基于T-CON板的多模块烧录方法及系统技术方案

本发明专利技术公开一种基于T

【技术实现步骤摘要】
基于T
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CON板的多模块烧录方法及系统


[0001]本专利技术涉及T
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CON板领域，特别是涉及一种基于T
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CON板的多模块烧录 方法及系统。

技术介绍

[0002]大多数产品，都需要对各个模块IC进行软件烧录，才可以达到正常硬件效 果。目前，在生产过程中只能对各个模块实现各种不同功能的IC进行逐一烧录， 过程比较繁琐，而且因为每个IC都会对应不同的烧录工具，等到产品量产时就 会经过诸多道烧录工序。生产工序增多，必定会增加生产成本：烧录工具消耗、 需要耗费更多的人力等等，并且会增加烧写失败的概率。
[0003]对于模块化的产品，往往需要对各个模块进行单独烧录，以实现整体硬件 功能。模块越多，过程就越长，便需要投入更多精力来实现。整个T
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CON板， 包含了PWM、Gamma、Level Shifter以及Tcon四个主要模块，我们需要对四个 模块都写入程序，共同实现Tcon板的显示驱动功能。在以前我们进行烧录时会 有四个程序文件，对应四个不同的烧录工具，对四个IC分别进行烧录，这是相 当繁琐的，因为它们之间都是一一对应的关系，无法保证在这样的过程中不会 出现错误。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种基于T
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CON板的多 模块烧录方法及系统，可以有效地降低了烧录难度，降低成本，增强产品在市 场上争取优势。还可以同时烧录整个产品所有模块IC的方法，避免了繁杂的烧 录过程，让机器来完成这部分工作，效率更高，并且保证了正确率。
[0005]本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：
[0006]本专利技术提供一种基于T
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CON板的多模块烧录方法，包括如下步骤：
[0007]将合并程序烧录入Tcon主模块的存储器中；
[0008]读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序并且分别与各 对应模块的程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述预设程序写入对应模块 中；
[0009]当所有模块的程序都被写入时，则烧录完成。
[0010]优选的，所述读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序 并且分别与各对应模块的程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述预设程序 写入对应模块中的具体步骤包括：
[0011]S210、读取模块A中的第一程序，获取合并程序中的第一预设程序并与第 一程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述第一预设程序写入模块A中；
[0012]S220、读取模块B中的第二程序，获取合并程序中的第二预设程序并与第 二程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述第二预设程序写入模块B中；
[0013]S230、读取模块B中的第三程序，获取合并程序中的第三预设程序并与第 三程序
进行CRC校验，若校验失败，则将所述第三预设程序写入模块C中。
[0014]优选的，所述模块A、所述模块B和所述模块C分别是电源模块、灰度调 节模块和电平转换模块三者的任意组合。
[0015]优选的，所述Tcon主模块分别与所述模块A、所述模块B和所述模块C连 接。
[0016]优选的，所述Tcon主模块通过I2C控制线分别与所述模块A、所述模块B 和所述模块C连接。
[0017]优选的，所述读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序 并且分别与各对应模块的程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述预设程序 写入对应模块中，包括：
[0018]读取各模块的程序，进行CRC校验，若校验失败，则重复校验有效次数， 若同样都是校验失败，则将所述预设程序写入对应模块中；
[0019]若其中一次校验成功，则执行另一模块的烧写步骤。
[0020]优选的，所述重复校验有效次数为n次，其中n为正整数。
[0021]优选的，所述将所述预设程序写入对应模块中，包括：
[0022]获取模块的地址信息，根据所述地址信息读取预设程序，将所述预设程序 写入对应模块中。
[0023]优选的，所述地址信息包括存储地址和通讯地址。
[0024]本专利技术还提供一种基于T
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CON板的多模块烧录系统，包括以上所述的多模 块烧录方法，所述系统还包括：
[0025]预烧录模块，用于将合并程序烧录入Tcon主模块的存储器中；
[0026]写入模块，用于读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程 序并且分别与各对应模块的程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述预设程 序写入对应模块中；
[0027]检测模块，用于检测当所有模块的程序都被写入时，则烧录完成。
[0028]本专利技术相比于现有技术的优点及有益效果如下：
[0029]本专利技术为一种基于T
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CON板的多模块烧录方法及系统，通过将合并程序烧 录入Tcon主模块的存储器中，再读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对 应的预设程序并且分别与各对应模块的程序进行CRC校验，若校验失败，从而 可以将所述预设程序写入对应模块中，进而可以有效地降低了烧录难度，降低 成本，增强产品在市场上争取优势。本专利技术的方法可以同时烧录整个产品所有 模块IC的方法，避免了繁杂的烧录过程，让机器来完成这部分工作，效率更高， 并且保证了正确率。
附图说明
[0030]图1为本专利技术一实施方式的基于T
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CON板的多模块烧录方法的流程图；
[0031]图2为本专利技术另一实施方式的基于T
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CON板的多模块烧录方法的流程图；
[0032]图3为本专利技术一实施方式的基于T
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CON板的多模块烧录系统的模块图；
[0033]图4为多模块的code合并成一个code的模块示意图。
具体实施方式
[0034]为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。 附图中
给出了本专利技术的较佳实施方式。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来 实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是 使对本专利技术的公开内容理解的更加透彻全面。
[0035]请参阅图1～图3，本专利技术提供一种基于T
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CON板的多模块烧录方法，包括 如下步骤：
[0036]S100、将合并程序烧录入Tcon主模块的存储器中；需要说明的是，我们要 将需要的相关程序合并烧写进Tcon Flash中，Tcon在上电后，将对应的IC数据 从Tcon Falsh搬运到IC各自的寄存器或NVM中。
[0037]S200、读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序并且分 别与各对应模块的程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述预设程序写入对 应模块中；需要说明的是，Tcon不会直接对PMIC进行烧写，会先进行一次比 对，把PWM_IC原有的Code读取出本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于T
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CON板的多模块烧录方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：将合并程序烧录入Tcon主模块的存储器中；读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序并且分别与各对应模块的程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述预设程序写入对应模块中；当所有模块的程序都被写入时，则烧录完成。2.根据权利要求1所述的基于T
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CON板的多模块烧录方法，其特征在于，所述读取各模块的程序，获取合并程序中各模块对应的预设程序并且分别与各对应模块的程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述预设程序写入对应模块中的具体步骤包括：S210、读取模块A中的第一程序，获取合并程序中的第一预设程序并与第一程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述第一预设程序写入模块A中；S220、读取模块B中的第二程序，获取合并程序中的第二预设程序并与第二程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述第二预设程序写入模块B中；S230、读取模块B中的第三程序，获取合并程序中的第三预设程序并与第三程序进行CRC校验，若校验失败，则将所述第三预设程序写入模块C中。3.根据权利要求2所述的基于T
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CON板的多模块烧录方法，其特征在于，所述模块A、所述模块B和所述模块C分别是电源模块、灰度调节模块和电平转换模块三者的任意组合。4.根据权利要求2或3所述的基于T
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CON板的多模块烧录方法，其特征在于，所述Tcon主模块分别与所述模块A、所述模块B和所述模块C连接。5.根据权利要求4所述的基于T
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CON板的多模块烧录方法...

【专利技术属性】
技术研发人员：张仲博，杨熙，彭威臣，苏俊杰，
申请(专利权)人：惠州高盛达光显技术有限公司，
类型：发明
国别省市：