本申请实施例公开了用于显微镜观察的试样调平装置，包括：下底座，上端具有凸起的点接触结构，点接触结构用于与试样底面点接触；上压板套，具有供试样嵌入的嵌入空间，与下底座可拆卸连接；弹性压件，连接于上压板套上端，部分伸入嵌入空间或嵌入空间上方，沿一竖向轴线环绕排列有至少三个，用于与试样上表面弹性接触。本申请通过试样上表面与多个弹性压件弹性接触，能实现对试样固定；利用试样底面与点接触结构点接触可实现试样的旋转活动，再配合多个弹性压件与试样上表面的多个位置的弹性接触，实现对试样上表面的调平，避免与试样上下表面的面接触，调平效果好，操作简单。操作简单。操作简单。
【技术实现步骤摘要】
用于显微镜观察的试样调平装置
[0001]本申请实施例涉及显微观测领域，尤其涉及用于显微镜观察的试样调平装置。
技术介绍
[0002]随着科技的发展，在生产或科研活动中，常需要利用光学显微镜进行观测。而光学显微镜工作时，需要观察的平面与显微镜镜头垂直时，才能起到比较好的观察效果，为此常需要对试样放置时进行调平。
[0003]现有调平装置通过在试样底下垫一块橡皮泥，然后手压活塞压杆压平试样。为了避免试样上表面中心受到污染，上压板跟试样上表面之间通常需要放一块干净的白纸隔开，操作繁琐且无法彻底避免试样上表面中心受到污染；试样上表面为需要观察的面，通过磨抛非常容易不水平，使得调平效果不佳，可能需要多次调试。
技术实现思路
[0004]本申请实施例提供一种用于显微镜观察的试样调平装置，以至少解决上述技术问题之一。
[0005]本申请实施例是通过以下的技术方案实现的：
[0006]用于显微镜观察的试样调平装置，包括：下底座，上端具有凸起的点接触结构，所述点接触结构用于与试样底面点接触；上压板套，具有供试样嵌入的嵌入空间，与下底座可拆卸连接；弹性压件，连接于上压板套上端，部分伸入嵌入空间或嵌入空间上方，沿一竖向轴线环绕排列有至少三个，用于与试样上表面弹性接触。
[0007]进一步地，所述点接触结构上端具有球面，所述球面的中心位于所述竖向轴线上。
[0008]进一步地，所述下底座上端设有螺纹圆柱，所述螺纹圆柱周壁设有外螺纹，所述嵌入空间周壁设有与螺纹圆柱适配的内螺纹，所述上压板套与螺纹圆柱螺纹连接，所述点接触结构凸起于螺纹圆柱的上端面。
[0009]进一步地，所述弹性压件包括连接部和与连接部连接的弹性接触部，所述连接部与上压板套上端固定连接，所述弹性接触部伸入嵌入空间或嵌入空间上方，所述弹性接触部能相对连接部弹性变形以与试样上表面弹性接触。
[0010]进一步地，所述弹性接触部相对连接部朝下弯折设置。
[0011]进一步地，所述弹性接触部外端朝上弯曲翘起。
[0012]进一步地，所述上压板套上端面具有供连接部嵌入的嵌槽。
[0013]进一步地，所述连接部与嵌槽内壁设有对应的孔位以通过紧固件连接固定。
[0014]进一步地，所述连接部与嵌槽内壁通过焊接连接固定。
[0015]进一步地，所述连接部与嵌槽的宽度适配。
[0016]有益效果是：
[0017]与现有技术相比，本申请实施例的用于显微镜观察的试样调平装置，通过试样上表面与多个弹性压件弹性接触，能实现对试样固定；利用试样底面与点接触结构点接触可
实现试样的旋转活动，再配合多个弹性压件与试样上表面的多个位置的弹性接触，实现对试样上表面的调平，避免与试样上下表面的面接触，调平效果好，操作简单；且不需要借助白纸将试样隔开，多个弹性压件接触在试样周侧，避免污染试样的中心区域。
附图说明
[0018]以下结合附图对本申请实施例的具体实施方式作进一步的详细说明，其中：
[0019]图1为本申请实施例的用于显微镜观察的试样调平装置的内部剖视图；
[0020]图2为本申请实施例的用于显微镜观察的试样调平装置的分解状态结构示意图；
[0021]图3为本申请实施例的上压板套、弹性压件的分解状态结构示意图；
[0022]图4为本申请实施例的弹性压件的结构示意图。
具体实施方式
[0023]为了使本领域技术人员更好地理解本申请实施例的技术方案，下面结合附图对本申请实施例进行详细描述，本部分的描述仅是示范性和解释性，不应对本申请实施例的保护范围有任何的限制作用。
[0024]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。
