软打样系统技术方案

在一个实施例中，本发明专利技术涉及软打样系统，该系统结合了一个或多个特点以支持可控的察看条件。例如，本发明专利技术提供了一种软打样系统，其中在满足可接受的察看条件之前限制或限定对图像的察看，管理者通过这种方法来控制打样过程。图像可具有一组与之相关的察看条件，这些察看条件由管理者指定。然后，当图像发送到察看工作站时，就限制对图像进行察看，直到在察看工作站满足了一个或多个察看条件。应用可控的察看条件，软校样校正人员就能得到更为一致的图像输出。这样，该系统为保证在察看工作站上察看的图像具有可接受的色彩精确性提供了保障。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种软打样系统，它包括一台计算机，该计算机指定一幅图像的一个或多个察看条件；及一个察看工作站，该工作站显示符合察看条件的图像。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：CJ艾吉，
申请(专利权)人：柯达保丽光印艺集团，
类型：发明
国别省市：US[美国]