一种多通道内阻测试自动补偿方法及系统技术方案

本发明专利技术提供了电池测试技术领域的一种多通道内阻测试自动补偿方法及系统，方法包括如下步骤：步骤S1、将内阻仪的A测试回路的探针压合在A通道清零模块上，将B测试回路的探针压合在B通道清零模块上；步骤S2、内阻仪进行自检后，导通A测试回路的继电器，通过A通道清零模块对A测试回路进行短路，进而对A测试回路进行清零；步骤S3、获取A测试回路的实测值A，基于所述实测值A对A测试回路的清零结果进行校验；步骤S4、内阻仪导通B测试回路的继电器，获取B测试回路的实测值B；步骤S5、基于所述实测值A以及实测值B计算通道差异值，基于所述通道差异值对内阻测试进行自动补偿。本发明专利技术的优点在于：极大的提升了内阻测试精度。极大的提升了内阻测试精度。极大的提升了内阻测试精度。

【技术实现步骤摘要】
一种多通道内阻测试自动补偿方法及系统


[0001]本专利技术涉及电池测试
，特别指一种多通道内阻测试自动补偿方法及系统。

技术介绍

[0002]电池在生产完成后，需要进行一系列的测试，测试内容包括内阻值、OCV值、壳体电压值等。电池包括若干个电芯，测试电池的内阻时，一般通过内阻仪的多通道测试回路分别对各电芯的内阻进行测试，然后累加各电芯的内阻以得到电池的内阻。
[0003]由于内阻仪各测试回路的内阻存在差异，即内阻一致性不佳，加上电芯的内阻较小，导致各测试回路测试得到的内阻存在较大偏差。因此，如何提供一种多通道内阻测试自动补偿方法及系统，实现提升内阻测试精度，成为一个亟待解决的技术问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术要解决的技术问题，在于提供一种多通道内阻测试自动补偿方法及系统，实现提升内阻测试精度。
[0005]第一方面，本专利技术提供了一种多通道内阻测试自动补偿方法，包括如下步骤：
[0006]步骤S1、将内阻仪的A测试回路的探针压合在A通道清零模块上，将B测试回路的探针压合在B通道清零本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多通道内阻测试自动补偿方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤S1、将内阻仪的A测试回路的探针压合在A通道清零模块上，将B测试回路的探针压合在B通道清零模块上；步骤S2、内阻仪进行自检后，导通A测试回路的继电器，通过A通道清零模块对A测试回路进行短路，进而对A测试回路进行清零；步骤S3、获取A测试回路的实测值A，基于所述实测值A对A测试回路的清零结果进行校验；步骤S4、内阻仪导通B测试回路的继电器，获取B测试回路的实测值B；步骤S5、基于所述实测值A以及实测值B计算通道差异值，基于所述通道差异值对内阻测试进行自动补偿。2.如权利要求1所述的一种多通道内阻测试自动补偿方法，其特征在于：所述步骤S1中，所述A通道清零模块以及B通道清零模块均包括两根清零铜排以及两根导线，各所述导线的两端分别与一清零铜排连接，形成四线制清零回路。3.如权利要求1所述的一种多通道内阻测试自动补偿方法，其特征在于：所述步骤S3具体为：A测试回路串联一标准电阻，获取A测试回路的实测值A，判断所述实测值A与标准电阻的阻值是否一致，若是，则清零成功，进入步骤S4；若否，则清零失败，进行报警提示。4.如权利要求1所述的一种多通道内阻测试自动补偿方法，其特征在于：所述步骤S4具体为：内阻仪导通B测试回路的继电器，通过B通道清零模块对B测试回路进行短路，连续读取B测试回路的n个实测值B
’
，并对n个实测值B
’
进行均值计算以得到实测值B；n为正整数。5.如权利要求1所述的一种多通道内阻测试自动补偿方法，其特征在于：所述步骤S5中，所述通道差异值的计算公式为：通道差异值＝abs(实测值A
‑
实测值B)。6.一种多通道内阻测试自动补偿系统，其特征在于：包括如下模...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘作斌，郑鸿麟，张飞，张峰君，
申请(专利权)人：福建星云电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：