三坐标测量机接触式测头微测力采样控制系统技术方案

三坐标测量机接触式测头微测力采样控制系统，包括三坐标测量机、控制系统、接触式测头，在测量时，控制系统利用接触式测头机械开关的“断开”与“接通”状态控制实现三坐标测量机对工件表面的测点工作，并将接触式测头机械开关的“接通”状态记录的工件表面的测点坐标值作为测量计算值。值作为测量计算值。值作为测量计算值。

【技术实现步骤摘要】
三坐标测量机接触式测头微测力采样控制系统


[0001]本专利技术涉及三坐标测量机接触式测头的测量控制操作。

技术介绍

[0002]现有技术中，在使用三坐标测量机接触式测头进行测量时，一般是利用接触式测头机械开关的“断开”状态记录测量点坐标。
[0003]现有技术存在的问题是：由于接触式测头机械开关需一定外力作用在接触式测头测尖上才能处于“断开”状态，且随作用方向不同存在差异，这会造成三坐标测量机接触式测头记录测量点坐标时由接触式测头产生动态测量误差。

技术实现思路

[0004]本专利技术为三坐标测量机接触式测头测量提供一种三坐标测量机接触式测头微测力采样控制系统，能够解决使用三坐标测量机接触式测头测量时由接触式测头产生的动态测量误差问题。
[0005]为达到上述目的，本专利技术采用的技术方案是：三坐标测量机接触式测头微测力采样控制系统，包括三坐标测量机、与所述的三坐标测量机电连接的控制系统、与所述的控制系统电连接的接触式测头，所述的接触式测头安装在所述的三坐标测量机上，所述的控制系统控制所述的三坐标测量机运行使用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.三坐标测量机接触式测头微测力采样控制系统，包括三坐标测量机(1)、与所述的三坐标测量机(1)电连接的控制系统(2)、与所述的控制系统(2)电连接的接触式测头(3)，所述的接触式测头(3)安装在所述的三坐标测量机(1)上，其特征是：所述的控制系统(2)控制所述的三坐标测量机(1)运行使用所述的接触式测头(3)获取测量点的方法是：利用所述的接触式测头(3)机械开关的“断开”状态记录所述的接触式测头(3)的测尖接触工件表面时测量点的坐标值(XT0，YT0，Z...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯黎，
申请(专利权)人：北京立科新兴数字化技术有限公司，
类型：发明
国别省市：