[0025]需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，或者是本申请实施例的产品使用时惯常摆放的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请实施例的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
[0026]此外，术语“水平”、“竖直”、“悬垂”等术语并不表示要求部件绝对水平或悬垂，而是可以稍微倾斜。如“水平”仅仅是指其方向相对“竖直”而言更加水平，并不是表示该结构一定要完全水平，而是可以稍微倾斜。
[0027]在本申请实施例的描述中，还需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“设置”、“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本申请实施例中的具体含义。
[0028]如图1至图2所示，本技术提供的用于显微镜观察的试样调平装置，包括下底座100、上压板套200、弹性压件300。用于对试样400进行调平，然后再放到显微镜上进行观测。
[0029]下底座100上端具有凸起的点接触结构110，点接触结构110用于与试样400底面点接触，使得实现试样400能旋转活动，提供调平的自由度。
[0030]上压板套200具有供试样400嵌入的嵌入空间201，上压板套200与下底座100可拆卸连接；弹性压件300连接于上压板套200上端，弹性压件300部分伸入嵌入空间201或嵌入空间201上方，弹性压件300沿一竖向轴线环绕排列有至少三个，用于与试样400上表面弹性
接触。在本实施例中，弹性压件300部分伸入嵌入空间201，弹性压件300均匀环绕排列有三个。
[0031]本技术提供的用于显微镜观察的试样调平装置，通过试样400上表面与多个弹性压件300弹性接触，能实现对试样固定；利用试样400底面与点接触结构110的点接触可实现试样400的旋转活动，再配合多个弹性压件300与试样400上表面的多个位置的弹性接触，实现对试样400上表面的调平，且避免与试样400上下表面的面接触，调平效果好，操作简单；且不需要借助白纸将试样隔开，多个弹性压件300接触在试样周侧，避免污染试样的中心区域。
[0032]一种可能的实施例，点接触结构110上端具有球面，球面的中心位于竖向轴线上，试样400底面可沿球面进行一定范围的旋转活动。可避免试样400底面不平而导致的调平误差。当然，在其他实施例中，点接触结构110上端也可以是锥顶结构。
[0033]一种可能的实施例，下底座100上端设有螺纹圆柱120，螺纹圆柱120周壁设有外螺纹，嵌入空间201周壁设有与螺纹圆柱120适配的内螺纹，上压板套200与螺纹圆本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.用于显微镜观察的试样调平装置，其特征在于包括：下底座(100)，上端具有凸起的点接触结构(110)，所述点接触结构(110)用于与试样(400)底面点接触；上压板套(200)，具有供试样(400)嵌入的嵌入空间(201)，与下底座(100)可拆卸连接；弹性压件(300)，连接于上压板套(200)上端，部分伸入嵌入空间(201)或嵌入空间(201)上方，沿一竖向轴线环绕排列有至少三个，用于与试样(400)上表面弹性接触。2.根据权利要求1所述的用于显微镜观察的试样调平装置，其特征在于：所述点接触结构(110)上端具有球面，所述球面的中心位于所述竖向轴线上。3.根据权利要求2所述的用于显微镜观察的试样调平装置，其特征在于：所述下底座(100)上端设有螺纹圆柱(120)，所述螺纹圆柱(120)周壁设有外螺纹，所述嵌入空间(201)周壁设有与螺纹圆柱(120)适配的内螺纹，所述上压板套(200)与螺纹圆柱(120)螺纹连接，所述点接触结构(110)凸起于螺纹圆柱(120)的上端面。4.根据权利要求1所述的用于显微镜观察的试样调平装置，其特征在于：所述弹性压件(300)包括连接部(310)和与连接部(310)...
【专利技术属性】
技术研发人员：彭德民，吕闯，谢高峰，王馨郁，田谱，禹林，何祖海，刘托剑，张聪，
申请(专利权)人：湖南中机申亿检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。