一种非标准尺寸样品的正入射吸声系数测量方法技术

本发明专利技术公开了一种非标准尺寸样品的正入射吸声系数测量方法，首先在非标准尺寸样品旁布置一种具有特定声阻抗的相同厚度的声学材料PAM，形成与阻抗管横截面相同的表面平整的非连续阻抗试件IAIS；并基于声电类比法得到IAIS的表面声阻抗与非标准尺寸样品、PAM的关系式；然后在阻抗管内分别测量IAIS、PAM的表面声阻抗；根据IAIS的表面声阻抗公式，反推得到非标准尺寸样品的表面声阻抗，最终得到非标准尺寸样品的正入射吸声系数，可实现对任意横截面大小与形状的非标准尺寸的多孔材料或共振吸声材料的正入射吸声系数进行较高精度的测量。量。量。

【技术实现步骤摘要】
一种非标准尺寸样品的正入射吸声系数测量方法


[0001]本专利技术属于声学测量
，具体涉及一种非标准尺寸样品的正入射吸声系数测量方法。

技术介绍

[0002]吸声系数用来表征材料的吸声性能，取值范围为0
‑
1，吸声系数越大，表明材料的吸声性能越好。当其值为0时，表示声能全反射，材料不吸声；当其值为1时，表示材料吸收了全部声能，没有反射。当声波入射方向与材料表面垂直时，此时的吸声系数被称为正入射吸声系数。阻抗管法是测量材料正入射吸声系数的常用方法。测试样品装在一支平直、刚性、气密的阻抗管的一端，管中的平面声波由(无规噪声、伪随机序列噪声或线性调频脉冲)声源产生，在靠近样品的两个位置上测量声压，求得两个传声器信号的声传递函数，由此计算样品的法向入射复反射因数、声阻抗率和正入射吸声系数。
[0003]在上述方法中，要求样品尺寸与阻抗管横截面相同。然而在实际工程中，可能需要对尺寸显著小于阻抗管横截面的特殊样品进行正入射吸声系数测量；此外，一些人工设计的声学超材料的尺寸也可能显著小于阻抗管横截面。对于这种非标准尺寸样品，基本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种非标准尺寸样品的正入射吸声系数测量方法，其特征在于，方法包括以下步骤：在非标准尺寸样品旁布置具有特定声阻抗的相同厚度的声学材料PAM，形成与阻抗管横截面相同的表面平整的非连续阻抗试件IAIS；利用非标准尺寸样品与PAM的并联关系，得到IAIS的表面声阻抗与非标准尺寸样品、PAM的关系式；测量IAIS的表面声阻抗和PAM的表面声阻抗；根据IAIS的表面声阻抗与非标准尺寸样品、PAM的关系式，并利用测量得出的IAIS的表面声阻抗和PAM的表面声阻抗，反推得到非标准尺寸样品的表面声阻抗，再利用表面声阻抗的实部与虚部最终可得到非标准尺寸样品的其正入射吸声系数。2.根据权利要求1所述的一种非标准尺寸样品的正入射吸声系数测量方法，其特征在于，所述非标准尺寸样品的横截面尺寸小于阻抗管的横截面尺寸，所述阻抗管的横截面尺寸为A
×
A。3.根据权利要求1所述的一种非标准尺寸样品的正入射吸声系数测量方法，其特征在于，可测量任意横截面大小与形状的非标准尺寸样品的多孔材料与共振吸声结构的正入射吸声系数。4.根据权利要求2所述的一种非标准尺寸样品的正入射吸声系数测量方法，其特征在于，所述非标准尺寸样品布置于阻抗管末端，两者的空隙用等厚度的PAM填充，形成厚度均匀、表面平整的IAIS与阻抗管末端无背腔，平面波由阻抗管左侧入射。5.根据权利要求1所述的一种非标准尺寸样品的正入射吸声系数测量方法，其特征在于，若在非标准尺寸样品旁仅布置一块PAM，则IAIS的表面声阻抗Z
IAIS
公式为：式中，r
NSS
＝A
NSS
/A
IAIS
、r
PAM
＝A
PAM
/A
IAIS
分别为非标准尺寸样品NSS的面积占阻抗管横截面的面积率与PAM的面积占阻抗管横截面的面积率；A
NSS
、A
PAM
分别为非标准尺寸样品的横截面积、PAM的横截面积；A
IAIS
为IAIS的横截面积；Z
NSS
、Z
PAM
分别为非标准尺寸样品的表面声阻抗与PAM的表面声阻抗。6.根据权利要求5所述的一种非标准尺寸样品的正入射吸声系数测量方法，其特征在于，若在非标准尺寸样品旁布置多块PAM，则IAIS的表面声阻抗Z
IAIS1
公式为：式中，r
PAM,i
、Z
PAM,i
分别第i块PAM的面积率与第i块PAM的表面声阻抗。...

【专利技术属性】
技术研发人员：闵鹤群，楼华鼎，
申请(专利权)人：东南大学，
类型：发明
国别省市：