一种基于曲率特征的在机检测方法、装置、设备及应用制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于曲率特征的在机检测方法、装置、设备及应用，涉及在机测量技术领域，包括预设离散参数，将所述待离散曲线首点、尾点作为初始采样点，计算得首尾两点间的弦高和首尾两点间的弧长，并将所述首点和所述尾点加入曲线离散点集，根据曲线的曲率和弧长组成的特征值进行采样点的合理获取，实现了一种基于曲率和弦长的优势特征采样方式，在曲率大的位置分布更密集的测量点，曲率小的位置分布更稀疏的测量点，可以保证在曲线上不均匀采样较少的测量点且拟合出的样条曲线更接近原有曲线，完整的保留原有曲线的局部和整体特征，采样点根据定义的特征值合理分布，极大地提高了在机测量效率。在机测量效率。在机测量效率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于曲率特征的在机检测方法、装置、设备及应用


[0001]本专利技术涉及在机测量
，特别是涉及一种基于曲率特征的在机检测方法、装置、设备及应用。

技术介绍

[0002]近年来，随着数控机床和数字化测量技术的发展，在机测量技术常常被用于零件的在线检测，减少了工件的多次装夹，提高了工件的测量效率，但当工件尺寸较大时，目前常用的曲线离散方式如：等参数采样、等弧长采样、等弦高采样以及基于曲率加密(指采样点密度)的采样方式在精度要求较高时必然会导致曲线离散出的采样点数量过多，这会大大减少工件测量的效率，且现有技术均是通过增加曲线采样点的密度来保证最终点集拟合出的样条曲线的精度，如此采样点数会随曲线尺寸线性增长，这会严重损害测量效率。
[0003]在机测量技术也逐渐适用于五轴数控自适应加工中，在机测量的初衷就是为了在保证测量精度的同时提高工件的测量效率，但目前在机测量主要采用单点触发式的机械探头进行逐点测量，因此应尽可能减少测量点数以提高测量效率。
[0004]综上所述可以看出，如何在保证测量精度的同时减少测量点数，提升检测效率是本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于曲率特征的在机检测方法，其特征在于，包括：S1.预设弦高约束、弧长约束、拟合曲线偏差约束和待离散曲线；S2.将所述待离散曲线的首点、尾点作为初始采样点，并将所述首点和所述尾点加入曲线离散点集；S3.计算所述首点和所述尾点间的弦高和所述首点和所述尾点间的弧长，判断首尾两点间的弦高与所述弦高约束的大小及首尾两点间的弧长和所述弧长约束的大小；S4.若满足所述首尾两点间的弦高小于等于所述弦高约束且所述首尾两点间的弧长小于等于所述弧长约束，则继续步骤S6；S5.若不满足条件，则计算所述首点和所述尾点的特征值，根据所述首点和所述尾点的特征值计算得所述首尾两点之间的新采样点，将所述新采样点作为所述待离散曲线的新尾点，返回执行S2，直到所述曲线离散点集中的点满足所述首尾两点间的弦高小于等于所述弦高约束且所述首尾两点间的弧长小于等于所述弧长约束；S6.基于所述曲线离散点集，拟合得拟合曲线，将所述拟合曲线与理论曲线计算偏差，若所述偏差大于所述拟合曲线偏差约束，缩小所述弦高约束和所述弧长约束，返回执行S3，否则执行S7；S7.利用所述曲线离散点集对待测结构测量，得测量结果。2.如权利要求1所述的基于曲率特征的在机检测方法，其特征在于，所述首点和所述尾点的特征值利用曲线上各点处的曲率和该点处的弧长微分计算得到。3.如权利要求2所述的基于曲率特征的在机检测方法，其特征在于，所述首点和所述尾点的特征值计算公式为：其中，κ(u)为曲线在参数u点处的曲率，||C
′
(u)||du为曲线在x，y，z三个方向上随u的变化率，w为权重，u
i
，u
i+1
为曲线上的首点和尾点。4.如权利要求1所述的基于曲率特征的在机检测方法，其特征在于，所述根据所述首点和所述尾点的特征值计算得所述首尾两点之间的新采样点特...

【专利技术属性】
技术研发人员：夏锡光，冯子尧，冯红超，朱徐开，
申请(专利权)人：苏州千机智能软件有限公司，
类型：发明
国别省市：