,以实现电气和物理连接、功率分配、信号分配等,例如可以将电路板上不同的走线与封装基板内的集成芯片的不同引脚实现电连接。
[0029]然而,在生产制造电路板或封装基板时,可能出现走线连接错误,例如漏连接或错连接等。一种示例性的,若电路板上走线A1和走线A2设计时应该相互隔离,而生产时错误将走线A1和走线A2电连接,此时会导致走线A1和走线A2发生短路。又例如本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电路检测方法,其特征在于,所述方法包括:获取待检测电路板对应的待检测图片以及待检测标识,所述待检测标识包括所述待检测电路板中待检测连接线对应的标识;基于所述待检测标识,由所述待检测图片中,提取出所述待检测标识对应的连接线对应的区域,作为目标连接线区域;基于所述目标连接线区域以及标准连接线区域的差异,确定所述待检测电路板的识别结果,所述识别结果用于表征所述目标连接线区域存在缺陷或不存在缺陷。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待检测电路板包括多层,所述待检测图片包括多张,每张所述待检测图片与每层所述待检测电路板依次对应,所述基于所述待检测标识,由所述待检测图片中,提取出所述待检测标识对应的连接线对应的区域,作为目标连接线区域,包括:获取顶层待检测图片中的标识;将与所述待检测标识相同的所述顶层待检测图片中的标识,作为目标标识;由所述顶层待检测图片中提取出所述目标标识对应的连接线对应的待检测区域;基于所述待检测区域,确定所述目标连接线区域。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述待检测区域,确定所述目标连接线区域,包括:由多张所述待检测图片中,除所述顶层待检测图片之外的每张待检测图片中,确定与所述待检测区域具有连接关系的从属待检测区域;基于所述待检测区域以及所述从属待检测区域,整合得到所述目标连接线区域。4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,多张所述待检测图片依检测顺序排列,所述连接关系包括直接连接关系与间接连接关系,所述由多张所述待检测图片中,除所述顶层待检测图片之外的每张待检测图片中,确定与所述待检测区域具有连接关系的从属待检测区域,包括:基于所述检测顺序,将所述顶层待检测图片的下一张待检测图片中,与所述待检测区域连接的区域,作为具有直接连接关系的从属待检测区域;基于所述检测顺序遍历所述下一张待检测图片后续的每张待检测图片,将所述下一张图片后续的每张待检测图片中,与具有直接连接关系的从属待检测区域相连接的区域,作为具有间接连接关系的从属待检测区域。5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述缺陷包括开路以及短路,所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:谢怡彤
申请(专利权)人:OPPO广东移动通信有限公司
类型:发明
国别省市:

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