本实用新型专利技术属于检测技术领域，尤其是一种X射线性能测试装置，针对现有的测试空间敞开，需要伸入装置内部取放材料的问题，现提出如下方案，其包括X射线测试仓和X射线测试仓内部栓接的X射线测试灯组，所述X射线测试仓的底部栓接有底箱，所述底箱的内部转动连接有大斜齿齿轮，所述大斜齿齿轮右侧的齿牙啮合有小斜齿齿轮，通过结构转动可以带动屏蔽盖转动，利用屏蔽盖可以在测试期间对X射线测试仓进行闭合，避免X射线外泄，通过性能测试台可以带动材料升降，利用性能测试台的升降可以带动材料进入X射线测试仓，使用者便无需将手伸入X射线测试仓，利用性能测试台可以带动材料上升，方便取下性能测试台上的材料。下性能测试台上的材料。下性能测试台上的材料。
【技术实现步骤摘要】
一种X射线性能测试装置
[0001]本技术涉及检测
，尤其涉及一种X射线性能测试装置。
技术介绍
[0002]X射线是一种常见的检测光线，常常被用于对人体和各种材料进行扫描，然后经过处理后得到人体或各种材料的性能测试数据，在这过程中需要使用到X射线性能测试装置。
[0003]但是上述技术方案在对进行测试时，由于装置用于盛放材料的空间是敞开式结构，容易导致X射线向外照射，从而提升装置周围环境的辐射值，容易对使用者造成伤害，而且使用者在放入和取出被测试的材料时往往都需要将手伸入装置内部，加上装置内部空间限制，导致使用者的手常常会被装置限制，影响将材料取出。
技术实现思路
[0004]本技术的目的是为了解决现有技术中存在测试空间敞开，需要伸入装置内部取放材料的缺点，而提出的一种X射线性能测试装置。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：
[0006]一种X射线性能测试装置，包括X射线测试仓和X射线测试仓内部栓接的X射线测试灯组，所述X射线测试仓的底部栓接有底箱，所述底箱的内部转动连接有大斜齿齿轮，所述大斜齿齿轮右侧的齿牙啮合有小斜齿齿轮，所述小斜齿齿轮顶部的轴心处栓接有蜗杆，所述蜗杆的顶端贯穿底箱顶部的孔洞并啮合有蜗轮，所述蜗轮的后侧栓接有屏蔽盖，所述底箱内部中端的左侧转动连接有传动齿轮，所述传动齿轮右侧的齿牙啮合有升降齿条，所述升降齿条的顶端贯穿底箱顶部的孔洞并栓接有性能测试台，所述大斜齿齿轮的表面栓接有传动机构，所述传动机构与传动齿轮啮合，通过结构转动可以带动屏蔽盖转动，利用屏蔽盖可以在测试期间对X射线测试仓进行闭合，避免X射线外泄，通过性能测试台可以带动材料升降，利用性能测试台的升降可以带动材料进入X射线测试仓，使用者便无需将手伸入X射线测试仓，利用性能测试台可以带动材料上升，方便取下性能测试台上的材料。
[0007]优选的，所述传动机构包括螺杆、传动块、齿轮盘和小齿轮，所述螺杆的两端均与底箱的内部转动套接，所述螺杆的表面与传动块侧面的螺孔螺纹连接，所述传动块的后侧与底箱的内部滑动连接，所述传动块表面的凸块与齿轮盘后侧的滑孔滑动连接，所述齿轮盘的轴心处与底箱的内部转动连接，所述齿轮盘顶部的齿牙与小齿轮底部的齿牙啮合，所述小齿轮的后侧与大斜齿齿轮的表面栓接。
[0008]进一步地，转动螺杆，螺杆通过轴承与底箱转动设置，让螺杆可以平稳地转动，螺杆可以利用螺纹结构带动传动块移动，传动块通过滑轨与底箱滑动设置，让传动块可以平稳的左右移动，避免传动块出现偏移，传动块的凸块可以在齿轮盘的滑孔中滑动并带动齿轮盘转动，齿轮盘通过轴承与底箱转动设置，让齿轮盘可以平稳地转动，齿轮盘可以带动小齿轮转动，小齿轮可以带动大斜齿齿轮转动。
[0009]优选的，所述小齿轮顶部的齿牙啮合有双纹齿条，所述双纹齿条顶部的齿牙与传
动齿轮底部的齿牙啮合，所述双纹齿条位于升降齿条的后侧。
[0010]进一步的，小齿轮可以带动双纹齿条移动，双纹齿条可以带动传动齿轮转动，双纹齿条和升降齿条的位置设置可以避免移动的双纹齿条与升降齿条产生干扰，升降齿条位于螺杆的前侧，可以避免螺杆与升降齿条之间产生干扰。
[0011]优选的，所述螺杆的右端延伸到底箱的右侧并栓接有手轮，所述齿轮盘包括扇形齿轮和U型架，所述扇形齿轮的底部与U型架的顶部一体加工。
[0012]进一步的，通过手轮可以带动螺杆转动，齿轮盘的U型架与传动块的凸块连接，在传动块左右移动过程中其凸块可以在U型架的内部滑动，让传动块可以带动齿轮盘。
[0013]优选的，所述双纹齿条的底部滑动连接有滑框，所述滑框的后侧与底箱的内部栓接。
[0014]进一步的，滑框通过滑轨与双纹齿条滑动设置，让双纹齿条可以平稳的上下移动，避免双纹齿条出现偏移，让双纹齿条可以始终与传动齿轮连接。
[0015]优选的，所述蜗杆表面的底端与底箱的内部转动套接，所述屏蔽盖的右端与X射线测试仓顶部的右侧铰接，所述升降齿条的表面与底箱顶部的孔洞滑动连接，所述性能测试台位于X射线测试仓的内部并与X射线测试仓滑动连接。
