一种降噪功能测试电路、测试装置以及耳机制造方法及图纸

技术编号:36052175 阅读:19 留言:0更新日期:2022-12-21 11:06
本申请属于电路测试技术领域,提供了一种降噪功能测试电路、测试装置以及耳机,其中,降噪功能测试电路应用于耳机中,耳机包括主控芯片和降噪芯片,降噪功能测试电路包括:开关转换模块和插座模块。开关转换模块用于根据降噪测试信号控制主控芯片与降噪芯片的连接状态;插座模块用于在与测试辅助线连接时生成降噪测试信号;开关转换模块还用于根据降噪测试信号控制测试辅助线与降噪芯片之间导通。本申请在对耳机进行测试时不需要拆机,只需要将测试辅助线连接至插座模块即可,然后开关转换模块将测试辅助线与降噪芯片连接进行测试,使得测试工作变的简单快捷,大量减少了测试的工作量。量。量。

【技术实现步骤摘要】
一种降噪功能测试电路、测试装置以及耳机


[0001]本申请属于电路测试
,尤其涉及一种降噪功能测试电路、测试装置以及耳机。

技术介绍

[0002]随着科技的不断发展,人们的生活水平不断提高,在日常生活中,不管在休息、工作或运动时,往往都需要使用到耳机,从而对耳机的性能要求也越来越高,为了让耳机能够提高声音的质量,一般的蓝牙耳机上都会增设降噪的功能,在降噪耳机的生产过程中,需要对降噪模块进行调试,以便确保其降噪能力是否达标。
[0003]由于目前耳机的小型化设计,一般都不会单独设计专门的测试引脚进行测试,都需要将耳机进行拆机,将测试线焊接在相应的测试引脚然后再进行测试,其严重增加了测试工作量。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于提供一种降噪功能测试电路、测试装置以及耳机,旨在解决现有的耳机测试工作繁琐、任务量大的问题。
[0005]本申请实施例的第一方面提了一种降噪功能测试电路,应用于耳机中,所述耳机包括主控芯片和降噪芯片,所述降噪功能测试电路包括:
[0006]开关转换模块,设置于所述主控芯片和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种降噪功能测试电路,应用于耳机中,所述耳机包括主控芯片和降噪芯片,其特征在于,所述降噪功能测试电路包括:开关转换模块,设置于所述主控芯片和所述降噪芯片之间,用于根据降噪测试信号控制所述主控芯片与所述降噪芯片的连接状态;插座模块,分别与所述开关转换模块和测试辅助线连接,用于在与所述测试辅助线连接时生成所述降噪测试信号;其中,所述开关转换模块还用于根据所述降噪测试信号控制所述测试辅助线与所述降噪芯片之间导通。2.如权利要求1所述的降噪功能测试电路,其特征在于,所述开关转换模块包括:开关控制单元,与所述插座模块连接,用于接收所述降噪测试信号,并对所述降噪测试信号进行分压和滤波处理,生成开关控制信号;开关单元,与所述开关控制模块连接,用于根据所述开关控制信号切换所述降噪芯片与所述主控芯片以及所述测试辅助线之间的连接关系。3.如权利要求2所述的降噪功能测试电路,其特征在于,所述开关控制单元包括:第一电阻、第二电阻以及第一电容;其中,第一电阻的第一端与所述插座模块连接,所述第一电阻的第二端与所述第二电阻的第一端共接于所述开关单元的控制引脚,所述第二电阻的第二端与所述第一电容的第一端连接,所述第一电容的第二端接地。4.如权利要求3所述的降噪功能测试电路,其特征在于,所述开关单元包括:模拟开关...

【专利技术属性】
技术研发人员:郭世文吴海全刘冬华杨卉谢光河
申请(专利权)人:深圳市冠旭电子股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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