一种用于耐过压浪涌器件的测试电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于耐过压浪涌器件的测试电路，包括信号源；信号放大器，信号放大器的信号输入端与信号源连接，信号放大器的信号输出端与被测器件连接，信号放大器设置有用于放大信号的第一光电耦合器U1和第二光电耦合器U2，第一光电耦合器U1和第二光电耦合器U2串联；DC偏置源，DC偏置源的正极与信号放大器的电源电压接口连接，DC偏置源的负极与信号放大器的接地端连接。本申请通过信号源、信号放大器和DC偏置源的灵活配合可输出不同参数的浪涌波形，有利于被测器件性能的调试和改进，通过DC偏置源可使被测器件处于空载状态，不会损坏被测器件的内部元器件的损坏，降低了测试成本。测试成本。测试成本。

【技术实现步骤摘要】
一种用于耐过压浪涌器件的测试电路


[0001]本技术涉及直流电源过压浪涌测试
，具体涉及一种用于耐过压浪涌器件的测试电路。

技术介绍

[0002]浪涌抑制器是一种为各种电子设备、仪器仪表、通讯线路提供安全防护的电子装置。当电气回路或者通信线路中因为外界的干扰突然产生尖峰电流或者电压时，浪涌保护器能在极短的时间内导通分流，从而避免浪涌对回路中其他设备的损害。
[0003]为了保证浪涌抑制器的效果，通常需要对浪涌抑制器进行测试。由于测试设备较为昂贵，通常耐过压浪涌的产品都交由第三方进行测试，而各个厂家的测试设备设置各不相同，测试设备设置的参数差距也较大。在对浪涌抑制器送检的过程中，需要寻找具有相适应的波形参数的厂家进行测试，且第三方测试通常以次数计费，导致耐过压浪涌开发时间花费较长、经费花费也较高。同时，第三方测试时，不便于调试，降低了产品设计开发效率，增加了设计开发成本。按照标准要求进行耐过压浪涌试验时，需要接上负载，在被试件设计存在缺陷时，极易造成被试件内部元器件损坏，造成调试困难、成本增加。
[0004]耐过压浪涌测试电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于耐过压浪涌器件的测试电路，其特征在于，包括：信号源；信号放大器，所述信号放大器的信号输入端与所述信号源连接，所述信号放大器的信号输出端与被测器件连接，所述信号放大器设置有用于放大信号的第一光电耦合器U1和第二光电耦合器U2，所述第一光电耦合器U1和第二光电耦合器U2串联；DC偏置源，所述DC偏置源的正极与所述信号放大器的电源电压接口连接，所述DC偏置源的负极与所述信号放大器的接地端连接。2.根据权利要求1所述的一种用于耐过压浪涌器件的测试电路，其特征在于，所述第一光电耦合器U1和所述第二光电耦合器U2的内部结构相同，在所述第一光电耦合器U1的内部分为输入侧和输出侧，所述输入侧包括第一光电耦合器U1的1引脚、2引脚和3引脚，所述输出侧包括所述第一光电耦合器U1的4引脚、5引脚和6引脚，所述输入侧与所述输出侧之间不相连。3.根据权利要求2所述的一种用于耐过压浪涌器件的测试电路，其特征在于，所述第一光电耦合器U1的1引脚和2引脚之间设置有发光二极管，所述发光二极管的正极连接所述第一光电耦合器U1的1引脚，所述发光二极管的负极连接所述第一光电耦合器U1的2引脚；所述第一光电耦合器U1的4引脚、5引脚和6引脚之间设置有晶体三极管，所述第一光电耦合器U1的5引脚和6引脚之间为所述晶体三极管的基极，所述第一光电耦合器U1的4引脚和所述第一光电耦合器U1的5引脚之间设置有二极管，所述第一光电耦合器U1的4引脚连接所述二极管的正极，所述第一光电耦合器U1的5引脚连接所述二极管的负极。4.根据权利要求3所述的一种用于耐过压浪涌器件的测试电路，其特征在于，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：王型宝，陈兵，李敏，
申请(专利权)人：四川三普科技有限公司，
类型：新型
国别省市：