一种测线的变形方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

本发明专利技术实施例公开了一种测线的变形方法、装置、设备及介质。其中，该方法包括：读取对被测对象测量的测线中各测点的测点坐标；并确定基准点；其中，所述基准点由第一方向坐标和第二方向坐标构成；根据所述各测点的测点坐标确定相邻测点之间的距离；以所述基准点为起点，基于相邻测点之间的距离，沿第一方向或者第二方向进行单向延伸，得到变形测线。本技术方案，通过对测线进行变形处理，使得测线的数据与被测对象的实际信息更加对应，提高了测量数据的处理效率，能够有效的对被测对象进行检测处理。理。理。

【技术实现步骤摘要】
一种测线的变形方法、装置、设备及介质


[0001]本专利技术涉及数据处理领域，尤其涉及一种测线的变形方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]随着城市建设的发展，数字城市技术的逐渐兴起，对于城市隐患排查治理越来越重视，如道路地下病害的检测。
[0003]现有的探测技术，通过探测设备，按照固定的探测模式对被测对象进行探测以及数据处理。例如，探地雷达对道路地下线路的探测，可通过探地雷达沿道路对地下线路进行测量，获得测量数据，依据测量数据绘制不同形状的测线，且依据测线对数据进行处理，进而对道路地下线路做进一步的维护。
[0004]然而，城市环境下，由于高楼、立交桥、树冠以及障碍物的遮挡等对被测对象探测的影响，形成的测线是各种各样的形状，依据测线进行数据处理时，会使数据出现割裂感，不利于数据处理，无法有效对被测对象进行检测处理。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供了一种测线的变形方法、装置、设备及介质，解决了现有技术中测线形状多种多样以及数据出现割裂感的情况，使得测线的数据与被测对象的实际信息更加对应，提高了测量数据的处理效率，能够有效的对被测对象进行检测处理。
[0006]根据本专利技术的一方面，提供了一种测线的变形方法，所述方法包括：
[0007]读取对被测对象测量的测线中各测点的测点坐标；并确定基准点；其中，所述基准点由第一方向坐标和第二方向坐标构成；
[0008]根据所述各测点的测点坐标确定相邻测点之间的距离；
[0009]以所述基准点为起点，基于相邻测点之间的距离，沿第一方向或者第二方向进行单向延伸，得到变形测线。
[0010]可选的，确定基准点，包括：
[0011]生成基准点的确定提示信息；
[0012]响应于基准点的选择操作，在测线的预设范围内确定基准点。
[0013]可选的，响应于基准点的选择操作，在测线的预设范围内确定基准点，包括：
[0014]若所述基准点的选择操作指定各测点中的一个测点，则确定被指定测点为基准点；
[0015]若所述基准点的选择操作未指定各测点中的一个测点，则选择操作的目标点位置与测线之间的距离；
[0016]若所述距离小于或者等于设定阈值，则确定选择操作的目标点为基准点；
[0017]若所述距离大于设定阈值，则确定选择操作无效，生成重新确定提示信息。
[0018]可选的，根据所述各测点的测点坐标确定相邻测点之间的距离，包括：
[0019]根据相邻测点中第一测点的第一方向坐标和第二方向坐标，和第二测点的第一方
向坐标和第二方向坐标，确定相邻测点之间的距离。
[0020]可选的，所述相邻测点之间的距离采用如下公式确定：
[0021][0022]其中，distance为相邻测点之间的距离，Xori0为第一测点的第一方向坐标，Xori1为第二测点的第一方向坐标，Yori0为第一测点的第二方向坐标，Yori1为第二测点的第二方向坐标。
[0023]可选的，在得到变形测线之后，所述方法还包括：
[0024]根据所述第一方向和所述第二方向以及所述测线的分布位置，确定处理网格的排列数量；
[0025]根据所述处理网格的排列数量对所述测线进行分段处理。
[0026]根据本专利技术的另一方面，提供了一种测线的变形装置，包括：
[0027]坐标处理模块，用于读取对被测对象测量的测线中各测点的测点坐标；并确定基准点；其中，所述基准点由第一方向坐标和第二方向坐标构成；
[0028]距离确定模块，根据所述各测点的测点坐标确定相邻测点之间的距离；
[0029]测线处理模块，以所述基准点为起点，基于相邻测点之间的距离，沿第一方向或者第二方向进行单向延伸，得到变形测线。
[0030]根据本专利技术的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：
[0031]至少一个处理器；以及
[0032]与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，
[0033]所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本申请实施例提供的测线的变形方法。
[0034]根据本专利技术的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本申请实施例提供的测线的变形方法。
[0035]本专利技术实施例的技术方案，读取对被测对象测量的测线中各测点的测点坐标；并确定基准点；其中，所述基准点由第一方向坐标和第二方向坐标构成；根据所述各测点的测点坐标确定相邻测点之间的距离；以所述基准点为起点，基于相邻测点之间的距离，沿第一方向或者第二方向进行单向延伸，得到变形测线。本技术方案，通过对测线进行变形处理，使得测线的数据与被测对象的实际信息更加对应，提高了测量数据的处理效率，能够有效的对被测对象进行检测处理。
[0036]应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本专利技术的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本专利技术的范围。本专利技术的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
[0037]为了更清楚地说明本专利技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0038]图1是根据本专利技术实施例一提供的一种测线的变形方法的流程图；
[0039]图2是根据本专利技术实施例二提供的一种测线的变形装置的结构示意图；
[0040]图3是实现本专利技术实施例的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0041]为了使本
的人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。
[0042]需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“一方面”、“另一方面”“目标”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0043]实施例一
[0044]图1是根据本专利技术实施例一提供的一种测线的变形方法的流程图，本实施例可适用于对探测数据进行处理的情况本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测线的变形方法，其特征在于，包括：读取对被测对象测量的测线中各测点的测点坐标；并确定基准点；其中，所述基准点由第一方向坐标和第二方向坐标构成；根据所述各测点的测点坐标确定相邻测点之间的距离；以所述基准点为起点，基于相邻测点之间的距离，沿第一方向或者第二方向进行单向延伸，得到变形测线。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，确定基准点，包括：生成基准点的确定提示信息；响应于基准点的选择操作，在测线的预设范围内确定基准点。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，响应于基准点的选择操作，在测线的预设范围内确定基准点，包括：若所述基准点的选择操作指定各测点中的一个测点，则确定被指定测点为基准点；若所述基准点的选择操作未指定各测点中的一个测点，则选择操作的目标点位置与测线之间的距离；若所述距离小于或者等于设定阈值，则确定选择操作的目标点为基准点；若所述距离大于设定阈值，则确定选择操作无效，生成重新确定提示信息。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述各测点的测点坐标确定相邻测点之间的距离，包括：根据相邻测点中第一测点的第一方向坐标和第二方向坐标，和第二测点的第一方向坐标和第二方向坐标，确定相邻测点之间的距离。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述相邻测点之间的距离采用如下公式确定：其中，distance为相邻测点之间的距离，Xori0为第一测点的第一方向坐标，Xori1为第二测点的第一方向坐标，Yori0为第一测点的第二方向坐标，Yori1为第二测点的第...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁泉，
申请(专利权)人：深圳市赛盈地空技术有限公司，
类型：发明
国别省市：