[0016]进一步的，蜗杆通过轴承与底箱转动设置，让蜗杆可以平稳地转动，避免蜗杆出现偏移，屏蔽盖采用铅板材料，屏蔽盖通过支架与X射线测试仓转动设置，让屏蔽盖可以平稳地转动，升降齿条通过滑轨与底箱滑动设置，让升降齿条可以平稳的上下移动，避免升降齿条出现偏移，性能测试台通过滑轨与X射线测试仓滑动设置，让性能测试台可以平稳的上下移动。
[0017]有益效果：
[0018]1、传动机构通过大斜齿齿轮可以带动小斜齿齿轮转动，小斜齿齿轮通过蜗杆可以带动蜗轮转动，蜗轮通过屏蔽盖可以闭合或打开X射线测试仓；
[0019]2、传动机构通过传动齿轮可以带动升降齿条移动，升降齿条通过性能测试台可以带动材料升降，方便取放材料；
[0020]本技术中：通过结构转动可以带动屏蔽盖转动，利用屏蔽盖可以在测试期间对X射线测试仓进行闭合，避免X射线外泄，通过性能测试台可以带动材料升降，利用性能测试台的升降可以带动材料进入X射线测试仓，使用者便无需将手伸入X射线测试仓，利用性能测试台可以带动材料上升，方便取下性能测试台上的材料。
附图说明
[0021]图1为本技术提出的一种X射线性能测试装置的正视结构示意图；
[0022]图2为本技术提出的一种X射线性能测试装置的传动机构结构示意图；
[0023]图3为本技术提出的一种X射线性能测试装置的后视结构示意图；
[0024]图4为本技术提出的一种X射线性能测试装置的大斜齿齿轮立体示意图。
[0025]图中：1、X射线测试仓；2、传动机构；21、螺杆；22、传动块；23、齿轮盘；24、小齿轮；25、双纹齿条；3、X射线测试灯组；4、底箱；5、大斜齿齿轮；6、小斜齿齿轮；7、蜗杆；8、蜗轮；9、屏蔽盖；10、传动齿轮；11、升降齿条；12、性能测试台。
具体实施方式
[0026]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0027]实施例一
[0028]参照图1
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4，一种X射线性能测试装置，包括X射线测试仓1和X射线测试仓1内部栓接的X射线测试灯组3，X射线测试仓1的底部栓接有底箱4，底箱4的内部转动连接有大斜齿齿轮5，大斜齿齿轮5右侧的齿牙啮合有小斜齿齿轮6，小斜齿齿轮6顶部的轴心处栓接有蜗杆7，蜗杆7的顶端贯穿底箱4顶部的孔洞并啮合有蜗轮8，蜗轮8的后侧栓接有屏蔽盖9，底箱4内部中端的左侧转动连接有传动齿轮10，传动齿轮10右侧的齿牙啮合有升降齿条11，升降齿条11的顶端贯穿底箱4顶部的孔洞并栓接有性能测试台12，大斜齿齿轮5的表面栓接有传动机构2，传动机构2与传动齿轮10啮合，传动机构2与底箱4转动连接，X射线测试灯组3采用市本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种X射线性能测试装置，包括X射线测试仓(1)和X射线测试仓(1)内部栓接的X射线测试灯组(3)，其特征在于，所述X射线测试仓(1)的底部栓接有底箱(4)，所述底箱(4)的内部转动连接有大斜齿齿轮(5)，所述大斜齿齿轮(5)右侧的齿牙啮合有小斜齿齿轮(6)，所述小斜齿齿轮(6)顶部的轴心处栓接有蜗杆(7)，所述蜗杆(7)的顶端贯穿底箱(4)顶部的孔洞并啮合有蜗轮(8)，所述蜗轮(8)的后侧栓接有屏蔽盖(9)，所述底箱(4)内部中端的左侧转动连接有传动齿轮(10)，所述传动齿轮(10)右侧的齿牙啮合有升降齿条(11)，所述升降齿条(11)的顶端贯穿底箱(4)顶部的孔洞并栓接有性能测试台(12)，所述大斜齿齿轮(5)的表面栓接有传动机构(2)，所述传动机构(2)与传动齿轮(10)啮合。2.根据权利要求1所述的一种X射线性能测试装置，其特征在于，所述传动机构(2)包括螺杆(21)、传动块(22)、齿轮盘(23)和小齿轮(24)，所述螺杆(21)的两端均与底箱(4)的内部转动套接，所述螺杆(21)的表面与传动块(22)侧面的螺孔螺纹连接，所述传动块(22)的后侧与底箱(4)的内部滑动连接，所述传动块(22)表面的凸块与齿轮盘(23)后侧的滑孔滑动连接，所述齿轮盘(2...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈建，
申请(专利权)人：大连科建无损检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
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